[發(fā)明專利]一種具有新型柵結(jié)構(gòu)的柵控半導體器件有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310313080.1 | 申請日: | 2013-07-24 |
| 公開(公告)號: | CN103400854A | 公開(公告)日: | 2013-11-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王元剛;馮志紅;敦少博;呂元杰;房玉龍;顧國棟;宋旭波 | 申請(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團公司第十三研究所 |
| 主分類號: | H01L29/423 | 分類號: | H01L29/423;H01L29/778 |
| 代理公司: | 石家莊國為知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 13120 | 代理人: | 陸林生 |
| 地址: | 050051 *** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 具有 新型 結(jié)構(gòu) 半導體器件 | ||
1.一種具有新型柵結(jié)構(gòu)的柵控半導體器件,其特征在于自下而上包括襯底(1)、中間層和柵結(jié)構(gòu),所述柵控半導體器件的柵結(jié)構(gòu)沿柵寬方向由介質(zhì)柵和肖特基柵交替連接組成;所述介質(zhì)柵的數(shù)目n1和肖特基柵的數(shù)目n2均為大于等于1的整數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有新型柵結(jié)構(gòu)的柵控半導體器件,其特征在于所述介質(zhì)柵柵寬度d1范圍為:1nm≤d1≤10mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種具有新型柵結(jié)構(gòu)的柵控半導體器件,其特征在于所述為肖特基柵柵寬度d2范圍為:1nm≤d2≤10mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有新型柵結(jié)構(gòu)的柵控半導體器件,其特征在于所述肖特基柵為平面柵或者凹槽柵,所述介質(zhì)柵為平面柵或者凹槽柵。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的一種具有新型柵結(jié)構(gòu)的柵控半導體器件,其特征在于各介質(zhì)柵的柵介質(zhì)(7)的厚度h相等,且h大于0nm且小于等于1mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的一種具有新型柵結(jié)構(gòu)的柵控半導體器件,其特征在于所述介質(zhì)柵和肖特基柵所用金屬為相同金屬。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種具有新型柵結(jié)構(gòu)的柵控半導體器件,其特征在于所述柵控半導體器件為Si柵控器件、III族氮化物柵控器件、GaAs柵控器件、金剛石柵控器件、石墨烯柵控器件、Ge柵控器件或InP柵控器件。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的
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