[發(fā)明專利]一種盆式絕緣子點狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊及制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310355765.2 | 申請日: | 2013-08-15 |
| 公開(公告)號: | CN103439157A | 公開(公告)日: | 2013-12-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王朝華;楊旭;蔡紅生;汪毅;李世濤;耿進(jìn)鋒;胡峰濤;劉文生 | 申請(專利權(quán))人: | 國家電網(wǎng)公司;河南省電力公司電力科學(xué)研究院 |
| 主分類號: | G01N1/28 | 分類號: | G01N1/28;G01N23/00 |
| 代理公司: | 鄭州聯(lián)科專利事務(wù)所(普通合伙) 41104 | 代理人: | 劉建芳 |
| 地址: | 100031 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 絕緣子 缺陷 數(shù)字 射線 檢測 制作方法 | ||
1.一種盆式絕緣子點狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊,其特征在于:所述的盆式絕緣子點狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊為由環(huán)氧樹脂和氧化鋁粉材料混合制成的三階梯塊狀結(jié)構(gòu),從下至上三個階梯的上表面高度分別在25mm-35mm、55mm-65mm、85mm-95mm之間,每個階梯上表面均設(shè)置有多個孔徑不同的平底孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的盆式絕緣子點狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊,其特征在于:所述的平底孔中心位于階梯面橫向中心線上,相鄰兩個平底孔的間距為10mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的盆式絕緣子點狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊,其特征在于:所述每個階梯上表面均設(shè)置有6個平底孔,每個平底孔的孔深與孔徑相同,6個平底孔的孔徑分別為0.5mm、1mm、2mm、3mm、4mm、5mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的盆式絕緣子點狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊,其特征在于:所述的從下至上三個階梯的上表面高度分別為30mm、60mm和90mm。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的盆式絕緣子點狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊,其特征在于:所述的三個階梯的寬度均為40mm,長度均為100mm。
6.一種盆式絕緣子點狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊的制作方法,其特征在于,包括以下步驟:
A:對三階梯澆鑄模具內(nèi)部進(jìn)行清潔、干燥后抽真空;
B:將環(huán)氧樹脂和氧化鋁粉材料均勻混合后加熱,通過三階梯澆鑄模具噴口灌入三階梯澆鑄模具中,并進(jìn)行兩次固化成型,脫模后得到三階梯塊;
C:將三階梯塊冒口和邊沿加工平整,并將三個階梯厚度分別調(diào)整在25mm-35mm、55mm-65mm、85mm-95mm之間;
D:在三階梯的每個階梯的上表面加工多個孔徑不同的平底孔,平底孔中心位于階梯面橫向中心線上,相鄰兩個平底孔的間距為10mm。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的盆式絕緣子點狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊的制作方法,其特征在于:所述C步驟中,三個階梯厚度分別為30mm、60mm和90mm。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的盆式絕緣子點狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊的制作方法,其特征在于:所述C步驟中,三個階梯的寬度均為40mm,長度均為100mm。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的盆式絕緣子點狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊的制作方法,其特征在于:所述D步驟中,每個階梯的上表面加工有6個平底孔,每個平底孔的孔深與孔徑相同,6個平底孔的孔徑分別為0.5mm、1mm、2mm、3mm、4mm、5mm。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的盆式絕緣子點狀缺陷數(shù)字射線檢測試塊的制作方法,其特征在于:還包括步驟E,在每個平底孔邊沿4mm處,粘貼鉛字標(biāo)識數(shù)字。
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