[發明專利]角接觸軸承凸出量測量儀

有效

• 申請號: 201310350006.7
• 申請日: 2013-08-13
• 公開（公告）號: CN103424093B
• 公開（公告）日: 2016-11-23
• 發明（設計）人: 譚義銀;劉平
• 申請（專利權）人: 無錫市第二軸承有限公司
• 主分類號: G01B21/00
• 分類號: G01B21/00
• 代理公司: 無錫市大為專利商標事務所(普通合伙) 32104
• 代理人: 曹祖良

技術領域

本發明涉及涉及一種檢測設備，具體地說是一種角接觸軸承凸出量測量儀。

背景技術

目前，國內對于角接觸軸承的凸出量的測量，通常都是采用測量儀來進行測量，但是現有測量儀往往結構復雜，操作起來十分繁瑣，需要對檢驗人員進行反復培訓才能較好地掌握測量方法，在實際中，常常發生由于測量人員的人為原因造成的測量誤差，影響測量精度；另一方面，現有測量儀的價格較高，給企業采購造成較大負擔。

發明內容

本發明針對上述問題，提供一種角接觸軸承凸出量測量儀，該測量儀結構簡單，操作方便。

按照本發明的技術方案：一種角接觸軸承凸出量測量儀，包括底座，其特征是：所述底座上部環狀端面上設置有第一球體測頭，底座上方設置有固定支承板，臺階套筒通過螺栓緊固于固定支承板下表面，固定支承板上對應于底座的中心開設有貫穿孔，測量表的測桿滑動設置于所述貫穿孔中，所述臺階套筒下端具有向筒體中心延伸的臺階，臺階套筒上連接有負荷塊，所述負荷塊包括上塊體、下塊體及連接所述上塊體和下塊體的中間體，其中上塊體設置于臺階套筒的內腔中，中間體滑動設置于臺階所對應的內孔中，下塊體從臺階的內孔伸出，所述測量表的測頭壓設于負荷塊上端面，臺階套筒下端面上對應于所述第一球體測頭的正上方設置有第二球體測頭，所述負荷塊底端平面上設置有第三球體測頭。

作為本發明的進一步改進，所述下塊體與中間體的連接處設置有回轉凹槽，下塊體的底部端面設置倒角。

本發明的技術效果在于：本發明結構簡單、合理、巧妙，適用于角接觸球軸承（DB、DF）配對（額定預載荷）凸出量的測量，可同時測出正反面凸出量（凹進量）的值；測量操作簡單可靠，特別易于操作人員快速上手。

附圖說明

圖1為本發明的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本發明的具體實施方式作進一步的說明。

圖1中，包括底座1、臺階套筒2、負荷塊3、上塊體3-1、中間體3-2、下塊體3-3、固定支承板4、測量表5、被測軸承6、第一球體測頭7、第二球體測頭8、第三球體測頭9、臺階10等。

如圖1所示，本發明是一種角接觸軸承凸出量測量儀，包括底座1，所述底座1上部環狀端面上設置有第一球體測頭7，底座1上方設置有固定支承板4，臺階套筒2通過螺栓緊固于固定支承板4下表面，固定支承板4上對應于底座1的中心開設有貫穿孔，測量表5的測桿滑動設置于所述貫穿孔中，所述臺階套筒2下端具有向筒體中心延伸的臺階10，臺階套筒2上連接有負荷塊3，所述負荷塊3包括上塊體3-1、下塊體3-3及連接所述上塊體3-1和下塊體3-3的中間體3-2，其中上塊體3-1設置于臺階套筒2的內腔中，中間體3-2滑動設置于臺階10所對應的內孔中，下塊體3-3從臺階10的內孔伸出，所述測量表5的測頭壓設于負荷塊3上端面，臺階套筒2下端面上對應于所述第一球體測頭7的正上方設置有第二球體測頭8，所述負荷塊3底端平面上設置有第三球體測頭9。

所述下塊體3-3與中間體3-2的連接處設置有回轉凹槽，下塊體3-3的底部端面設置倒角。

本發明的工作過程如下：在測量前，首先將標準樣件軸承按照圖1所示放置于臺階套筒2和底座1之間的檢測工位，負荷塊3底部端面的第二球體測頭8壓設于樣件軸承內圈端面b處，臺階套筒2端面上的第三球體測頭9及底座1上的第一球體測頭7分別頂在樣件軸承外圈上、下端面上，依靠負荷塊3的重力產生測量力，測量表5的下部測頭與負荷塊3的上端面接觸，然后將測量表5調零，待做好上述工作后，再將被測軸承6放置于測量部位，測量表5上顯示的數值，即為角接觸球軸承的凸出量數值，因為測量數據與測量力的大小有很大關系，本發明采用的是相對測量，負荷塊3產生的測量力是恒定的，保證測量數據是穩定的。

本發明結構簡單、合理、巧妙，適用于角接觸球軸承（DB、DF）配對（額定預載荷）凸出量的測量，可同時測出正反面凸出量（凹進量）的值；測量操作簡單可靠，特別易于操作人員快速上手。