[發明專利]光電望遠鏡光學系統透過率的外場測量裝置及測量方法

有效

• 申請號: 201310310736.4
• 申請日: 2013-07-23
• 公開（公告）號: CN103398984A
• 公開（公告）日: 2013-11-20
• 發明（設計）人: 喬健;韓光宇;曹立華;郭勁
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01N21/59
• 分類號: G01N21/59
• 代理公司: 長春菁華專利商標代理事務所 22210
• 代理人: 王丹陽

1.光電望遠鏡光學系統透過率的外場測量裝置，其特征在于，該裝置包括：

支撐架（1）；

安裝在所述支撐架（1）上的手動調整平臺（2）；

固定在所述手動調整平臺（2）上的He-Ne激光器（3）；

主要由探頭（41）和輸出顯示裝置（42）組成的激光功率計（4），所述探頭（41）放置在He-Ne激光器（3）的輸出窗口（31）前端，并與He-Ne激光器（3）的激光輸出光軸垂直。

2.根據權利要求1所述的光電望遠鏡光學系統透過率的外場測量裝置，其特征在于，所述支撐架（1）由支腿（11）和安裝平臺（12）組成，所述手動調整平臺（2）安裝在所述安裝平臺（12）的上表面上，所述三個或四個支腿（11）固定在所述安裝平臺（12）的下表面上，相鄰兩個支腿（11）之間的間距相等，所有支腿（11）向外側傾斜的角度相等。

3.如權利要求1所述的光電望遠鏡光學系統透過率的外場測量裝置的測量方法，其特征在于，該方法的條件和步驟如下：

步驟一、調整支撐架（1）使He-Ne激光器（3）的激光束進入光電望遠鏡（6）的光學系統視場內，微調手動調整平臺（2）使He-Ne激光器（3）的激光束與光學系統的光軸平行；

步驟二、將探頭（41）放置在He-Ne激光器（3）的輸出窗口（31）前端，并與He-Ne激光器（3）的激光輸出光軸保持垂直，探頭（41）將He-Ne激光器（3）的激光束完全覆蓋，記錄此時輸出顯示裝置（42）的數值；

步驟三、將探頭（41）放置在光電望遠鏡（6）的像面位置，并與光學系統的光軸保持垂直，探頭（41）將經過光學系統的光學鏡組（64）出射的激光束完全覆蓋，記錄此時輸出顯示裝置（42）的數值；

步驟四、將步驟二中的數值除以步驟三中的數值，得到的比值即為光學系統的透過率值；

步驟五、改變He-Ne激光器（3）的輸出波長，重復步驟二、步驟三和步驟四，求出不同輸出波長下光學系統的透過率值，將得到的多個透過率值取均方根求得光學系統的最終透過率。

4.根據權利要求3所述的光電望遠鏡光學系統透過率的外場測量裝置的測量方法，其特征在于，所述光電望遠鏡（6）的光學系統包括：主鏡（62）、次鏡（61）、分色鏡（63）和光學鏡組（64）；所述He-Ne激光器（3）的激光束依次經過所述主鏡（62）、次鏡（61）、分色鏡（63）和光學鏡組（64）后出射。