[發(fā)明專利]靜電卡盤以及等離子體加工設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310354114.1 | 申請(qǐng)日: | 2013-08-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104377155B | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-06-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 彭宇霖 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京北方微電子基地設(shè)備工藝研究中心有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/683 | 分類號(hào): | H01L21/683;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京天昊聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11112 | 代理人: | 彭瑞欣,張?zhí)焓?/td> |
| 地址: | 100176 北京*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 靜電 卡盤 以及 等離子體 加工 設(shè)備 | ||
1.一種靜電卡盤,包括用于承載被加工工件的卡盤和基座,所述卡盤包括卡盤本體、設(shè)置在所述卡盤本體內(nèi)的靜電電極和加熱單元,所述靜電電極與直流電源連接,用以采用靜電引力的方式將被加工工件固定在所述卡盤上;所述加熱單元用于加熱所述被加工工件;所述基座設(shè)置在所述卡盤本體的下方,用以支撐和固定所述卡盤本體;其特征在于,在所述卡盤本體和基座之間設(shè)置有隔熱組件,所述隔熱組件包括膨脹隔熱環(huán)和冷卻單元,其中
所述膨脹隔熱環(huán)為閉合的薄壁結(jié)構(gòu)件,其上、下兩端分別與所述卡盤本體和基座密封接觸;
所述冷卻單元用于冷卻所述膨脹隔熱環(huán),所述冷卻單元包括冷卻媒介源和冷卻環(huán),其中,所述冷卻環(huán)位于所述卡盤本體與基座之間,且環(huán)繞在所述膨脹隔熱環(huán)的內(nèi)側(cè)或外側(cè)設(shè)置,并且在所述冷卻環(huán)內(nèi)設(shè)置有環(huán)形的冷卻通道,所述冷卻媒介源用于向所述冷卻通道內(nèi)通入冷卻媒介。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的靜電卡盤,其特征在于,在所述膨脹隔熱環(huán)的上端形成有上環(huán)形凸臺(tái),并且在所述上環(huán)形凸臺(tái)的上表面與所述卡盤本體的下表面之間設(shè)置有第一密封件,用以對(duì)二者之間的間隙進(jìn)行密封。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的靜電卡盤,其特征在于,在所述膨脹隔熱環(huán)的下端形成有下環(huán)形凸臺(tái),并且在所述下環(huán)形凸臺(tái)的下表面與所述基座的上表面之間設(shè)置有第二密封件,用以對(duì)二者之間的間隙進(jìn)行密封;或者
所述膨脹隔熱環(huán)的下端與所述基座的上表面采用焊接的方式進(jìn)行密封。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的靜電卡盤,其特征在于,所述冷卻媒介包括冷卻液體或者冷卻氣體。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的靜電卡盤,其特征在于,在所述基座與所述卡盤本體之間設(shè)置有冷卻板,用以阻隔由所述卡盤本體產(chǎn)生的熱量朝向所述基座輻射;并且
所述膨脹隔熱環(huán)位于所述卡盤本體與冷卻板之間,且其上、下兩端分別與所述卡盤本體和冷卻板密封接觸,并且所述膨脹隔熱環(huán)、所述卡盤本體和所述冷卻板之間形成一封閉空間。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的靜電卡盤,其特征在于,所述冷卻環(huán)的下表面疊置在所述冷卻板的上表面上,并且在所述冷卻環(huán)的下表面上形成有與所述冷卻通道連通的入口和出口;
在所述冷卻板內(nèi)分別設(shè)置有第一通道和第二通道,所述第一通道和第二通道的上端位于所述冷卻板的上表面,且分別與所述入口和出口連接;所述第一通道和第二通道的下端位于所述冷卻板的下表面,且與所述冷卻媒介源連接;并且
在所述冷卻環(huán)的下表面與所述冷卻板的上表面之間設(shè)置有第三密封件,用以對(duì)所述第一通道和第二通道分別與所述入口和出口連接的連接處進(jìn)行密封。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的靜電卡盤,其特征在于,在所述卡盤本體與冷卻板之間設(shè)置有支撐環(huán),用以支撐所述卡盤本體;并且,所述支撐環(huán)與所述膨脹隔熱環(huán)間隔嵌套設(shè)置,且所述支撐環(huán)的外徑小于所述膨脹隔熱環(huán)的內(nèi)徑。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的靜電卡盤,其特征在于,所述支撐環(huán)的數(shù)量為一個(gè)或多個(gè),且多個(gè)所述支撐環(huán)的內(nèi)徑不同,并間隔嵌套設(shè)置。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的靜電卡盤,其特征在于,所述支撐環(huán)的數(shù)量為一個(gè),且將所述密封空間分隔為分別對(duì)應(yīng)于所述卡盤本體下表面的中心區(qū)域和邊緣區(qū)域的第一子空間和第二子空間。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的靜電卡盤,其特征在于,在所述冷卻板的上表面上,且分別位于所述第一子空間和第二子空間內(nèi)設(shè)置有貫穿所述冷卻板厚度的第一出氣孔和第二出氣孔,導(dǎo)熱氣體通過(guò)所述第一出氣孔和第二出氣孔分別進(jìn)入所述第一子空間和第二子空間內(nèi);并且,
在所述卡盤本體內(nèi)分別設(shè)置有中心導(dǎo)熱通道和邊緣導(dǎo)熱通道,其中,所述中心導(dǎo)熱通道的下端與所述第一子空間連通,所述中心導(dǎo)熱通道的上端所述卡盤本體上表面的中心區(qū)域連通;所述邊緣導(dǎo)熱通道的下端與所述第二子空間連通,所述邊緣導(dǎo)熱通道的上端與所述卡盤本體上表面的邊緣區(qū)域連通。
11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的靜電卡盤,其特征在于,所述支撐環(huán)采用不銹鋼或Ni-Co-Fe合金制作。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的靜電卡盤,其特征在于,所述膨脹隔熱環(huán)采用不銹鋼或Ni-Co-Fe合金制作。
13.一種等離子體加工設(shè)備,其包括反應(yīng)腔室,在所述反應(yīng)腔室內(nèi)設(shè)置有靜電卡盤,用以采用靜電引力的方式固定被加工工件,其特征在于,所述靜電卡盤采用權(quán)利要求1-12中任意一項(xiàng)所述的靜電卡盤。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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