[發明專利]一種基于金屬釕修飾的多孔硅表面金屬電極制備方法有效
| 申請號: | 201310343200.2 | 申請日: | 2013-08-08 |
| 公開(公告)號: | CN103367134A | 公開(公告)日: | 2013-10-23 |
| 發明(設計)人: | 李偉;余鋒;廖家科;郭安然;王沖;蔣亞東 | 申請(專利權)人: | 電子科技大學 |
| 主分類號: | H01L21/283 | 分類號: | H01L21/283;H01L21/28 |
| 代理公司: | 成都華典專利事務所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 徐豐;楊保剛 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 金屬 修飾 多孔 表面 金屬電極 制備 方法 | ||
1.一種基于金屬釕修飾的多孔硅表面金屬電極制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
①對多孔硅進行金屬修飾前處理;
②金屬釕修飾多孔面;
③對金屬釕修飾后的多孔硅進行干燥處理;
④在金屬釕修飾后的多孔硅表面沉積金屬電極;
⑤快速退火;
⑥光刻形成指定電極形狀。
2.根據權利要求1所述的基于金屬釕修飾的多孔硅表面金屬電極制備方法,其特征在于,該制備方法更詳細的描述為:
①對多孔硅表面進行金屬修飾前處理:首先采用HF水溶液去除多孔硅表面氧化層,然后用去離子水進行洗滌;
②釕修飾多孔面,即將洗滌后的多孔硅放入氯化釕的酸溶液中侵泡;
③對金屬釕修飾后的多孔硅進行干燥處理,使釕修飾后的多孔硅表面形成一層釕顆粒和氧化硅的過渡層;
④在經步驟③處理后的多孔硅表面上沉積金屬電極;
⑤對步驟④沉積金屬電極后的多孔硅進行快速退火處理;
采用光刻工藝將金屬電極刻蝕成指定電極形狀,完成電極制備。
3.根據權利要求2所述的基于金屬釕修飾的多孔硅表面金屬電極制備方法,其特征在于,在步驟①中所述HF溶液的濃度為10%,作用時間為10s;在步驟②中所述氯化釕酸溶液是摩爾濃度為0.01mol/L的RuCl3溶液與摩爾濃度為40ml/L?的HCl溶液的混合液,反應時間為30s~60s。
4.根據權利要求2所述的基于金屬釕修飾的多孔硅表面金屬電極制備方法,其特征在于,在步驟③中所述干燥處理溫度為100~120℃,處理時間為10min,干燥處理的設備為電烘烤箱。
5.根據權利要求2所述的基于金屬釕修飾的多孔硅表面金屬電極制備方法,其特征在于,步驟④中所述沉積的金屬電極厚度為0.2μm。
6.根據權利要求2所述的基于金屬釕修飾的多孔硅表面金屬電極制備方法,其特征在于,在步驟⑤中所述快速退火處理溫度為300~500℃,在氬氣氣氛下退火30s~1min。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





