[發明專利]一種原子核能級壽命測量實驗中的反饋控制方法

有效

• 申請號: 201310321411.6
• 申請日: 2013-07-29
• 公開（公告）號: CN103425824A
• 公開（公告）日: 2013-12-04
• 發明（設計）人: 汪金龍;吳曉光;楊標;吳義恒;胡世鵬
• 申請（專利權）人: 中國原子能科學研究院
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種原子核能級壽命測量實驗中的反饋控制方法，包括以下步驟：

（Ⅰ）將原子核能級壽命測量實驗中所采用的靶膜和阻停膜連接成一平行板電容器，建立刻度的電容-距離數據庫；

（Ⅱ）設定兩膜之間的距離為實驗要求距離D₀；

（Ⅲ）測量由外部干擾引起的步驟（Ⅰ）的平行板電容器的電容的變化，獲得當前電容C_act，并通過電容法解算出當前靶膜和阻停膜實際距離D_act；

（Ⅳ）計算實際距離D_act與實驗要求距離D₀的偏差量ΔD=D₀-D_act，并將ΔD輸入到一控制器中；

（Ⅴ）若ΔD≥0.1μm，表示ΔD未達到精度要求，通過控制器將這個偏差量發給一驅動器，通過驅動器驅動承載靶膜和阻停膜的移動平臺動作，使兩膜距離回到D₀，并返回步驟（Ⅲ）；若ΔD達到精度要求，則控制器發出不動作指令。

2.根據權利要求1所述的原子核能級壽命測量實驗中的反饋控制方法，其特征在于，步驟（Ⅰ）中，建立刻度的電容-距離數據庫包括：測量靶膜和阻停膜之間某一距離D下對應的電容C，以及在特定的距離范圍內對電容C、距離D的值進行擬合，得到擬合關系式。

3.根據權利要求1所述的原子核能級壽命測量實驗中的反饋控制方法，其特征在于，步驟（Ⅲ）中，通過電容法解算出當前靶膜和阻停膜實際距離D_act時，可采用函數擬合法實現，具體的實現方式為：

1）輸入實驗要求距離D₀;

2)若D₀≤D_limit，則調用探測的平行板電容器的電容C_act；若D₀＞D_limit，則停止解算；其中，D_limit表示電容法允許的最大電容對應的距離值；

3）若D₀＞20μm，調用刻度的電容-距離數據庫中的線性擬合關系式，計算實際距離D_act；若D₀≤20μm，調用刻度的電容-距離數據庫中的非線性擬合關系式，計算實際距離D_act。

4.根據權利要求1所述的一種原子核能級壽命測量實驗中的反饋控制方法，其特征在于，步驟（Ⅲ）中，通過電容法解算出當前靶膜和阻停膜實際距離D_act時，也可采用調用庫法實現，具體的實現方式為：

ⅰ）輸入實驗距離D₀；

ⅱ）若D₀≤D_limit，則調用探測的平行板電容器的電容C_act；若D₀≥D_limit，則停止解算；其中，D_limit表示電容法允許最大電容對應的距離值；

ⅲ）在刻度的電容-距離數據庫中搜索電容C_act所在的范圍；

ⅳ）若C_act不在C_i、C_i+1值之間，返回步驟ⅲ）；若C_i≤C_act≤C_i+1，則按照式③解算實際距離值D_act，D=[(Di+1-Di)/(1Ci+1-1Ci)](1C-1Ci)+Di]]>???????③。