[發(fā)明專利]功耗約束下基于硬核的三維SoC測試調(diào)度方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310329419.7
• 申請日: 2013-07-31
• 公開（公告）號: CN103389456A
• 公開（公告）日: 2013-11-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 俞洋;劉旺;彭喜元;王帥;虞嬌蘭
• 申請（專利權(quán)）人: 哈爾濱工業(yè)大學(xué)
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109
• 代理人: 張利明

1.功耗約束下基于硬核的三維SoC測試調(diào)度方法，其特征在于，所述方法的具體過程為：

步驟一：基于硬核的三維SoC包括粗粒度IP核和細粒度IP核，先將細粒度IP核視為在各層上的多個部分，每層上的部分相當(dāng)于一個粗粒度IP核，將所有粗粒度IP核和細粒度IP核在各層上的部分統(tǒng)一進行編號，建立三維SoC測試調(diào)度的數(shù)學(xué)模型

T=Σi=1|M|yi·(maxj=i|M|{xij·tj}),]]>

其中|M|表示一個SoC中的IP核總數(shù)，x_ij表示一個二進制變量，當(dāng)編號為i的IP核和編號為j的IP核并行測試時，則x_ij取值為1，否則x_ij取值為0，i和j均為1到|M|之間的任意正整數(shù)，t_j為編號為j的IP核的測試時間，表示并行測試的各IP核測試時間的最大值，

y_i表示一個二進制變量，存在編號為i的IP核，若存在任意編號為j的IP核與編號為i的IP核并行測試，其中j<i，與IP核i并行測試，則y_i的取值為0；否則y_i的取值為1；

步驟二：引入變量

ci=maxj=i|M|{xij·tj}]]>和u_i＝y(tǒng)_u·c_i，

將步驟一中的數(shù)學(xué)模型線性化，得到其中c_i表示并行測試的編號為i的IP核測試時間的最大值，u_i表示引入變量y_i后的編號為i的IP核測試時間的最大值，

根據(jù)約束條件求得整個SoC的測試時間T的最小值，即獲得IP核的測試順序，然后根據(jù)該測試順序依次調(diào)度待測的IP核實現(xiàn)SoC測試調(diào)度。