[發(fā)明專利]一種內(nèi)存檢驗(yàn)測試系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310349195.6
• 申請日: 2013-08-12
• 公開（公告）號: CN103412807A
• 公開（公告）日: 2013-11-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉勝;范志超
• 申請（專利權(quán)）人: 浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及計算機(jī)應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域或一種通過高覆蓋率測試和邊緣測試對內(nèi)存進(jìn)行性能和可靠性檢驗(yàn)對比的系統(tǒng),具體地說是一種內(nèi)存檢驗(yàn)測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

服務(wù)器系統(tǒng)廠家對于標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)存的測試檢驗(yàn)，多是通過系統(tǒng)級別的兼容性測試來判斷是否可以與系統(tǒng)搭配使用，而兼容性測試的結(jié)果多是通過或不通過，并沒有具體的數(shù)據(jù)，也沒法很好的對各種內(nèi)存進(jìn)行全面橫向比較。

此檢驗(yàn)系統(tǒng)可以對內(nèi)存及顆粒的cell進(jìn)行全面的檢驗(yàn)，并通過對各種關(guān)鍵電壓和時序的調(diào)節(jié)，實(shí)現(xiàn)對內(nèi)存的各種工作條件下的表現(xiàn)來查看內(nèi)存和主板系統(tǒng)的短板。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種內(nèi)存檢驗(yàn)測試系統(tǒng)。

本發(fā)明的目的是按以下方式實(shí)現(xiàn)的，該系統(tǒng)包含的模塊有：系統(tǒng)主板模塊（1）、內(nèi)存關(guān)鍵電壓及時序調(diào)節(jié)模塊（2）、軟體模塊（3）、覆蓋率測試模塊（4）、輸入/輸出模塊（5），其中：?

系統(tǒng)主板模塊（1）是內(nèi)存測試的基礎(chǔ)部分，各種規(guī)格的測試內(nèi)存和測試主板需要相匹配，需要保證系統(tǒng)平臺能夠正常運(yùn)行。

內(nèi)存關(guān)鍵電壓及時序調(diào)節(jié)模塊（2），內(nèi)存檢驗(yàn)系統(tǒng)的邊緣測試部分主要是通過在不同的Vdd/Vref及讀寫時序下檢驗(yàn)內(nèi)存的工作狀態(tài)。通過此模塊可以對內(nèi)存的關(guān)鍵點(diǎn)呀和時序進(jìn)行調(diào)節(jié)。

軟體模塊（3）需要將調(diào)節(jié)輸入的電壓、時序等通過系統(tǒng)下的輸入的軟件進(jìn)行設(shè)置。并將最終的測試結(jié)果轉(zhuǎn)化為直觀的圖表。負(fù)責(zé)轉(zhuǎn)化客戶的設(shè)置及將測試結(jié)果的進(jìn)行轉(zhuǎn)化成便于客戶查看的圖表形式。

覆蓋率測試模塊（4）對于所有的內(nèi)存地址，對bank、行、column?地址、DQ?number進(jìn)行檢查，查看壞掉的cell。

輸入/輸出模塊（5）輸入模塊將設(shè)置輸入，輸出模塊將結(jié)果直觀的顯示出來。

本發(fā)明的有益效果是：通過系統(tǒng)下的操作界面對通過軟件模塊對測試參數(shù)對測試進(jìn)行設(shè)置，內(nèi)存關(guān)鍵電壓計時序調(diào)節(jié)模塊根據(jù)客戶的設(shè)置進(jìn)行調(diào)節(jié)，使內(nèi)存在系統(tǒng)主板模塊上，正常工作在客戶指定的環(huán)境中，然后借助于測試的程序進(jìn)行覆蓋率測試或邊緣測試，最終通過軟件翻譯成直觀的便于客戶查看的圖表。?

具體實(shí)施方式

一種采用內(nèi)存的高覆蓋率測試和邊緣測試來對標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)存進(jìn)行檢驗(yàn)的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包含的模塊有：系統(tǒng)主板模塊（1）、內(nèi)存關(guān)鍵電壓及時序調(diào)節(jié)模塊（2）、軟體模塊（3）、覆蓋率測試模塊（4）、輸入/輸出模塊（5），其中：?

系統(tǒng)主板模塊（1）是內(nèi)存測試的基礎(chǔ)部分，各種規(guī)格的測試內(nèi)存和測試主板需要相匹配，需要保證內(nèi)存在系統(tǒng)平臺能夠正常運(yùn)行。

內(nèi)存關(guān)鍵電壓及時序調(diào)節(jié)模塊（2），內(nèi)存檢驗(yàn)系統(tǒng)的邊緣測試部分主要是通過在不同的Vdd/Vref及讀寫時序下檢驗(yàn)內(nèi)存的工作狀態(tài)。

軟體模塊（3）需要將調(diào)節(jié)輸入的電壓、時序等通過系統(tǒng)下的輸入的軟件進(jìn)行設(shè)置。并將最終的測試結(jié)果轉(zhuǎn)化為直觀的圖表。通過此模塊可以對內(nèi)存的關(guān)鍵點(diǎn)呀和時序進(jìn)行調(diào)節(jié)。

覆蓋率測試模塊（4）對于所有的內(nèi)存地址，對bank、行、column?地址、DQ?number進(jìn)行檢查，查看壞掉的cell。

輸入/輸出模塊（5）輸入模塊將設(shè)置輸入，輸出模塊將結(jié)果直觀的顯示出來。

除說明書所述的技術(shù)特征外，均為本專業(yè)技術(shù)人員的已知技術(shù)。