[發(fā)明專(zhuān)利]一種國(guó)產(chǎn)制式手槍射擊距離的分析推斷方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310308766.1
• 申請(qǐng)日: 2013-07-22
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103438922A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-12-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 胡孫林;溫錦鋒;劉超;李富海;范恒勝;黃煒;張曉芬
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 廣州市刑事科學(xué)技術(shù)研究所
• 主分類(lèi)號(hào): G01D21/00
• 分類(lèi)號(hào): G01D21/00;G01N23/22
• 代理公司: 廣州市深研專(zhuān)利事務(wù)所 44229
• 代理人: 姜若天

1.一種國(guó)產(chǎn)制式手槍射擊距離的分析推斷方法，其特征在于包括以下步驟：

（1）制備參考樣品：

以尺寸為3-8mm（長(zhǎng)）×3-8mm（寬）×10-100μm（厚）、純度>95-98%（重量百分比）的鐵片為參考樣品，將其置于射擊殘留物提取器的碳導(dǎo)電膠上，扣上密封蓋后置真空干燥箱內(nèi)保存；

（2）射擊殘留物提取：

用射擊殘留物提取器在槍擊案件中射擊客體上距入射口0-100cm范圍內(nèi)反復(fù)粘取附著物，直至碳導(dǎo)電膠面失去粘性；

（3）鍍膜處理：

根據(jù)所提取檢材導(dǎo)電能力決定是否進(jìn)行鍍膜處理：若掃描電鏡下，由于檢材導(dǎo)電性差導(dǎo)致電荷積累，從而產(chǎn)生明顯的充電現(xiàn)象，則需利用真空鍍膜儀或離子濺射儀在檢材表面鍍上一層碳膜，碳膜的厚度控制在5-20nm；若檢材在掃描電鏡下無(wú)明顯充電現(xiàn)象，則無(wú)需進(jìn)行鍍膜處理。

（4）射擊殘留物掃描電鏡能譜分析：

采用掃描電鏡能譜儀對(duì)案件檢材中含有S、Pb、Sn、Sb元素，每個(gè)元素的相對(duì)百分含量均在5-10％以上的射擊殘留物進(jìn)行檢測(cè)分析。

（5）試射與距離推斷：

試射環(huán)境：選擇與案件現(xiàn)場(chǎng)相同或相接近的地理位置和氣候條件下進(jìn)行試射實(shí)驗(yàn)；

試射手槍與子彈：采用型號(hào)與槍擊案件中嫌疑人所使用槍彈相同的手槍和子彈進(jìn)行試射實(shí)驗(yàn)；

試射客體：采用與槍擊案件中射擊客體材質(zhì)相同或接近的材料作為靶材；

試射距離：在0cm-1000cm范圍內(nèi)選擇5-10個(gè)射擊距離，分別進(jìn)行射擊，每個(gè)距離至少射擊3次；

射擊距離推斷：

按步驟（2）-（4）對(duì)試射實(shí)驗(yàn)中靶材上的射擊殘留物進(jìn)行提取和分析，對(duì)案件檢材和試射實(shí)驗(yàn)樣本的檢驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行比較，并根據(jù)比較結(jié)果推斷射擊距離，所推斷的射擊距離應(yīng)以區(qū)間范圍的形式進(jìn)行表述。

案件檢材GSR檢驗(yàn)結(jié)果應(yīng)與某一試射距離樣本GSR檢驗(yàn)結(jié)果相一致，該試射距離應(yīng)包含在該區(qū)間內(nèi)，區(qū)間的寬度大于10cm；若檢材中未檢出射擊殘留物顆粒，則采用下列三點(diǎn)法推斷射擊距離：

第一點(diǎn)，該距離射擊下均可檢出GSR，全陽(yáng)性；

第二點(diǎn)，該距離射擊下GSR檢測(cè)時(shí)而陽(yáng)性，時(shí)而陰性；

第三點(diǎn)，該距離射擊下均不能檢出GSR，全陰性。

所推斷射擊距離表述為：射擊距離不小于第二點(diǎn)的距離。