[發(fā)明專利]一種電機(jī)失步的檢測方法和檢測設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310367550.2
• 申請日: 2013-08-21
• 公開（公告）號(hào): CN104422883B
• 公開（公告）日: 2017-07-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李東陽;尹莉
• 申請（專利權(quán)）人: 華為技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/34
• 分類號(hào): G01R31/34
• 代理公司: 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司11274
• 代理人: 申健

1.一種電機(jī)失步的檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

對(duì)電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；

確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值；

若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對(duì)所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止；

統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值；

若所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則確定所述電機(jī)失步。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述確定所述第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值之后，該方法還包括：

若所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對(duì)所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對(duì)所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對(duì)所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止具體包括：

若所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對(duì)所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值；

對(duì)所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)，并對(duì)所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得并存儲(chǔ)第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值具體包括：

對(duì)存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行方差計(jì)算，獲得統(tǒng)計(jì)值。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述對(duì)所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣具體包括：

以固定頻率對(duì)所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，在所述對(duì)電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)之前，所述方法還包括：

獲得所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率；

根據(jù)所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率，確定所述固定頻率，所述固定頻率小于或等于所述電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)速率。

7.一種電機(jī)失步檢測設(shè)備，其特征在于，所述電機(jī)失步檢測設(shè)備包括：獲得單元、確定單元、存儲(chǔ)單元和統(tǒng)計(jì)單元；

所述獲得單元，用于對(duì)電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)；

所述確定單元，用于確定所述獲得單元獲得的第一采樣數(shù)據(jù)是否大于或等于第一預(yù)設(shè)門限值；

所述存儲(chǔ)單元，用于若所述確定單元確定所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值，存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)；

所述獲得單元，還用于在所述存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)所述第一采樣數(shù)據(jù)之后，對(duì)所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止；

所述存儲(chǔ)單元，還用于存儲(chǔ)所述第二采樣數(shù)據(jù)；

所述統(tǒng)計(jì)單元，用于統(tǒng)計(jì)所述存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)的所述第一采樣數(shù)據(jù)和所述第二采樣數(shù)據(jù)，獲得統(tǒng)計(jì)值；

所述確定單元，還用于若所述統(tǒng)計(jì)單元統(tǒng)計(jì)的所述統(tǒng)計(jì)值小于第二預(yù)設(shè)門限值，則確定所述電機(jī)失步。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電機(jī)失步檢測設(shè)備，其特征在于，

所述獲得單元，還用于若所述確定單元確定所述第一采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值，則對(duì)所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第一采樣數(shù)據(jù)，直至所述第一采樣數(shù)據(jù)大于或等于所述第一預(yù)設(shè)門限值；

所述獲得單元，還用于對(duì)所述電機(jī)的電壓或電流進(jìn)行采樣，獲得第二采樣數(shù)據(jù)，直至所述第二采樣數(shù)據(jù)小于所述第一預(yù)設(shè)門限值為止。