[發(fā)明專利]利用標(biāo)準(zhǔn)輻射溫度計(jì)測量高溫表面溫度均勻性的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310320862.8
• 申請(qǐng)日: 2013-07-26
• 公開（公告）號(hào): CN103411685A
• 公開（公告）日: 2013-11-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張俊祺;孫富韜;王文革;張曉菲;趙化業(yè)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京航天計(jì)量測試技術(shù)研究所;中國運(yùn)載火箭技術(shù)研究院
• 主分類號(hào): G01J5/52
• 分類號(hào): G01J5/52
• 代理公司: 核工業(yè)專利中心 11007
• 代理人: 莫丹

1.一種利用標(biāo)準(zhǔn)輻射溫度計(jì)測量高溫表面溫度均勻性的方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：

（1）在被測物體表面噴涂上黑色、發(fā)射率大于0.88的涂料，涂層厚度控制在0.05～0.1mm；

（2）待步驟（1）所述的涂料干燥后，加熱被測物體至500～1000℃，保持溫度30min以上，采用光譜發(fā)射率測量儀測得涂料的發(fā)射率數(shù)據(jù)ε，測量發(fā)射率的準(zhǔn)確度<0.01；

（3）在步驟（2）測量后穩(wěn)定10min以上，采用可調(diào)發(fā)射率參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)輻射溫度計(jì)進(jìn)行測量，測量前先調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)輻射溫度計(jì)發(fā)射率參數(shù)為ε，以抑制發(fā)射率對(duì)表面溫度測量的影響，然后開始測量被測物體表面溫度T：

在被測物體表面選取5～9個(gè)位置，分別測量這些位置處的溫度值T₁～T₅，記錄最大值為T_max，溫度最小值為T_min，計(jì)算被測物體表面溫度均勻性為T_max-T_min。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種利用標(biāo)準(zhǔn)輻射溫度計(jì)測量高溫表面溫度均勻性的方法，其特征在于，所述的高溫表面的溫度上限為1000℃。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種利用標(biāo)準(zhǔn)輻射溫度計(jì)測量高溫表面溫度均勻性的方法，其特征在于，所述的涂料為意大利OMP公司的黑色高發(fā)射率涂料。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種利用標(biāo)準(zhǔn)輻射溫度計(jì)測量高溫表面溫度均勻性的方法，其特征在于，所述的光譜發(fā)射率測量儀為美國ET公司的ET100光譜發(fā)射率測量儀。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種利用標(biāo)準(zhǔn)輻射溫度計(jì)測量高溫表面溫度均勻性的方法，其特征在于，所述的標(biāo)準(zhǔn)輻射溫度計(jì)為德國斯圖加特大學(xué)的LP5標(biāo)準(zhǔn)輻射溫度計(jì)。