[發明專利]一種時戳的標記方法及時戳的檢測方法、裝置和系統有效
| 申請號: | 201310359047.2 | 申請日: | 2013-08-16 |
| 公開(公告)號: | CN103457790A | 公開(公告)日: | 2013-12-18 |
| 發明(設計)人: | 張錫權;譚國豪 | 申請(專利權)人: | 北京華為數字技術有限公司 |
| 主分類號: | H04L12/26 | 分類號: | H04L12/26;H04L12/70 |
| 代理公司: | 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 100085 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 標記 方法 及時 檢測 裝置 系統 | ||
1.一種時戳的檢測方法,其特征在于,應用于時戳的檢測裝置,包括:
所述時戳的檢測裝置向芯片發送至少兩個第一報文;
所述時戳的檢測裝置接收所述芯片發送的標記時戳后的所述至少兩個第一報文,并根據所述至少兩個標記時戳后的第一報文中的時戳判斷所述至少兩個第一報文的傳輸時延是否一致;
所述時戳的檢測裝置連續向所述芯片發送至少兩個第二報文,所有的所述第二報文具有相同的幀數據比特率、相同的幀長,任意兩個相鄰第二報文的幀間隔相同;
所述時戳的檢測裝置接收所述芯片發送的標記時戳后的所述至少兩個第二報文,并根據所述至少兩個第二報文的幀數據比特率、所述至少兩個第二報文的幀長、相鄰所述至少兩個第二報文的幀間隔及所述至少兩個標記時戳后的第二報文中的時戳判斷所述至少兩個二報文中的時戳是否連續;
所述時戳的檢測裝置向芯片發送一個第三報文,并在預設的時間間隔后向所述芯片發送另一個第三報文;
所述時戳的檢測裝置接收所述芯片發送的標記時戳后的所述兩個第三報文,并根據所述兩個標記時戳后的第三報文中的時戳、所述第一個第三報文的幀數據比特率、所述第一個第三報文的幀長、所述兩個第三報文的幀間隔及所述時間間隔判斷所述芯片內部本地時鐘是否正常;
若所述至少兩個第一報文的傳輸時延一致,所述至少兩個第二報文中的時戳連續并且所述芯片內部本地時鐘正常,則所述時戳的檢測裝置判定所述芯片的報文時戳標記正確;
所述時戳包括:所述芯片將報文發送至檢測回路中時在所述報文中標記的發送時戳及所述芯片在所述檢測回路中接收所述報文時標記的接收時戳。
2.根據權利要求1所述的時戳的檢測方法,其特征在于,所述根據所述至少兩個標記時戳后的第一報文中的時戳判斷所述至少兩個第一報文的傳輸時延是否一致,具體包括:
所述時戳的檢測裝置獲取所述至少兩個第一報文中每個第一報文的接收時戳和發送時戳,計算所述每個第一報文的接收時戳和發送時戳的時間差,以及所述每個第一報文的接收時戳和發送時戳的時間差的平均值;
所述時戳的檢測裝置將每個第一報文的接收時戳和發送時戳的時間差分別與所述每個第一報文的接收時戳和發送時戳的時間差的平均值進行對比;
當所述每個第一報文的接收時戳和發送時戳的時間差的平均值與每個第一報文的接收時戳及發送時戳的時間差分別的誤差都不大于誤差閾值時,所述時戳的檢測裝置判定所述至少兩個第一報文的傳輸時延一致。
3.根據權利要求1所述的時戳的檢測方法,其特征在于,所述根據所述至少兩個第二報文的幀數據比特率、所述至少兩個第二報文的幀長、相鄰所述至少兩個第二報文的幀間隔及所述至少兩個標記時戳后的第二報文中的時戳判斷所述至少兩個二報文中的時戳是否連續,具體包括:
所述時戳的檢測裝置獲取所述至少兩個第二報文中每個第二報文的接收時戳和發送時戳,計算相鄰兩個第二報文的接收時戳的時間差和相鄰兩個第二報文的發送時戳的時間差,將所述相鄰兩個第二報文的接收時戳的時間差和相鄰兩個第二報文的發送時戳的時間差進行對比獲取時間誤差值;
當所有時間誤差值均不大于誤差閾值時,所述時戳的檢測裝置計算所有所述相鄰兩個第二報文的接收時戳的時間差和相鄰兩個第二報文的發送時戳的時間差的平均值;
所述時戳的檢測裝置通過所述公式δt=[(FL+FIG)×8]×1/FBR計算任意兩個相鄰第二報文之間的理論時間差,其中,δt為任意兩個相鄰第二報文之間的理論時間差,幀長度FL為所述第二報文的報文長度,幀間隙FIG為第二報文的幀間隙,幀數據比特速率FBR為幀比特速率;
所述時戳的檢測裝置將所述相鄰兩個第二報文的接收時戳的時間差和相鄰兩個第二報文的發送時戳的時間差的平均值與所述任意兩個相鄰第二報文之間的理論時間差進行對比,當所述相鄰兩個第二報文的接收時戳的時間差和相鄰兩個第二報文的發送時戳的時間差的平均值與所述任意兩個相鄰第二報文之間的理論時間差的誤差不大于誤差閾值時,所述時戳的檢測裝置判定所述至少兩個第二報文中的時戳連續。
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