[發明專利]用于識別觸摸板上的手指觸摸并確定其位置的方法

有效

• 申請號: 201310314837.9
• 申請日: 2013-07-24
• 公開（公告）號: CN104346001B
• 公開（公告）日: 2017-05-17
• 發明（設計）人: 鄭惟鍵;陳永志;蔡偉柏
• 申請（專利權）人: 晶門科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司44223
• 代理人: 江耀純

1.一種通過分析觸摸板的電極的電容變化來識別由至少一手指在觸摸板上的觸摸并確定所述觸摸的位置的方法，其中所述電容的變化表示為至少一陣列，其特征在于，所述方法包括：

在預定的循環次數中掃描所述至少一陣列的元素；

在每次循環中將每個元素與相鄰的元素進行比較；

基于比較，將多個元素拓殖到一群集中；

通過將所述群集的特性與預定的一組臨界值進行比較，確認群集；

通過計數群集內的元素的數量，計算群集大小；

基于每個經確認的群集的群集大小，計算混合比；

形成擬合陣列，該擬合陣列包括群集中的最大元素、以及鄰近該最大元素的多個元素；

計算擬合該擬合陣列具有最小均方差的曲線或者曲面的多個系數；

采用所述系數確定觸摸的第一位置；

形成包括拓殖的元素的加權平均陣列；

計算所述加權平均陣列的質量矩和質量；

通過用質量除以質量矩，確定觸摸的第二位置；

基于第一位置、第二位置和混合比確定觸摸的混合位置，使得所確定位置的分辨率高于觸摸板的物理分辨率；

所述混合比的值介于0和1之間；通過將第二位置與混合比相乘、將第一位置與1-混合比相乘、并將兩個乘積相加，進一步確定觸摸的混合位置。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述電容的變化表示為兩個一維陣列，且在交替的循環過程中，對每個一維陣列執行向前方向掃描和向后方向掃描。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，每個一維陣列中的每個元素都以預定的次序在不同的掃描方向上與它鄰近的兩個元素進行比較。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，基于比較，每個一維陣列的多個元素被分組為群集，從而形成多個群集。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，與預定的一組臨界值進行比較的群集特性包括群集中的元素最大值、群集的元素的數量、以及群集的所有元素的值的和。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述確認群集的步驟包括：如果群集的特性不能滿足所述預定的一組臨界值，則去除該群集。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述電容的變化表示為二維陣列，且在交替的循環過程中，對二維陣列執行向前方向掃描和向后方向掃描。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述二維陣列中的每個元素都以預定的次序在不同的掃描方向上與它鄰近的八個元素進行比較。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，基于比較，所述二維陣列的多個元素被分組為群集，從而形成多個群集。

10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，與預定的一組臨界值進行比較的群集特性包括群集中的元素最大值、群集的元素的數量、以及群集的所有元素的值的和。

11.根據權利要求10所述的方法，其特征在于，所述確認群集的步驟包括：如果群集的特性不能滿足所述預定的一組臨界值，則去除該群集。

12.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在計算系數時，固定的坐標系統被應用于擬合陣列的多個元素，使得偽逆矩陣變成常數。

13.根據權利要求12所述的方法，其特征在于，所述偽逆矩陣中的元素被歸一化為整數。

14.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在確定觸摸的位置時，一個系數被另一個系數相除，從而從執行該除法的除法器的小數精度增加分辨率。