[發明專利]光掃描單元和包括其的電子照相成像設備

有效

• 申請號: 201310312618.7
• 申請日: 2013-07-24
• 公開（公告）號: CN103809289A
• 公開（公告）日: 2014-05-21
• 發明（設計）人: 樸基成
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G02B26/12
• 分類號: G02B26/12;G03G15/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 張波

技術領域

本公開涉及光掃描單元和包括其的成像設備，更具體地，涉及具有改善的結構的光掃描單元和包括該光掃描單元的成像設備，該光掃描單元包括用于探測水平同步信號的同步探測系統。

背景技術

光掃描單元將從光源發射的光掃描到預定區域上，其被用于不同的設備和裝置，諸如電子照相成像設備、掃描顯示裝置等等。

由于光掃描單元通過利用被掃描的光來形成圖像，所以確定掃描的起始位置和結束位置是重要的，因此光掃描單元包括用于使圖像水平地同步的同步探測系統。

例如，在電子照相成像設備諸如激光束打印機、數字影印機或多功能打印機（MFP）中，光掃描單元通過在光電導鼓上掃描光束來形成靜電潛像。所形成的靜電潛像通過使用顯影劑諸如調色劑而被顯影為顯影圖像，該顯影圖像被轉印到打印介質。在這樣的成像設備中，如果在光電導鼓上被掃描的光束的掃描位置關于每一掃描行而不同，則發生圖像偏移，而顏色彼此交疊以形成彩色圖像的位置被移動。因此，為了實現高分辨率圖像，需要使得掃描開始位置在計時上的變化最小化的同步探測系統。

發明內容

附加的方面和/或優點將在隨后的描述中部分地闡述，并且部分地由該描述而顯見，或者可以通過本發明的實踐而習之。

本公開提供了一種光掃描單元和包括該光掃描單元的成像設備，在該光掃描單元中減小了由于光偏轉器的光偏轉表面的表面塌陷而導致的掃描開始位置的變化。

根據一個方面，提供了一種光掃描單元，其包括：光源，根據圖像信號發射光束；光偏轉器，偏轉和掃描從光源發射的光束；以及同步探測光學系統，包括通過接收被光偏轉器偏轉和掃描的光束的一部分來探測同步信號的同步探測傳感器和設置在光偏轉器與同步探測傳感器之間的同步探測透鏡，其中同步探測透鏡是變形透鏡，在該變形透鏡中在第一方向上的折射能力和在不同于第一方向的第二方向上的折射能力是不同的，其中同步探測透鏡的第一方向關于主掃描方向傾斜，入射到同步探測透鏡上的光束在該主掃描方向上被掃描。

當沿著正交于主掃描方向的輔掃描平面觀看時，從光源發射的光束可以傾斜地入射到光偏轉器的偏轉表面上。同步探測透鏡的第一方向與主掃描方向之間的角△θ可以通過分別在主掃描方向和輔掃描方向上行進到同步探測透鏡的光束關于光偏轉器的入射角α和入射角β而被確定，該角△θ獨立于光偏轉器的表面塌陷的程度。

同步探測透鏡的第一方向與主掃描方向之間的角△θ可以大于在輔掃描方向上光束關于光偏轉器的入射角β。

同步探測透鏡的第一方向與主掃描方向之間的角△θ可以通過以下等式表示：

<等式>

Δθ＝arctan(tanα·tanβ)。

同步探測傳感器可以具有矩形的探測表面，該探測表面的寬度方向可以以由以上等式表示的角△θ傾斜。

在輔掃描方向上光束關于光偏轉器的入射角β可以在0至10度的范圍內。在輔掃描方向上光束關于光偏轉器的入射角β可以在2至4度的范圍內。

在同步探測透鏡的第一方向與主掃描方向之間的角△θ可以在3至20度的范圍內。

同步探測傳感器可以具有矩形的探測表面，該探測表面的寬度方向關于主掃描方向傾斜。同步探測透鏡的第一方向和探測表面的寬度方向可以彼此平行。備選地，探測表面的寬度方向可以關于主掃描方向傾斜。

同步探測透鏡的第一方向可以正交于同步探測透鏡的光軸，同步探測透鏡的第二方向可以正交于同步探測透鏡的光軸和第一方向兩者。

同步探測透鏡在第二方向上的折射能力可以大于同步探測透鏡在第一方向上的折射能力。同步探測透鏡可以通過在第二方向上的折射能力而在輔掃描方向上使光束成像在同步探測傳感器的探測表面上。

當沿著正交于主掃描方向的輔掃描平面觀看時，同步探測光學系統可以具有關于光偏轉器的偏轉表面和同步探測傳感器的探測表面的結合關系。

變形透鏡的至少一個外表面可以正交于主掃描方向，變形透鏡的第一方向可以關于正交于主掃描方向的該至少一個外表面傾斜。變形透鏡的至少一個外表面可以正交于第一方向，正交于第一方向的該至少一個外表面可以關于主掃描方向傾斜。