[發(fā)明專利]一種延伸波長的平面型銦鎵砷紅外探測器芯片制備方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310327079.4 | 申請日: | 2013-07-30 |
| 公開(公告)號: | CN103413863A | 公開(公告)日: | 2013-11-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊波;鄧洪海;朱龍源;邵秀梅;李雪;李淘;唐恒敬;魏鵬;王云姬;龔海梅 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
| 地址: | 200083 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 延伸 波長 平面 型銦鎵砷 紅外探測器 芯片 制備 方法 | ||
1.一種延伸波長的平面型銦鎵砷紅外探測器芯片制備方法,其步驟包括:1)在傳統(tǒng)的平面型銦鎵砷外延材料中生長一層銦鎵砷腐蝕阻擋層,2)制備背照射光敏芯片,3)將光敏芯片與讀出電路倒焊,4)充膠,5)去除磷化銦襯底,6)去除銦鎵砷腐蝕阻擋層,7)光刻膠剝離,8)芯片測試,其特征在于:
A.所述的步驟1)中,在傳統(tǒng)的平面型銦鎵砷外延材料上采用金屬有機化學(xué)氣相沉積工藝生長一層厚度為0.2μm的銦鎵砷腐蝕阻擋層;
B.所述的步驟5)中,去除磷化銦襯底采用化學(xué)機械拋光和濕法腐蝕相結(jié)合的方法,機械拋光轉(zhuǎn)速為12轉(zhuǎn)/分鐘,濕法腐蝕液采用36.5%鹽酸溶液和磷酸溶液的混合液,其體積配比為3:1,腐蝕溫度為25℃;
C.所述的步驟6)中,采用濕法腐蝕去除銦鎵砷腐蝕阻擋層,腐蝕液為50%酒石酸溶液和雙氧水的混合液,其體積配比為5:1,腐蝕溫度為35℃。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的
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