[發明專利]試劑檢測集成芯片

有效

• 申請號: 201310371462.X
• 申請日: 2013-08-23
• 公開（公告）號: CN103513045A
• 公開（公告）日: 2014-01-15
• 發明（設計）人: 蔡忠憲;鄒炳德;蔡曉忠;鄒繼華;周海濱;沃燕波;張桂春
• 申請（專利權）人: 寧波美康保生生物醫學工程有限公司
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00;B01L3/00
• 代理公司: 寧波市鄞州甬致專利代理事務所(普通合伙) 33228
• 代理人: 代忠炯

技術領域：

本發明涉及分析檢測領域，具體地說涉及一種試劑檢測集成芯片。?

背景技術：

試劑檢測集成芯片在生物醫學分析、疾病診斷、環境檢測以及食品與藥品安全等領域有著廣泛應用。但現有技術中的試劑檢測集成芯片在實際使用過程中還存在一些缺陷：如稀釋液定量槽與樣本槽的體積比過小，使得樣本用量較大，抗干擾性能相對較差，線性范圍窄，而且現有試劑檢測集成芯片的底面為平面，使用時，操作員的手或者其他物品有時會與底面接觸，然后在底面留有污漬，尤其是污漬在檢測槽的正下方時，會影響檢測槽的透光度，導致最終的檢測結果不準確。?

發明內容：

為解決上述的技術問題，本發明提供一種樣品用量少、抗干擾性能強的試劑檢測集成芯片。?

本發明的技術方案是，提供一種具有以下結構的試劑檢測集成芯片，它包括盤體，盤體上設有稀釋液定量槽、樣本槽、一組檢測槽以及樣本定量槽，所述的稀釋液定量槽與樣本定量槽的容積比為：15:1～25:1，所述的檢測槽的底部設有凹陷。?

所述的稀釋液定量槽與樣本定量槽的容積比為：20:1。?

所述的各個檢測槽與凹陷之間的壁厚相同。?

檢測槽底部相鄰的凹陷之間還設有隔槽。?

采用上述結構后，本發明具有以下優點：?

增加稀釋液定量槽和樣本定量槽的容積比，有利于降低樣品的使用量，而在樣本槽的底面設置凹陷結構是為了避免樣本槽的底面與其他物品接觸沾染污漬，樣本槽的透光度就比較好，提高檢測準確度，在分析檢測時受到的干擾就小，有利于提高檢測結果的準確性和可靠性，光線在照射樣本槽時由于樣本槽和凹陷之間的分割壁的存在使得光線發生折射，折射后的光線極易射到相鄰的樣本槽內，對其他樣本槽的照射光發生干涉，影響對其他樣本槽中樣品的檢測，而設置隔槽之后就可以使光線在隔槽側壁發生折射，不會射到相鄰的樣本槽內，不會對其他樣本槽造成干涉，不影響對樣品的檢測結果。?

附圖說明：

圖1為本發明試劑檢測集成芯片的正面視圖；?

圖2為本發明試劑檢測集成芯片的背面視圖。?

具體實施方式：

下面結合附圖及具體實施例對本發明作進一步說明。?

如圖1、圖2所示，本發明試劑檢測集成芯片，它包括盤體1，盤體1上設有稀釋液定量槽2、樣本槽3、一組檢測槽（4）以及樣本定量槽5，因試劑檢測集成芯片在行業里比較常見，應用也比較廣泛，以上這些結構的功能與其他常見的試劑檢測集成芯片中的功能類似，這里不做過多的具體描述。?

本發明與常見的試劑檢測集成芯片不同之處在于：所述的稀釋液定量槽2與樣本定量槽5的容積比為：15:1～25:1，所述的檢測槽4的底部設有凹陷6。?

擴大容積比有利于提高樣品的應用效率，較低樣品的用量，而設置凹陷6的目的是在使用時避免樣本槽4的正下方與其他物體或者軀體接觸收到污染，保證樣本槽4底部清潔，有利于提高檢測結果的準確性。?

作為優選方案，本例中將稀釋液定量槽2與樣本定量槽5的容積比選定為：20:1。?

所述的各個檢測槽4與凹陷6之間的壁厚相同。此結構可以保證各個樣本槽4具有相同的透光效果，各個樣本槽4各自獨立，互不干涉。?

作為進一步的改進措施，在檢測槽4底部相鄰的凹陷6之間還設有隔槽7。在工作時，會有零散的光線在樣本槽的底部會發生折射射向相鄰的樣本槽4，而隔槽7可以將這個零散光線的折射線再次折射，這樣就不會對相鄰的樣本槽4造成干涉，避免對檢測結果造成不利影響。?