[發明專利]一種圖像匹配方法和裝置

有效

• 申請號: 201310374229.7
• 申請日: 2013-08-23
• 公開（公告）號: CN103473565B
• 公開（公告）日: 2017-04-26
• 發明（設計）人: 李靜;馮琦
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06K9/62
• 分類號: G06K9/62
• 代理公司: 深圳市深佳知識產權代理事務所(普通合伙)44285
• 代理人: 唐華明

1.一種圖像匹配方法，其特征在于，包括：

獲取從第一圖像與第二圖像中匹配出的初始特征點集合，其中，所述初始特征點集合中包括多對特征點對，每對所述特征點對包括分別來自所述第一圖像和第二圖像的兩個特征點，且所述兩個特征點具有匹配關系；

依次基于每對所述特征點對的匹配關系，確定所述第一圖像中預設的參考點在所述第二圖像中的投影點，得到多個投影點；

從所述多個投影點中，確定與所述第二圖像中投影點最密集的第一位置的距離大于預設閾值的至少一個第一投影點；

從所述初始特征點集合中去除所述第一投影點對應的特征點對；

根據所述初始特征點集合中剩余的特征點對進行變換模型參數估計，并根據估計出的變換模型參數，確定所述第一圖像和所述第二圖像的匹配關系。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述依次基于每對所述特征點對的匹配關系，確定所述第一圖像中預設的參考點在所述第二圖像中的投影點，包括：

獲取所述每對特征點對中的第一特征點和第二特征點的特征點信息，其中，所述第一特征點為所述第一圖像中的特征點，所述第二特征點為第二圖像中的特征點；所述特征點信息包括：特征點在所屬圖像中的位置、尺度和主方向；

基于所述第一特征點與所述第二特征點的匹配關系，并依據所述第一特征點和第二特征點的特征點信息以及所述參考點在所述第一圖像中的位置，確定所述參考點在所述第二圖像中的投影點。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一特征點與所述第二特征點的匹配關系，并依據所述第一特征點和第二特征點的特征點信息以及所述參考點在所述第一圖像中的位置，確定所述參考點在所述第二圖像中的投影點，包括：

根據所述第一特征點的特征點信息，計算所述第一特征點與所述參考點的第一距離，以及所述第一特征點到所述參考點的矢量方向與所述第一特征點的主方向之間的夾角；

根據所述第一特征點的尺度和第二特征點的尺度，計算第二特征點相對第一特征點的尺度縮放因子；

基于所述第一特征點與第二特征點的匹配關系，并根據所述第二特征點的位置、所述第二特征點的主方向、所述第一特征點到所述參考點的矢量方向與所述第一特征點的主方向之間的夾角、所述第一距離以及所述尺度縮放因子，計算所述參考點在所述第二圖像中的投影點的位置。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一特征點與第二特征點的匹配關系，并根據所述第二特征點的位置、所述第二特征點的主方向、所述第一特征點到所述參考點的矢量方向與所述第一特征點的主方向之間的夾角、所述第一距離以及所述尺度縮放因子，計算所述參考點在所述第二圖像中的投影點的位置，包括：

通過如下方式，計算所述參考點在所述第二圖像中的投影點的位置P(X_r,kj,Y_r,kj)：

X_r,kj＝x_kj+S_ri,kj*d_r,ri*cos(w_kj+Δφ_r,ri)；

Y_r,kj＝y_kj+S_ri,kj*d_r,ri*sin(w_kj+Δφ_r,ri)；

其中，x_kj,y_kj分別為所述第二特征點在所述第二圖像中的橫坐標和縱坐標；S_ri,kj為所述尺度縮放因子；d_r,ri為所述第一距離；w_kj為所述第二特征點的主方向；Δφ_r,ri為所述第一特征點到所述參考點的矢量方向與所述第一特征點的主方向之間的夾角。

5.根據權利要求1至4任一項所述的方法，其特征在于，所述從所述多個投影點中，確定與所述第二圖像中投影點最密集的第一位置的距離大于預設閾值的至少一個第一投影點，包括：

統計所述第二圖像中各個坐標位置處的投影點個數，并利用核密度估計方法，分別計算所述第二圖像中各個坐標位置處指定核窗寬內的密度，確定密度最大值所在的第一位置。