[發明專利]用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置在審
| 申請號: | 201310328559.2 | 申請日: | 2013-07-31 |
| 公開(公告)號: | CN103413584A | 公開(公告)日: | 2013-11-27 |
| 發明(設計)人: | 黃自平;熊國華;李騰龍;周強;彭鋒 | 申請(專利權)人: | 中科華核電技術研究院有限公司;中國廣核集團有限公司 |
| 主分類號: | G21C17/00 | 分類號: | G21C17/00 |
| 代理公司: | 廣州三環專利代理有限公司 44202 | 代理人: | 張艷美;郝傳鑫 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市福田區上步中路*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 反應 堆堆 測量 系統 電流 處理 裝置 | ||
1.一種用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置,其特征在于:包括線性放大電路,所述線性放大電路與反應堆堆外核測量系統中間量程的補償電離室探測器相連,并將所述補償電離室探測器檢測到的微電流信號轉換為輸出電壓,所述線性放大電路為反相閉環放大電路,所述反相閉環放大電路之運算放大器的輸入阻抗為1014Ω以上,偏置電流為1pA以下。
2.如權利要求1所述的用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置,其特征在于:所述線性放大電路的反饋回路上并聯有調整電路,所述調整電路包括變阻器和模擬開關,所述模擬開關與所述變阻器相連并依據所述微電流信號的電流檔位調節所述變阻器的阻值,且所述模擬開關的漏電電流為1pA以下。
3.如權利要求2所述的用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置,其特征在于:所述變阻器為高性能瓷釉高阻。
4.如權利要求2所述的用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置,其特征在于:所述變阻器上并聯有可變電容器,所述模擬開關依據反應堆堆外核測量系統的響應時間調節所述可變電容器的電容值。
5.如權利要求4所述的用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置,其特征在于:所述可變電容器為聚四氟乙烯電容。
6.如權利要求2所述的用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置,其特征在于:所述線性放大電路還包括電位轉移電路,所述電位轉移電路包括第一電阻和第二電阻,所述第一電阻串接于所述反饋回路上并位于所述反饋回路之反饋電阻的輸入端和運算放大器的輸出端之間,所述第二電阻連接于所述反饋電阻的輸入端和地之間。
7.如權利要求6所述的用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置,其特征在于:所述變阻器的最高阻值為1GΩ以上,所述反饋回路之反饋電阻的阻值為1GΩ,所述第一電阻為9KΩ,所述第二電阻為1KΩ。
8.如權利要求2所述的用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置,其特征在于:所述模擬開關為高速模擬開關MAX338。
9.如權利要求1所述的用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置,其特征在于:所述線性放大電路的反饋回路上并聯有反饋電容。
10.如權利要求1所述的用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置,其特征在于:所述線性放大電路還包括第一JFET管和第二JFET管,所述第一JFET管的輸入端接所述運算放大器之同相輸入端,輸出端接所述運算放大器之反相輸入端,所述第二JFET管的輸入端接所述運算放大器之反相輸入端,輸出端接所述運算放大器之同相輸入端,且所述第一JFET管和第二JFET管的漏電電流為1pA以下。
11.如權利要求1所述的用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置,其特征在于:所述運算放大器為靜電型集成運算放大器OPA128。
12.如權利要求1所述的用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置,其特征在于:所述運算放大器之反相輸入端和/或同相輸入端通過絕緣端子安裝于所述線性放大電路的電路板上。
13.如權利要求1所述的用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置,其特征在于:還包括高碳鋼材料制成的屏蔽盒,所述線性放大電路密封地安裝于所述屏蔽盒內。
14.如權利要求13所述的用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置,其特征在于:所述屏蔽盒外層設有鍍銅層、里層設有鍍銀層。
15.如權利要求1所述的用于反應堆堆外核測量系統的微電流處理裝置,其特征在于:所述線性放大電路之電路板采用多點分布式接地方式進行布線。
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