[發(fā)明專利]一種基于X射線的輪轂檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310342862.8 | 申請(qǐng)日: | 2013-08-07 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103424416A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-12-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃茜;吳元 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華南理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N23/04 | 分類號(hào): | G01N23/04 |
| 代理公司: | 廣州市華學(xué)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44245 | 代理人: | 蔡茂略 |
| 地址: | 510641 廣*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 射線 輪轂 檢測(cè) 系統(tǒng) 及其 方法 | ||
1.一種基于X射線的輪轂檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,包括:上位機(jī)、下位機(jī)、射線源、射線增強(qiáng)器、高壓發(fā)生器和CCD圖像傳感器,所述上位機(jī)、射線增強(qiáng)器、射線源、高壓發(fā)生器和下位機(jī)通過(guò)連接線依次連接,所述CCD圖像傳感器通過(guò)連接線與上位機(jī)連接;所述上位機(jī)包括缺陷檢測(cè)半自動(dòng)工作系統(tǒng),所述下位機(jī)包括PLC機(jī)械控制系統(tǒng)、PLC高壓控制系統(tǒng)、手動(dòng)控制面板、輪轂進(jìn)倉(cāng)傳送區(qū)、型號(hào)識(shí)別區(qū)、射線房工位控制區(qū)和輪轂出倉(cāng)區(qū);所述輪轂進(jìn)倉(cāng)傳送區(qū)、型號(hào)識(shí)別區(qū)、射線房工位控制區(qū)和輪轂出倉(cāng)區(qū)均與PLC機(jī)械控制系統(tǒng)連接;所述PLC高壓控制系統(tǒng)和PLC機(jī)械控制系統(tǒng)均與手動(dòng)控制面板連接,所述PLC高壓控制系統(tǒng)與所述高壓發(fā)生器連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于X射線的輪轂檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述缺陷檢測(cè)半自動(dòng)工作系統(tǒng)包括高壓控制模塊、射線圖像采集模塊、工位管理模塊、輪轂進(jìn)倉(cāng)線程控制模塊和輪轂檢測(cè)線程控制模塊,所述工位管理模塊包括依次連接的型號(hào)識(shí)別圖像采集模塊、工位數(shù)據(jù)庫(kù)和型號(hào)匹配模塊;所述型號(hào)識(shí)別圖像采集模塊和所述CCD圖像傳感器連接,所述射線圖像采集模塊與所述射線增強(qiáng)器連接,所述輪轂進(jìn)倉(cāng)線程控制模塊和輪轂檢測(cè)線程控制模塊與所述PLC機(jī)械控制系統(tǒng)連接,所述高壓控制模塊和PLC高壓控制系統(tǒng)連接,所述上位機(jī)為PC機(jī)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于X射線的輪轂檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述上位機(jī)具有用戶輸入設(shè)備,所述用戶輸入設(shè)備包括鼠標(biāo)和鍵盤(pán)。
4.一種實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1所述的基于X射線的輪轂檢測(cè)系統(tǒng)的檢測(cè)方法,其特征在于,包括如下步驟:
(1)初始化設(shè)置:射線增強(qiáng)器實(shí)時(shí)獲取射線圖像;
(2)創(chuàng)建輪轂型號(hào)工位數(shù)據(jù)庫(kù);
(3)啟動(dòng)半自動(dòng)工作系統(tǒng)前確保下位機(jī)輪轂進(jìn)倉(cāng)傳送區(qū)、型號(hào)識(shí)別區(qū)、射線房工位控制區(qū)和輪轂出倉(cāng)區(qū)均無(wú)輪轂,用戶通過(guò)上位機(jī)啟動(dòng)半自動(dòng)工作系統(tǒng);
(4)放置輪轂到型號(hào)識(shí)別區(qū),上位機(jī)確定輪轂型號(hào),提取工位數(shù)據(jù),傳送輪轂進(jìn)射線房工位控制區(qū);
