[發明專利]測量儀器線激光測頭校準系統及方法

在審

• 申請號: 201310369879.2
• 申請日: 2013-08-22
• 公開（公告）號: CN104422399A
• 公開（公告）日: 2015-03-18
• 發明（設計）人: 張滋;徐韋;陳斌;屈保鋒
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種測量儀器校準的系統及方法，尤其涉及一種測量儀器線激光測頭校準系統及方法。

背景技術

目前測量儀器利用線激光測頭測量待測物體時，一個線激光測頭只能測量到該待測物體的一個表面的輪廓數據，對于同時需要測量待測物體的兩個表面的輪廓數據而得到待測物體的測量值（例如需要得到待測物體的厚度）則不能實現。當采用兩個線激光測頭測量待測物體兩個表面時，由于兩個線激光測頭安裝角度的不一致以及兩個線激光測頭規格的不一致，可能會造成待測物體測得的輪廓之間存在誤差，使得待測物體的測量值出現偏差。

發明內容

鑒于以上內容，有必要提供一種測量儀器線激光測頭校準系統，可以對兩個線激光測頭測量得到的輪廓數據進行校準。

還有必要提供一種測量儀器線激光測頭校準方法，可以對兩個線激光測頭測量得到的輪廓數據進行校準。

一種測量儀器線激光測頭校準系統，運行于測量儀器中，該測量儀器安裝有第一線激光測頭和第二線激光測頭，所述系統包括：第一測量模塊，用于利用第一線激光測頭和第二線激光測頭對第一標準件進行測量，并獲取第一線激光測頭和第二線激光測頭測得的該第一標準件的輪廓數據；第一計算模塊，用于利用第一線激光測頭測量第一標準件得到的輪廓數據和第二線激光測頭測量該第一標準件得到的輪廓數據，計算第一線激光測頭和第二線激光測頭之間的傾角值；第二測量模塊，用于利用第一線激光測頭和第二線激光測頭對第二標準件進行測量，并獲取第一線激光測頭和第二線激光測頭測量第二標準件所得到的第二標準件的輪廓數據；第二計算模塊，用于根據第一線激光測頭和第二線激光測頭測量所述第二標準件的輪廓數據，計算出第一線激光測頭和第二線激光測頭的位差值和間距值；獲取模塊，用于設置第一線激光測頭測得的所述第一標準件的輪廓數據為基準，根據所述第一線激光測頭和第二線激光測頭的傾角值、位差值及間距值校準第二線激光測頭測量第一標準件的輪廓數據，并根據第一線激光測頭測得的輪廓數據和校準后的第二線激光測頭測得的輪廓數據得到該第一標準件的測量值；及第三計算模塊，用于根據所述第一標準件的測量值與該第一標準件的標準值計算精度補償值。

一種測量儀器線激光測頭校準方法，運行于測量儀器中，該測量儀器安裝有第一線激光測頭和第二線激光測頭，該方法包括：第一測量步驟，利用第一線激光測頭和第二線激光測頭對第一標準件進行測量，并獲取第一線激光測頭和第二線激光測頭測得的該第一標準件的輪廓數據；第一計算步驟，利用第一線激光測頭測量第一標準件得到的輪廓數據和第二線激光測頭測量該第一標準件得到的輪廓數據，計算第一線激光測頭和第二線激光測頭之間的傾角值；第二測量步驟，利用第一線激光測頭和第二線激光測頭對第二標準件進行測量，并獲取第一線激光測頭和第二線激光測頭測量第二標準件所得到的第二標準件的輪廓數據；第二計算步驟，根據第一線激光測頭和第二線激光測頭測量所述第二標準件的輪廓數據，計算出第一線激光測頭和第二線激光測頭的位差值和間距值；獲取步驟，設置第一線激光測頭測得的所述第一標準件的輪廓數據為基準，根據所述第一線激光測頭和第二線激光測頭的傾角值、位差值及間距值校準第二線激光測頭測量第一標準件的輪廓數據，并根據第一線激光測頭測得的輪廓數據和校準后的第二線激光測頭測得的輪廓數據得到該第一標準件的測量值；及第三計算步驟，根據所述第一標準件的測量值與該第一標準件的標準值計算精度補償值。

相較于現有技術，所述測量儀器線激光測頭校準系統及方法，在測量儀器上安裝了兩個線激光測頭，實現同時量測待測物體的兩個表面的輪廓數據，并對兩個線激光測頭之間的誤差進行校準，使得兩個線激光測頭相互配合測量物體，使得測量的輪廓數據更加精確。

附圖說明

圖1是本發明測量儀器線激光測頭校準系統較佳實施例的運行環境圖。

圖2是本發明測量儀器線激光測頭校準系統較佳實施例的功能模塊圖。

圖3是本發明測量儀器線激光測頭校準方法較佳實施例的作業流程圖。

圖4是本發明中第一標準件的輪廓數據測量示意圖。

圖5是本發明中第二標準價的輪廓數據測量示意圖。

圖6是本發明中校準第二線激光測頭測量第一標準件得到的輪廓數據的較佳實施例示意圖。

主要元件符號說明

如下具體實施方式將結合上述附圖進一步說明本發明。

具體實施方式