[發明專利]存儲器控制設備、非易失性存儲器及存儲器控制方法

在審

• 申請號: 201310359855.9
• 申請日: 2013-08-16
• 公開（公告）號: CN103632732A
• 公開（公告）日: 2014-03-12
• 發明（設計）人: 足立直大;筒井敬一;石井健;大久保英明;中西健一;藤波靖;新橋龍男;阪井塁;池谷亮志
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: G11C29/44
• 分類號: G11C29/44;G11C16/34
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;吳孟秋

1.一種存儲控制設備，所述存儲控制設備包括：

寫入控制單元，按順序地指定多個存儲單元中作為數據寫入單元的存儲塊；

寫入處理單元，將寫入數據寫入指定的所述存儲塊中；

檢驗單元，從寫入了所述寫入數據的所述存儲塊中讀出讀取數據，并且針對所述多個存儲單元中的每一個檢驗所述讀取數據是否與所述寫入數據一致；

重試阻止單元，阻止對所述多個存儲單元中所述讀取數據與所述寫入數據一致的存儲單元再次執行寫入所述寫入數據的重試處理；以及

重試控制單元，當寫入所有寫入數據的所述多個存儲單元中的任一存儲單元中所述讀取數據與所述寫入數據不一致時，指定多個所述存儲塊中的至少一些存儲塊，并且同時執行所述重試處理。

2.根據權利要求1所述的存儲控制設備，其中，

所述檢驗單元檢驗所述讀取數據是否與所述寫入數據一致，并且對所述讀取數據與所述寫入數據不一致的存儲單元的數量進行計數以作為故障位數，以及

當所述故障位數大于1且所述故障位數小于預定閾值時，所述重試控制單元指定多個所述存儲塊中的至少一些存儲塊并且同時執行所述重試處理。

3.根據權利要求2所述的存儲控制設備，其中，

當所述故障位數不小于所述預定閾值時，所述重試控制單元按順序地為每個所述存儲塊指定所述多個存儲單元并執行所述重試處理。

4.根據權利要求2所述的存儲控制設備，其中，

所述預定閾值是不超過允許所述寫入處理單元同時寫入所述寫入數據的存儲單元的數量的值。

5.根據權利要求1所述的存儲控制設備，其中，

所述寫入處理單元向指定的所述存儲塊中的每個存儲單元提供所述寫入數據并寫入所述寫入數據，以及

所述重試阻止單元阻止向所述讀取數據與所述寫入數據一致的存儲單元提供所述數據并阻止所述重試處理的執行。

6.根據權利要求1所述的存儲控制設備，其中，

當寫入所有寫入數據的所述多個存儲單元的任一存儲單元中所述讀取數據與所述寫入數據不一致時，所述重試控制單元指定所有多個所述存儲塊并同時執行所述重試處理。

7.一種非易失性存儲器，所述非易失性存儲器包括：

多個存儲單元；

寫入控制單元，按順序地指定所述多個存儲單元中作為數據寫入單元的存儲塊；

寫入處理單元，將寫入數據寫入指定的所述存儲塊中；

檢驗單元，從寫入了所述寫入數據的所述存儲塊中讀出讀取數據，并且針對所述多個存儲單元中的每一個檢驗所述讀取數據是否與所述寫入數據一致；

重試阻止單元，阻止對所述多個存儲單元中所述讀取數據與所述寫入數據不一致的存儲單元再次執行寫入所述寫入數據的重試處理；以及

重試控制單元，當寫入所有寫入數據的所述多個存儲單元中的任一存儲單元中所述讀取數據與所述寫入數據不一致時，指定多個所述存儲塊中的至少一些存儲塊，并且同時執行所述重試處理。

8.根據權利要求7所述的非易失性存儲器，其中，

所述檢驗單元檢驗所述讀取數據是否與所述寫入數據一致，并且對所述讀取數據與所述寫入數據不一致的存儲單元的數量進行計數以作為故障位數，以及

當所述故障位數大于1且所述故障位數小于預定閾值時，所述重試控制單元指定多個所述存儲塊中的至少一些存儲塊并且同時執行所述重試處理。

9.一種存儲控制方法，所述存儲控制方法包括

由寫入控制單元按順序地指定多個存儲單元中作為數據寫入單元的存儲塊；

由寫入處理單元將寫入數據寫入指定的所述存儲塊中；

由檢驗單元從寫入了所述寫入數據的所述存儲塊中讀出讀取數據，并且針對所述多個存儲單元中的每一個檢驗所述讀取數據是否與所述寫入數據一致；

由重試阻止單元阻止對所述多個存儲單元中所述讀取數據與所述寫入數據一致的存儲單元再次執行寫入所述寫入數據的重試處理；以及

當寫入所有寫入數據的所述多個存儲單元的任一存儲單元中所述讀取數據與所述寫入數據不一致時，由重試控制單元指定多個所述存儲塊中的至少一些存儲塊，并且同時執行所述重試處理。