[發(fā)明專利]一種橫向高壓MOSFET及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310356773.9 | 申請(qǐng)日: | 2013-08-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103413830B | 公開(公告)日: | 2016-08-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 喬明;李燕妃;周鋅;吳文杰;許琬;陳濤;胡利志;張波 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 電子科技大學(xué);東莞電子科技大學(xué)電子信息工程研究院 |
| 主分類號(hào): | H01L29/78 | 分類號(hào): | H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336 |
| 代理公司: | 成都宏順專利代理事務(wù)所(普通合伙) 51227 | 代理人: | 李順德;王睿 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 橫向 高壓 mosfet 及其 制造 方法 | ||
1.一種橫向高壓MOSFET,包括第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體襯底(1)、第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漂移區(qū)(2)、第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體體區(qū)(3)、第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體降場(chǎng)層(4)、場(chǎng)氧化層(6)、柵氧化層(7)、多晶硅柵電極(8)、金屬前介質(zhì)(9)、第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漏區(qū)(10)、第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體源區(qū)(11)、第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體體接觸區(qū)(12)、源極金屬(13)、漏極金屬(14),所述第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漂移區(qū)(2)和第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體體區(qū)(3)連接并分別嵌入設(shè)置在第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體襯底(1)的兩端,第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漂移區(qū)(2)和第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體體區(qū)(3)的上表面與第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體襯底(1)的上表面重合,所述第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體降場(chǎng)層(4)設(shè)置在第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漂移區(qū)(2)中,所述場(chǎng)氧化層(6)嵌入設(shè)置在第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漂移區(qū)(2)的上表面,所述第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漏區(qū)(10)設(shè)置在第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漂移區(qū)(2)中遠(yuǎn)離第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體體區(qū)(3)的端部且第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漏區(qū)(10)的上表面與第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漂移區(qū)(2)的上表面重合,氧化層(6)和第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漏區(qū)(10)連接,所述第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體源區(qū)(11)和第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體體接觸區(qū)(12)設(shè)置在第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體體區(qū)(3)中且第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體源區(qū)(11)和第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體體接觸區(qū)(12)的上表面與第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體體區(qū)(3)的上表面重合,第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體體接觸區(qū)(12)設(shè)置在第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體體區(qū)(3)中遠(yuǎn)離第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漂移區(qū)(2)的端部,第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體源區(qū)(11)和第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體體接觸區(qū)(12)連接,所述柵氧化層(7)覆蓋設(shè)置在部分第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體源區(qū)(11)的上表面并延伸至第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漂移區(qū)(2)的上表面與氧化層(6)連接,所述多晶硅柵電極(8)覆蓋設(shè)置在柵氧化層(7)的上表面和部分氧化層(6)的上表面,金屬前介質(zhì)(9)覆蓋設(shè)置在部分第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體源區(qū)(11)的上表面、多晶硅柵電極(8)的上表面、氧化層(6)的上表面和部分第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漏區(qū)(10)的上表面,所述源極金屬(13)覆蓋設(shè)置在第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體體接觸區(qū)(12)的上表面、第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體源區(qū)(11)的部分上表面并與金屬前介質(zhì)(9)連接,在金屬前介質(zhì)(9)的上表面延伸形成場(chǎng)板,所述漏極金屬(14)覆蓋在第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漏區(qū)(10)的部分上表面并與與金屬前介質(zhì)(9)連接,在金屬前介質(zhì)(9)的上表面延伸形成場(chǎng)板,其特征在于,還包括第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體重?fù)诫s層(5),所述第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體重?fù)诫s層(5)設(shè)置在第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體降場(chǎng)層(4)和場(chǎng)氧化層(6)之間,第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體重?fù)诫s層(5)的上表面與場(chǎng)氧化層(6)的下表面連接、下表面靠近第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體漏區(qū)(10)部分與第一導(dǎo)電類型半導(dǎo)體降場(chǎng)層(4)的上表面連接。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





