[發明專利]一種超高密度熱輔助磁記錄用FeRh/FePt雙層薄膜及其制備方法無效
| 申請號: | 201310349750.5 | 申請日: | 2013-08-13 |
| 公開(公告)號: | CN103440875A | 公開(公告)日: | 2013-12-11 |
| 發明(設計)人: | 陸偉;黃平 | 申請(專利權)人: | 同濟大學 |
| 主分類號: | G11B5/84 | 分類號: | G11B5/84;G11B5/851 |
| 代理公司: | 上海正旦專利代理有限公司 31200 | 代理人: | 張磊 |
| 地址: | 200092 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 超高 密度 輔助 記錄 ferh fept 雙層 薄膜 及其 制備 方法 | ||
1.一種超高密度熱輔助磁記錄用FeRh/FePt雙層薄膜,所述薄膜第一層為鐵磁性高各項異性L10有序結構的FePt合金薄膜,第二層為具有B2有序結構的FeRh合金薄膜;兩層薄膜之間通過交換耦合相互作用在一起,FeRh合金薄膜中Fe、Rh原子比為1:1,FeRh薄膜厚度為10nm~50nm;FePt合金薄膜中Fe、Pt原子比為1:1,FePt薄膜厚度為10nm~50nm。
2.一種如權利要求1所述的超高密度熱輔助磁記錄用FeRh/FePt雙層薄膜的制備方法,其特征在于具體步驟如下:
(1)利用磁控濺射技術在單晶MgO(001)基板上沉積FeRh合金薄膜,控制Fe、Rh原子比為1:1,FeRh薄膜厚度為10nm~50nm;濺射采用Fe50Rh50合金靶材,濺射時控制單晶MgO(001)基板溫度為300~500℃,濺射腔的背底真空度為0.7×10-5~5×10-5Pa,濺射時氬氣氣壓為1~20Pa;濺射過程中,單晶MgO(001)基板以5轉/分鐘~30轉/分鐘的速率旋轉;
(2)濺射結束后,將單晶MgO(001)基板原位退火,退火溫度為400~700℃,退火時間為0.5~2小時;
(3)退火結束后,利用磁控濺射技術繼續在沉積有FeRh薄膜的單晶MgO(001)基板上沉積FePt合金薄膜,控制Fe、Pt原子比為1:1,FePt薄膜厚度為10nm~50nm;濺射采用Fe50Pt50合金靶材,其在濺射時基板溫度為450~500℃;濺射腔的背底真空度為0.7×10-5~5×10-5Pa,濺射時氬氣氣壓為1~20Pa;濺射過程中,基板以5轉/分鐘~30轉/分鐘的速率旋轉。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于同濟大學,未經同濟大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310349750.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種羊毛分級臺
- 下一篇:一種用于化學氣相沉積工藝的襯底及石墨盤





