[發(fā)明專利]檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備和檢測(cè)限度計(jì)算方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310308509.8 | 申請(qǐng)日: | 2013-07-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103565451A | 公開(公告)日: | 2014-02-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 小田泰史 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 富士膠片株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | A61B6/00 | 分類號(hào): | A61B6/00 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人: | 李佳;穆德駿 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測(cè) 限度 計(jì)算 設(shè)備 計(jì)算方法 | ||
1.一種檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備,包括:
計(jì)算組件,為了使用圖像捕獲組件來對(duì)成像被攝體的放射線照相圖像進(jìn)行圖像捕獲,所述計(jì)算組件基于關(guān)于所述成像被攝體的成像被攝體數(shù)據(jù)、或者關(guān)于放射線照射的照射數(shù)據(jù)、或者基于這兩者,來計(jì)算檢測(cè)組件的檢測(cè)限度,所述檢測(cè)組件基于放射線的放射線量來檢測(cè)放射線的照射是否已經(jīng)開始,所述放射線包括已被照射并且透過所述成像被攝體的放射線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備,其中,所述計(jì)算組件基于所述成像被攝體數(shù)據(jù)和所述照射數(shù)據(jù)這兩者,來計(jì)算由所述檢測(cè)組件的檢測(cè)是否可能。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備,其中,所述成像被攝體數(shù)據(jù)包括選自以下組中的至少一個(gè)因素,該組包含:所述成像被攝體的厚度、所述成像被攝體的高度和重量、所述成像被攝體的圖像捕獲部位、所述成像被攝體的所述圖像捕獲部位的尺寸、以及所述成像被攝體的所述圖像捕獲部位的形狀。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備,進(jìn)一步包括:改變組件,所述改變組件基于所述計(jì)算組件的計(jì)算結(jié)果來改變所述檢測(cè)組件的檢測(cè)敏感度。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備,其中:
所述計(jì)算組件的計(jì)算結(jié)果是作為檢測(cè)限度的檢測(cè)敏感度限度,
比較組件,所述比較組件被提供用于比較所述檢測(cè)組件的所述檢測(cè)敏感度限度和當(dāng)前檢測(cè)敏感度,以及
所述改變組件基于所述比較組件的所述比較結(jié)果來改變所述檢測(cè)組件的所述檢測(cè)敏感度。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備,進(jìn)一步包括:計(jì)算結(jié)果通知組件,所述計(jì)算結(jié)果通知組件通知所述計(jì)算組件的計(jì)算結(jié)果。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備,進(jìn)一步包括:成像被攝體數(shù)據(jù)接收組件,所述成像被攝體數(shù)據(jù)接收組件接收所述成像被攝體數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備,進(jìn)一步包括:照射數(shù)據(jù)接收組件,所述照射數(shù)據(jù)接收組件接收所述照射數(shù)據(jù)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備,其中,在所照射的放射線的放射線量隨著時(shí)間的改變滿足特定照射檢測(cè)條件的情況下,所述檢測(cè)組件檢測(cè)到放射線照射開始。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備,其中,所述特定照射檢測(cè)條件包括:每單位時(shí)間的放射線量的改變量超過閾值的情況、或者每單位時(shí)間的放射線量的改變量是閾值或更大的次數(shù)是預(yù)定次數(shù)或更大的情況、或者這兩種情況。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備,進(jìn)一步包括:控制組件,所述控制組件通過控制使得不管所述檢測(cè)組件的檢測(cè)結(jié)果如何都執(zhí)行電荷累積,來控制所述圖像捕獲組件,所述圖像捕獲組件根據(jù)所照射的放射線累積電荷并且基于所累積的電荷生成放射線照相圖像。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備,進(jìn)一步包括:通知組件,所述通知組件通知所述控制組件正在控制使得在所述圖像捕獲組件中執(zhí)行電荷累積。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備,其中:
所述圖像捕獲組件包括:包含多個(gè)像素的放射線檢測(cè)設(shè)備,每個(gè)像素包括相應(yīng)傳感器部以及相應(yīng)開關(guān)元件,所述相應(yīng)傳感器部根據(jù)所照射的放射線的放射線量來生成電荷,所述相應(yīng)開關(guān)元件從所述傳感器部讀取電荷并且將符合所述電荷的電信號(hào)輸出到信號(hào)線;以及,公共電極線,所述公共電極線將偏置電壓提供給所述傳感器部;以及
在從所述傳感器部中生成的電荷產(chǎn)生并且在所述公共電極線中流動(dòng)的電信號(hào)滿足特定照射檢測(cè)條件的情況下,所述檢測(cè)組件檢測(cè)出放射線的照射已經(jīng)開始。
14.一種放射線檢測(cè)設(shè)備,包括:
檢測(cè)組件,為了利用圖像捕獲組件來對(duì)成像被攝體的放射線照相圖像進(jìn)行圖像捕獲,所述檢測(cè)組件基于放射線的放射線量來檢測(cè)放射線的照射是否已經(jīng)開始,所述放射線包括已被照射并且透過所述成像被攝體的放射線;以及
根據(jù)權(quán)利要求1至權(quán)利要求13中任一項(xiàng)所述的檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備,所述檢測(cè)限度計(jì)算設(shè)備計(jì)算所述檢測(cè)組件的所述檢測(cè)限度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于富士膠片株式會(huì)社,未經(jīng)富士膠片株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310308509.8/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗(yàn)設(shè)備、驗(yàn)證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動(dòng)設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點(diǎn)設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





