[發明專利]用于在熔融金屬中進行取樣的測量探針

有效

• 申請號: 201310310944.4
• 申請日: 2013-07-23
• 公開（公告）號: CN103630423A
• 公開（公告）日: 2014-03-12
• 發明（設計）人: 德里·拜恩斯;埃里克·B·博特爾斯
• 申請（專利權）人: 賀利氏電子耐特國際股份公司
• 主分類號: G01N1/10
• 分類號: G01N1/10
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 顧紅霞;彭會

1.一種用于在熔融金屬中、尤其是在熔融鋼中進行取樣的測量探針，所述測量探針具有布置在支撐管（27）的浸入端上的測量頭（9），由此所述測量頭（9）包括至少一個樣品室（15），由此所述樣品室（15）包括進料道（14），所述進料道（14）的一端通向所述樣品室（15），并且所述進料道（14）的第二端包括從所述測量頭（9）的正面突出的進料口（24），所述測量頭（9）的正面背對所述支撐管（27），并且所述進料口（24）被保護帽（18）覆蓋，其特征在于保護罩（19）被布置在所述進料道（14）的外面、沿進料方向處在所述進料口（24）的上游并且離所述進料口（24）一定距離處，由此所述保護罩（19）覆蓋了所述進料口（24），并且由此所述保護罩（19）并沒有在橫向上完全地包圍所述進料道（14）。

2.根據權利要求1所述的測量頭，其特征在于所述保護罩（19）相比于所述進料口（24）的所述保護帽（18）對于熔融鋼具有更強的抵抗力。

3.根據權利要求1或2所述的測量頭，其特征在于所述保護罩（19）是布置在所述測量頭（9）的所述正面上。

4.根據權利要求1至3中任一權利要求所述的測量頭，其特征在于所提供的所述保護罩（19）是成角度的條狀材料。

5.根據權利要求1至4中任一權利要求所述的測量頭，其特征在于所述保護罩（19）是由金屬、陶瓷或石英制成。

6.根據前述權利要求中任一權利要求所述的測量頭，其特征在于在保護罩（19）與進料道（14）之間形成了一個表面，所述表面沿所述保護罩（19）的方向在所述進料道（14）的虛擬延伸物上形成其圓周并且大于所述進料口（24）的表面區域。

7.根據前述權利要求中任一權利要求所述的測量頭，其特征在于進料口（24）與保護罩（19）之間沿所述進料道（14）的方向所取的距離至少是所述進料口（24）直徑的一半。

8.根據前述權利要求中任一權利要求所述的測量頭，其特征在于所述測量頭（9）的所述正面被熔渣帽（20）覆蓋，所述正面具有所述進料道（14）與所述保護罩（19）。

9.根據前述權利要求中任一權利要求所述的測量頭，其特征在于至少一個傳感器（16）被布置在所述測量頭（9）上，用于測量溫度或者熔融金屬的任何其他參數。