(5)輪轂所有工位均經(jīng)過(guò)人工缺陷判斷,然后上位機(jī)發(fā)送指令給輪轂出倉(cāng)模塊,將輪轂送出倉(cāng),并分別由合格或不合格區(qū)推出。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟(2)中,所述創(chuàng)建輪轂型號(hào)工位數(shù)據(jù)庫(kù)包括如下步驟:
(2-1)放置期望創(chuàng)建工位數(shù)據(jù)型號(hào)的輪轂到型號(hào)識(shí)別區(qū),用戶通過(guò)用戶輸入設(shè)備輸入輪轂型號(hào)名信息創(chuàng)建新型號(hào),并通過(guò)CCD圖像傳感器拍攝輪轂型號(hào)識(shí)別圖像,由型號(hào)識(shí)別圖像采集模塊采集拍攝圖像保存進(jìn)工位數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)應(yīng)型號(hào)所在列表中;
(2-2)用戶通過(guò)手動(dòng)控制面板控制PLC機(jī)械控制系統(tǒng)將采集完型號(hào)識(shí)別圖像的輪轂從型號(hào)識(shí)別模塊經(jīng)輪轂進(jìn)倉(cāng)傳送模塊運(yùn)送到射線房工位控制區(qū);
(2-3)用戶通過(guò)手動(dòng)控制面板控制PLC機(jī)械控制系統(tǒng)調(diào)節(jié)輪轂平移距離、C型臂平移距離、C型臂擺臂角度和射線源強(qiáng)度這4套工位數(shù)據(jù)到合適數(shù)值后工位管理模塊獲取工位數(shù)據(jù)并保存到工位數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)應(yīng)型號(hào)所在的工位列表中;
(2-4)完成工位數(shù)據(jù)獲取后輪轂通過(guò)手動(dòng)控制面板控制控制PLC機(jī)械控制系統(tǒng)傳送輪轂進(jìn)入輪轂出倉(cāng)區(qū)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟(4)包括如下步驟:
(4-1)等待型號(hào)識(shí)別區(qū)狀態(tài)為等輪轂后,放置輪轂到型號(hào)識(shí)別區(qū)進(jìn)行型號(hào)識(shí)別,獲取輪轂工位列表;
(4-2)等待輪轂進(jìn)倉(cāng)傳送區(qū)狀態(tài)為等輪轂后,輪轂傳送到輪轂進(jìn)倉(cāng)傳送區(qū),等候進(jìn)入射線房工位控制區(qū);
(4-3)等射線房工位控制區(qū)狀態(tài)為等輪轂后,輪轂進(jìn)入射線房工位控制區(qū);
(4-4)循環(huán)執(zhí)行步驟(4-1)~(4-4)。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟(5)中,所述人工缺陷判斷的判斷方法包括如下步驟:
(5-1)輪轂檢測(cè)線程控制模塊將當(dāng)前工位數(shù)據(jù)中的輪轂移動(dòng)距離、C型臂平移距離和C型臂旋轉(zhuǎn)角度這三個(gè)參數(shù)傳送給PLC機(jī)械控制系統(tǒng)控制輪轂在射線房工位控制模塊中的移動(dòng)位置,C型臂平移距離,C型臂旋轉(zhuǎn)角度,實(shí)現(xiàn)拍攝輪轂部位自動(dòng)選擇;
(5-2)輪轂檢測(cè)線程控制模塊將當(dāng)前工位數(shù)據(jù)中射線源強(qiáng)度參數(shù)電壓和電流值傳送給PLC電壓控制系統(tǒng)控制高壓發(fā)生器調(diào)節(jié)射線源電壓和電流值,實(shí)現(xiàn)射線源強(qiáng)度自動(dòng)選擇;
(5-3)用戶通過(guò)用戶輸入設(shè)備對(duì)上位機(jī)采集到的射線圖像進(jìn)行缺陷判斷;
(5-4)如果用戶判斷為合格,如果當(dāng)前工位不是工位列表中最后一個(gè)工位,則上位機(jī)獲取工位列表下一行工位數(shù)據(jù)作為當(dāng)前工位,跳到步驟(5-1)繼續(xù)執(zhí)行,如果當(dāng)前工位是工位列表最后一個(gè)工位,則上位機(jī)判斷輪轂出倉(cāng)區(qū)狀態(tài)是否為等輪轂,是則將輪轂傳送到輪轂出倉(cāng)區(qū);如果用戶判斷為不合格,則上位機(jī)判斷輪轂出倉(cāng)區(qū)狀態(tài)是否為等輪轂,是則將輪轂傳送到輪轂出倉(cāng)區(qū);
(5-5)循環(huán)執(zhí)行步驟(5-1)~(5-5),直至輪轂需要檢測(cè)的部位全部檢測(cè)完畢。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
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