[發明專利]一種在離子阱質量分析器中進行的串級質譜分析方法

有效

• 申請號: 201310303472.X
• 申請日: 2013-07-18
• 公開（公告）號: CN103413751A
• 公開（公告）日: 2013-11-27
• 發明（設計）人: 徐福興;王亮;丁傳凡
• 申請（專利權）人: 復旦大學
• 主分類號: H01J49/42
• 分類號: H01J49/42;H01J49/02;G01N27/62
• 代理公司: 上海正旦專利代理有限公司 31200
• 代理人: 陸飛;盛志范

1.一種在離子阱質量分析器中進行的串級質譜分析方法，其特征在于：依次分為離子選擇隔離、碰撞誘導解離和質量掃描分析三個階段；其中：

在所述離子選擇隔離階段，被選擇的母離子被隔離，被隔離的母離子在離子阱工作電壓產生的電場作用下，通過與中性氣體分子的碰撞冷卻被束縛在離子阱中；

在所述碰撞誘導解離階段，改變加載在離子阱電極上的離子激發射頻電壓信號周期的大小，從而改變了離子共振激發射頻電壓的周期，使得具有一定質荷比的離子被具有某一周期或頻率的離子激發射頻電壓共振激發而獲得較高的能量；被共振激發的離子與離子阱中的中性分子發生碰撞并發生解離產生碎片離子，碎片離子在離子阱中經過冷卻后被束縛，以進行后續的質量分析；

在所述質量掃描分析階段，離子阱中的離子在離子阱電極上加載的偶極激發電壓的作用下，發生共振激發，最終從離子引出電極的引出孔或引出槽中被逐出，并被設置在離子阱外的離子探測器檢測而獲得離子的質譜信號。?

2.根據權利要求1所述的串級質譜分析方法，其特征在于：在所述碰撞誘導解離階段，保持數字束縛射頻電壓的電壓幅度和占空比不變，選定數字束縛射頻電壓的周期值，且初始周期與終止周期值不變；再選定某個分頻數n，即選定離子激發射頻電壓與數字束縛射頻電壓兩者之間頻率關系????????????????????????????????????????????????值，n=/2；由于值的關系，離子共振激發射頻電壓的周期值也隨著改變且占空比不變，隨著離子共振激發射頻電壓的變化，離子之間實現共振運動產生碰撞能量。?

3.根據權利要求1所述的串級質譜分析方法，其特征在于：在所述質量掃描分析階段對離子質荷比進行線性掃描。

4.根據權利要求1所述的串級質譜分析方法，其特征在于：在所述碰撞誘導解離階段，所施加的離子激發射頻電壓信號波形是數字方波或者正弦波。

5.根據權利要求2所述的串級質譜分析方法，其特征在于：在所述碰撞誘導解離階段中，增加通入離子阱內的中性冷卻氣體。

6.根據權利要求2所述的串級質譜分析方法，其特征在于：所述碰撞誘導解離階段，數字束縛射頻電壓的頻率和幅度為定值。

7.根據權利要求2所述的串級質譜分析方法，其特征在于：在所述碰撞誘導解離階段，離子激發射頻電壓與數字子束縛射頻電壓頻率比值為任意值。

8.根據權利要求1所述的串級質譜分析方法，其特征在于：所述離子阱為三維離子阱，或者二維線形離子阱。

9.根據權利要求1所述的串級質譜分析方法，其特征在于：所述離子阱為離子阱陣列，或者為場調節離子阱。