[發(fā)明專利]有機發(fā)光顯示裝置及測試該裝置的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310361508.X | 申請日: | 2013-08-19 |
| 公開(公告)號: | CN103927971B | 公開(公告)日: | 2018-07-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 崔榮佑;李光世 | 申請(專利權(quán))人: | 三星顯示有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/3208 | 分類號: | G09G3/3208;G09G3/00 |
| 代理公司: | 北京德琦知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11018 | 代理人: | 于未茗;康泉 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 有機發(fā)光顯示裝置 像素 測試電路 第二信號 有機發(fā)光二極管 測試 電壓電平 配置 施加 | ||
提供有機發(fā)光顯示裝置及測試該裝置的方法。該有機發(fā)光顯示裝置包括:包括多個像素的顯示單元,所述像素中的每一個像素包括有機發(fā)光二極管;以及被配置為向所述顯示單元施加第一信號和第二信號并且從所述顯示單元接收第三信號的測試電路。所述測試電路被配置為基于所述第一信號和所述第二信號具有第一電平時所述第三信號的電壓電平確定所述顯示單元是否處于正常狀態(tài)。
相關(guān)申請的交叉引用
本申請要求于2013年1月15日在韓國知識產(chǎn)權(quán)局(KIPO)遞交的韓國專利申請No.10-2013-0004528的優(yōu)先權(quán)和權(quán)益,該專利申請的內(nèi)容通過引用整體合并于此。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開內(nèi)容涉及有機發(fā)光顯示裝置及測試該有機發(fā)光顯示裝置的方法。
背景技術(shù)
近年來,已開發(fā)出各種平板顯示裝置,這些平板顯示裝置與陰極射線管相比具有輕重量和纖薄尺寸。具體來說,具有諸如優(yōu)越發(fā)光效率、高亮度、寬視角、快響應(yīng)速度等的方面的發(fā)光顯示裝置已備受矚目。
作為發(fā)光顯示裝置之一,有機發(fā)光顯示裝置作為下一代顯示裝置已備受矚目,這是因為其具有諸如快響應(yīng)速度、低驅(qū)動電壓、薄厚度、寬視角等的特性。另外,發(fā)光顯示裝置是電激發(fā)熒光有機化合物以發(fā)光的自發(fā)射顯示裝置。
有機發(fā)光顯示裝置包括多個像素。每個像素包括具有柵極線、數(shù)據(jù)線和驅(qū)動電壓線的線部分、聯(lián)接至線部分的開關(guān)晶體管、聯(lián)接至開關(guān)晶體管的有機發(fā)光器件,以及聯(lián)接至開關(guān)晶體管的電容器。開關(guān)晶體管根據(jù)通過線部分提供的信號接通或關(guān)斷,并且電流在開關(guān)晶體管接通時流過有機發(fā)光器件。在像素的開關(guān)晶體管中存在缺陷的情況下,像素可能發(fā)生故障。
發(fā)明內(nèi)容
本公開內(nèi)容提供一種能夠檢查像素的缺陷的有機發(fā)光顯示裝置。
本公開內(nèi)容提供一種測試有機發(fā)光顯示裝置以檢查像素的缺陷的方法。
創(chuàng)造性構(gòu)思的實施例提供一種有機發(fā)光顯示裝置,該裝置包括:包括多個像素的顯示單元,所述像素中的每一個像素包括有機發(fā)光二極管;以及被配置為向所述顯示單元施加第一信號和第二信號并且從所述顯示單元接收第三信號的測試電路,其中所述測試電路被配置為基于所述第一信號和所述第二信號具有第一電平時所述第三信號的電壓電平確定所述顯示單元是否處于正常狀態(tài)。
所述像素中的每一個可以進一步包括:包括聯(lián)接至第一節(jié)點的柵電極的第一晶體管,所述第一晶體管聯(lián)接在第二節(jié)點與第三節(jié)點之間;包括被配置為接收所述第一信號的柵電極的第二晶體管,所述第二晶體管聯(lián)接在數(shù)據(jù)線與所述第二節(jié)點之間;包括被配置為接收所述第一信號的柵電極的第三晶體管,所述第三晶體管聯(lián)接在所述第一節(jié)點與所述第三節(jié)點之間;包括被配置為接收施加至所述像素中的前一像素的所述第一信號的柵電極的第四晶體管,所述第四晶體管聯(lián)接在所述第一節(jié)點與初始化電壓之間;包括被配置為接收所述第二信號的柵電極的第五晶體管,所述第五晶體管聯(lián)接在源電壓與所述第二節(jié)點之間;以及包括被配置為接收所述第二信號的柵電極的第六晶體管,第六晶體管聯(lián)接在所述第三節(jié)點與第四節(jié)點之間,其中所述有機發(fā)光二極管聯(lián)接在所述第四節(jié)點與接地電壓源之間。
所述測試電路可以被配置為基于所述第一信號和所述第二信號具有所述第一電平時通過所述數(shù)據(jù)線接收的所述第三信號的電壓電平確定所述第五晶體管是否處于正常狀態(tài)。
所述測試電路被配置為基于在具有接通所述第二晶體管和所述第五晶體管的所述第一電平的所述第一信號和所述第二信號被施加時的所述第三信號確定所述第五晶體管是否處于正常狀態(tài)。
所述像素中的每一個可以進一步包括:聯(lián)接在所述源電壓與所述第一節(jié)點之間的第一電容器;以及聯(lián)接在所述第二晶體管的柵電極與所述第一節(jié)點之間的第二電容器。
所述第一信號可以通過掃描線被供應(yīng),并且所述第二信號可以通過發(fā)光控制線被供應(yīng)。
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