[發(fā)明專利]ITO線路圖案及其測(cè)試方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310369858.0 | 申請(qǐng)日: | 2013-08-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103439622A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-12-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王剛;文開(kāi)福 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江西合力泰科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/02 | 分類號(hào): | G01R31/02 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 343700 江西省泰和*** | 國(guó)省代碼: | 江西;36 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | ito 線路 圖案 及其 測(cè)試 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于觸摸屏技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種ITO線路圖案及其測(cè)試方法。
背景技術(shù)
目前,業(yè)界對(duì)ITO線路圖案進(jìn)行測(cè)試時(shí),是用探針來(lái)對(duì)ITO線路圖案的出線端進(jìn)行壓測(cè),由于探針很難找到出線端的測(cè)試點(diǎn),導(dǎo)致測(cè)試不準(zhǔn)確,測(cè)試效率也低。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種測(cè)試準(zhǔn)確和測(cè)試效率高的ITO線路圖案及其測(cè)試方法。
本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的,一種ITO線路圖案,所述ITO線路圖案兩端的每個(gè)出線端分別絲印有一銀膠點(diǎn)。
本發(fā)明還提供了一種ITO線路圖案的測(cè)試方法,首先在ITO線路圖案兩端的每個(gè)出線端分別絲印銀膠,形成多個(gè)銀膠點(diǎn),當(dāng)需要對(duì)ITO線路圖案進(jìn)行測(cè)試時(shí),使測(cè)試設(shè)備的兩探針?lè)謩e與ITO線路圖案兩端的多個(gè)銀膠點(diǎn)接觸,以對(duì)ITO線路圖案進(jìn)行測(cè)試。
本發(fā)明通過(guò)在ITO線路圖案兩端的每個(gè)出線端分別絲印銀膠點(diǎn),從而可以清楚地識(shí)別出每條線路的具體位置,檢測(cè)時(shí),以便于測(cè)試設(shè)備的探針與銀膠點(diǎn)接觸來(lái)檢測(cè),避免了用探針來(lái)對(duì)ITO線路圖案的出線端進(jìn)行壓測(cè),從而提高了ITO線路圖案測(cè)試的準(zhǔn)確性和測(cè)試效率。
附圖說(shuō)明
為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見(jiàn)地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的ITO線路圖案的示意圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。
如圖1所示,本發(fā)明實(shí)施例提供的一種ITO線路圖案1,該ITO線路圖案1兩端的每個(gè)出線端分別絲印有一銀膠點(diǎn)11。
本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種ITO線路圖案1的測(cè)試方法,首先在ITO線路圖案1兩端的每個(gè)出線端分別絲印銀膠,形成多個(gè)銀膠點(diǎn)11,當(dāng)需要對(duì)ITO線路圖案1進(jìn)行測(cè)試時(shí),使測(cè)試設(shè)備(未示出)的兩探針(未示出)分別與ITO線路圖案1兩端的多個(gè)銀膠點(diǎn)11接觸,以對(duì)ITO線路圖案1進(jìn)行測(cè)試,來(lái)測(cè)試ITO線路圖案1是否存在斷路或短路等現(xiàn)象。
本發(fā)明通過(guò)在ITO線路圖案1兩端的每個(gè)出線端分別絲印銀膠點(diǎn)11,從而可以清楚地識(shí)別出每條線路的具體位置,檢測(cè)時(shí),以便于測(cè)試設(shè)備的探針與銀膠點(diǎn)11接觸來(lái)檢測(cè),避免了用探針來(lái)對(duì)ITO線路圖案1的出線端進(jìn)行壓測(cè),從而提高了ITO線路圖案1測(cè)試的準(zhǔn)確性和測(cè)試效率。
以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō),在不脫離本發(fā)明原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾,這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





