[發明專利]電路測試系統

在審

• 申請號: 201310360508.8
• 申請日: 2013-08-19
• 公開（公告）號: CN104422872A
• 公開（公告）日: 2015-03-18
• 發明（設計）人: 曹偉華;郭雯
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種電路測試系統，包括測試設備，其特征在于：所述電路測試系統還包括微控制器及開關組合，所述開關組合包括連接所述測試設備的第一開關、第二開關，所述第一開關與所述第二開關均連接所述微控制器，所述第一開關用于連接測試電路，所述第二開關用于連接另一測試電路，所述微控制器用于在接收到一觸發信號后開啟所述第一開關從而使來自所述測試電路的測試信號傳送給所述測試設備，并在一設定時間后斷開所述第一開關而開啟所述第二開關以使來自所述另一測試電路的測試信號傳送給所述測試設備。

2.如權利要求1所述的電路測試系統，其特征在于：所述第一開關包括導通端、第一連接端及第二連接端，所述微控制器連接所述第一開關的導通端，所述第一開關的第一連接端連接所述測試電路，所述第一開關的第二連接端連接所述測試設備，所述第一開關的導通端用于在所述微控制器接收所述觸發信號后導通，所述第一開關的第二連接端在所述第一開關的導通端導通后將所述測試信號傳送至所述測試設備。

3.如權利要求2所述的電路測試系統，其特征在于：所述第一開關為N溝道增強型MOSFET，所述第一開關的導通端、第一連接端及第二連接端分別對應所述N溝道增強型MOSFET的柵極、源極及漏極。

4.如權利要求1所述的電路測試系統，其特征在于：所述第二開關包括導通端、第一連接端及第二連接端，所述微控制器連接所述第二開關的導通端，所述第二開關的第一連接端連接所述測試電路，所述第二開關的第二連接端連接所述測試設備，所述第二開關的導通端用于在所述微控制器斷開所述第一開關并開啟所述第二開關后導通，所述第二開關的第二連接端用于在所述第二開關的導通端導通后將所述另一測試電路的測試信號傳送至所述測試設備。

5.如權利要求4所述的電路測試系統，其特征在于：所述第二開關為N溝道增強型MOSFET，所述第二開關的導通端、第一連接端及第二連接端分別對應所述N溝道增強型MOSFET的柵極、源極及漏極。

6.如權利要求1所述的電路測試系統，其特征在于：所述微控制器還連接比較電路，所述比較電路用于產生所述觸發信號。

7.如權利要求6所述的電路測試系統，其特征在于：所述微控制器用于連接所述比較電路的比較器的輸出端，所述比較器的反向輸入端用于通過第一電阻連接所述比較電路的第一電源，所述比較器的正向輸入端用于通過第二電阻連接所述比較電路的第二電源，所述微控制器用于在所述第二電源的電壓大于所述第一電源的電壓時接收所述觸發信號。

8.如權利要求1所述的電路測試系統，其特征在于：所述微控制器包括晶振輸入或外部時鐘輸入引腳及晶振輸出引腳，所述微控制器還的晶振輸入或外部時鐘輸入引腳及晶振輸出引腳之間連接晶體振蕩器，所述晶體振蕩器用于為所述微控制器產生時鐘頻率。

9.如權利要求1所述的電路測試系統，其特征在于：所述微控制器包括外部程序存儲器使能引腳，所述微控制器的外部程序存儲器使能引腳連接電源。

10.如權利要求1所述的電路測試系統，其特征在于：所述微控制器為89C51系列單片機。