[發明專利]控制切片靈敏度分布的方法及裝置

有效

• 申請號: 201310342969.2
• 申請日: 2013-08-07
• 公開（公告）號: CN104337527B
• 公開（公告）日: 2018-08-03
• 發明（設計）人: 周培;李翔;其他發明人請求不公開姓名
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00;A61B6/03
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

一種控制切片靈敏度分布的方法及裝置，所述方法包括：根據獲得的窗函數系數序列，生成濾波器的窗函數，所述窗函數中窗函數系數序數值與窗函數系數值具有一一對應關系；根據獲得的準直器探測器單元的寬度，生成探測器模擬函數；對所生成的濾波器窗函數與探測器模擬函數進行卷積運算，生成切片靈敏度分布函數，獲得所述切片的靈敏度分布。所述方法及裝置可以快速地對圖像層厚進行精確控制。

技術領域

本發明涉及醫療設備設計技術領域，尤其涉及一種控制切片靈敏度分布的方法及裝置。

背景技術

在醫用X射線CT中，多排螺旋CT在臨床上得到了越來越廣泛的使用。多排螺旋CT最重要的特點是具有多排平行的探測器，可以同時采集多個切片的數據。并且探測器的排數呈增加的趨勢，最終會成為使用二維探測器陣列的錐形束螺旋CT。隨著探測器排數的增加，其體積包容速度性能也越來越好，這使得短時間內進行大范圍掃描成為可能。然而臨床不僅要求有快的成像速度，而且還要有好的成像質量。在基于多排螺旋CT三維及四維(空間三維加上時間)可視化成像中，縱向(Z軸)分辨力是一個非常重要的因素，探測器排數越多，對其要求越高。CT成像縱向(Z軸)分辨力是就是其切片厚度，也就是常說的層厚，而表征層厚的物理量就是切片靈敏度分布曲線(Section Sensitivity Profiles，SSP)的半高全寬(FWHM)。

目前業界控制切片靈敏度分布的方法是借助切片方向的濾波器實現，為獲得具有大的層厚的圖像，可以采用如下的方法實現：在Z軸方向多排探測器測量厚度的兩倍或三倍的基礎上，通過軸向掃描或螺旋掃描使用的探測器收集原始數據，三個或更多的相鄰排探測器收集使用一個具有三或多排探測器乘以錐束重建權重和切向權重多排探測器的原始數據，并加權到獲得的投影數據上，對投影數據經過濾波反投影處理，以獲得圖像的像素數據。其中切向權重因子由一個三點或更多點的插值濾波器確定。

但是，目前通常是由設計人員根據經驗，手工調節濾波器的參數，來判斷切片方向濾波器的設計效果，進而控制切片的靈敏度分布情況，需要反復調試，效率很低。

發明內容

本發明實施例解決的是現有控制切片靈敏度分布的方法效率低下的技術問題。

為解決上述問題，本發明實施例提供了一種控制切片靈敏度分布的方法，所述方法包括：根據獲得的窗函數系數序列，生成濾波器的窗函數，所述窗函數中窗函數系數序數值與窗函數系數值具有一一對應關系；根據獲得的準直器探測器單元的寬度，生成探測器模擬函數；對所生成的濾波器窗函數與探測器模擬函數進行卷積運算，生成切片靈敏度分布函數，獲得所述切片的靈敏度分布。

可選的，所述方法還包括：根據所生成的濾波器的窗函數，生成所述濾波器在頻域的響應函數。

可選的，獲得窗函數系數序列包括以下其中至少一種：接收用戶輸入的窗函數系數序列并存儲；接收用戶從預設的窗函數系數值中所選擇窗函數系數值并存儲。

可選的，所述方法還包括：顯示所生成的濾波器的窗函數、探測器模擬函數、切片靈敏度分布函數及所述濾波器在頻域的響應函數分別對應的函數曲線。

可選的，所述方法還包括：根據檢測到的用戶對濾波器的窗函數曲線的拖動動作指令，生成所述拖動動作指令所對應的濾波器的窗函數。

可選的，所述窗函數系數序列中處于奇數位置的窗函數系數之和為1，所述窗函數系數序列中處于偶數位置的窗函數系數之和為1。

可選的，所述窗函數曲線是對稱的或者是非對稱的。

可選的，所述窗函系數序列中窗函數系數的數目小于探測器的排數。

可選的，所述探測器模擬函數為矩形函數，所述矩形函數的寬度為所述準直器探測器單元的寬度。