[發(fā)明專利]一種晶體硅片的制絨設(shè)備及制絨工藝方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310369031.X | 申請日: | 2013-08-22 |
| 公開(公告)號: | CN103441070A | 公開(公告)日: | 2013-12-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鄧建華;左國軍 | 申請(專利權(quán))人: | 常州捷佳創(chuàng)精密機械有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/306 | 分類號: | H01L21/306;H01L31/18 |
| 代理公司: | 深圳市康弘知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44247 | 代理人: | 胡朝陽;孫潔敏 |
| 地址: | 213125 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 晶體 硅片 設(shè)備 工藝 方法 | ||
1.一種晶體硅片的制絨設(shè)備,包括主槽槽組、副槽槽組、烘干處理系統(tǒng)、傳動系統(tǒng)和控制系統(tǒng),所述的主槽槽組包括依次設(shè)置的混酸制絨槽、噴淋水洗槽、堿制絨槽、噴淋水洗槽、酸處理槽、噴淋水洗槽,其特征在于:所述的混酸制絨槽、堿制絨槽和酸處理槽均采用雙層槽結(jié)構(gòu),其包括下槽、由下槽槽底向上伸出并高出其頂端的上槽,所述上槽的長、寬均小于下槽的長、寬。
2.如權(quán)利要求1所述晶體硅片的制絨設(shè)備,其特征在于:所述的主槽槽組中相鄰的槽之間均設(shè)有密封結(jié)構(gòu)。
3.如權(quán)利要求1所述晶體硅片的制絨設(shè)備,其特征在于:所述的混酸制絨槽、堿制絨槽和酸處理槽均設(shè)置有自動補液系統(tǒng);所述的堿制絨槽還設(shè)置有在線加熱及槽外循環(huán)系統(tǒng)。
4.如權(quán)利要求1所述晶體硅片的制絨設(shè)備,其特征在于:所述的自動補液系統(tǒng)包括依次連接的進液管、補液桶、補液管;進、補液管上分別設(shè)置有與所述控制系統(tǒng)連接的進、補液控制閥,所述的補液桶內(nèi)設(shè)有超聲波液位儀,其一端從補液桶中伸出并與控制系統(tǒng)連接;所述的補液控制閥包括一對相并聯(lián)的精補閥和粗補閥。
5.如權(quán)利要求1所述晶體硅片的制絨設(shè)備,其特征在于:所述的在線加熱及槽外循環(huán)系統(tǒng)包括加熱組件、循環(huán)泵;所述的加熱組件包括一導(dǎo)磁且耐腐蝕的加熱桶、纏繞于加熱桶外層的感應(yīng)線圈,和與感應(yīng)線圈端頭連接的電磁控制器;所述的加熱桶外壁設(shè)有一層保溫棉,所述的感應(yīng)線圈纏繞在保溫棉外層;所述的加熱桶、循環(huán)泵與一副槽通過管路依次連接形成循環(huán)回路;
所述的在線加熱及槽外循環(huán)系統(tǒng)還包括一設(shè)于堿制絨槽中的溫度檢測儀,該溫度檢測儀連接所述控制系統(tǒng),控制系統(tǒng)發(fā)送信號至所述電磁控制器,電磁控制器接收所述信號并控制所述加熱組件開啟或關(guān)閉。
6.如權(quán)利要求1所述晶體硅片的制絨設(shè)備,其特征在于:所述的密封結(jié)構(gòu)包括設(shè)于主槽槽體兩側(cè)壁頂部的封板,設(shè)于相鄰兩封板上的蓋板;所述的封板向槽體外側(cè)傾斜,所述的蓋板為倒V字形;所述的蓋板與封板之間還設(shè)有密封條,所述的蓋板、密封條和封板通過螺釘形成緊密連接。
7.如權(quán)利要求1所述晶體硅片的制絨設(shè)備,其特征在于:所述的主槽中設(shè)有擋水組件,包括固定于槽體底板的固定板,和安裝在固定板上的可上下滑動的擋水板,還包括固定在槽體側(cè)板上的邊板;所述固定板與邊板、擋水板貼合安裝,所述邊板的側(cè)邊與固定板、擋水板之間設(shè)有間隙;
所述的擋水組件還包括安裝在所述擋水板外側(cè)的高度調(diào)節(jié)裝置,該裝置上端橫向伸出一卡件,頂部設(shè)有一手柄;所述的擋水板上設(shè)有與所述卡件配合的調(diào)節(jié)孔;
所述的邊板為一直角彎折板,其上一彎折面與所述固定板貼合;
所述的固定板頂端設(shè)有凹槽,凹槽的長度小于所述擋水板的長度。
8.一種晶體硅片的制絨工藝方法,其特征在于包括以下步驟:
步驟1:首先將硅片置于溫度控制在10℃-12℃,體積濃度在6-7?%的HF和37-40%的HNO3的混合溶液中浸泡1-1.5分鐘,進行酸腐蝕處理,達到對硅片背面去PSG的目的;?
步驟2:將酸腐蝕后的硅片隨即流轉(zhuǎn)至12-16MΩ·cm純水中以噴淋的方式進行清洗,以盡量降低酸液在硅片表面的附著為目的;
步驟3:再將硅片放入溫度控制在70-80℃,體積濃度在13-18%的TMAH(四甲基氫氧化銨)溶液中進行2-3分鐘的堿腐蝕處理,經(jīng)此工藝可將硅片背面反射率提高到40%以上,從而達到對硅片背面進行拋光目的;
步驟4:將堿腐蝕后的硅片也隨即流轉(zhuǎn)至12-16MΩ·cm純水中以噴淋的方式進行清洗,以盡量降低堿液在硅片表面的附著為目的;
步驟5:然后將硅片流轉(zhuǎn)至體積濃度在8-10%的HF溶液中浸泡1-1.5分鐘,進行酸腐蝕處理,達到對硅片正面去PSG的目的;?
步驟6:將酸洗后的硅片隨即流轉(zhuǎn)至12-16MΩ·cm純水中以噴淋的方式進行清洗,以盡量降低酸液和硅片表面附著物為目的;
步驟7:將以上處理過的硅片進行干燥處理,保證硅片表面無水跡,以利于硅片進入后面的生產(chǎn)流程。
9.如權(quán)利要求8所述晶體硅片的制絨工藝方法,其特征在于:步驟1、3、5中均采用所述的自動補液系統(tǒng)補充對應(yīng)的溶液,以保證溶液的適當配比。
10.如權(quán)利要求8所述晶體硅片的制絨工藝方法,其特征在于:步驟3中采用所述的在線加熱及槽外循環(huán)系統(tǒng)對溶液進行加熱,以保證溶液的適當溫度。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
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