[發明專利]發光元件點測機臺

無效

• 申請號: 201310301324.4
• 申請日: 2013-07-18
• 公開（公告）號: CN103411667A
• 公開（公告）日: 2013-11-27
• 發明（設計）人: 高宏達;張敏宏
• 申請（專利權）人: 致茂電子(蘇州)有限公司
• 主分類號: G01J1/04
• 分類號: G01J1/04
• 代理公司: 北京天平專利商標代理有限公司 11239
• 代理人: 孫剛

1.一種發光元件點測機臺，透過施加電性使一發光元件導通發光，進而收集發光元件的光性資料，其特征在于，包括：

一承載平臺，具有一個形成跨設空間的承載位置，該承載位置的跨設空間用于承置至少一發光元件；

一組探針，用于接觸發光元件并提供所需施加的電性，使所接觸的發光元件導通發光；

一第一光性收集裝置，對應設置于該承載平臺上方，用于收集發光元件經該組探針接觸導通后，由形成跨設空間的該承載位置向上方所發出的光；以及

一第二光性收集裝置，對應設置于該承載平臺下方，用于收集發光元件經該組探針接觸導通后，經由形成跨設空間的該承載位置向下方所發出的光。

2.如權利要求1所述的發光元件點測機臺，其特征在于，該承載位置具有多個跨設空間，用以承置兩個以上的發光元件。

3.如權利要求1所述的發光元件點測機臺，其特征在于，更包括有一個形成多個跨設空間、用于承置多個發光元件的承載盤，該承載盤跨設于該承載平臺的該承載位置，由該組探針順序施加電性于該多個發光元件。

4.如權利要求1所述的發光元件點測機臺，其特征在于，該第一光性收集裝置是太陽能電池，借以接收該發光元件經該組探針接觸導通后，由形成該跨設空間的該承載位置向上方所發出的光。

5.如權利要求1所述的發光元件點測機臺，其特征在于，該第二光性收集裝置是太陽能電池，借以接收該發光元件經該組探針接觸導通后，經由形成該跨設空間的該承載位置向下方所發出的光。

6.如權利要求3所述的發光元件點測機臺，其特征在于，所述發光元件的二電極位于同一面時，該組探針為二支探針，提供所需施加的電性，分別接觸該二電極使所接觸的該發光元件導通發光。

7.如權利要求3所述的發光元件點測機臺，其特征在于，所述發光元件的二電極位于同一面時，該組探針為一支探針，該支探針接觸其中一電極，每個發光元件的另一電極透過該承載盤上的一電極共導接機制相互共同導接，使所接觸的該發光元件導通。

8.如權利要求3所述的發光元件點測機臺，其特征在于，所述發光元件的二電極位于不同面時，該組探針為一支探針，該支探針接觸一電極，所述發光元件的另一電極透過該承載盤上的一電極共導接機制相互共同導接，使所接觸的該發光元件導通。

9.一種發光元件點測機臺，透過施加電性使一發光元件導通發光，進而收集發光元件的光性資料，其特征在于，包括：

一承載平臺，具有一個形成跨設空間的承載位置，該承載位置的跨設空間用于承置至少一發光元件；

一組探針，用于接觸發光元件并提供所需施加的電性，使所接觸的發光元件導通發光；

一第一光性收集裝置，對應設置于該承載平臺上方，用于收集發光元件經該組探針接觸導通后，由形成跨設空間的該承載位置向上方所發出的光；以及

一光性反射裝置，對應設置于該承載平臺下方，用于反射發光元件經探針接觸導通后，經由形成跨設空間的承載位置向下方所發出的光，再將所接收到的光向上反射至該第一光性收集裝置。

10.如權利要求9所述的發光元件點測機臺，其特征在于，該承載位置具有多個跨設空間，用以承置兩個以上的發光元件。

11.如權利要求9所述的發光元件點測機臺，其特征在于，更包括有一個形成多個跨設空間、用于承置多個發光元件的承載盤，該承載盤跨設于該承載平臺的該承載位置，由該組探針順序施加電性于該多個發光元件。

12.如權利要求9所述的發光元件點測機臺，其特征在于，該第一光性收集裝置是太陽能電池，借以接收該發光元件經該組探針接觸導通后，由形成該跨設空間的該承載位置向上方所發出的光，以及該光性反射裝置所反射的光。

13.如權利要求11所述的發光元件點測機臺，其特征在于，所述發光元件的二電極位于同一面時，該組探針為二支探針，分別接觸該二電極，提供所需施加的電性，使所接觸的該發光元件導通發光。

14.如權利要求11所述的發光元件點測機臺，其特征在于，所述發光元件的二電極位于同一面時，該組探針為一支探針，該支探針接觸其中一電極，每個發光元件的另一電極透過該承載盤上的一電極共導接機制相互共同導接，使所接觸的該發光元件導通。

15.如權利要求11所述的發光元件點測機臺，其特征在于，所述發光元件的二電極位于不同面時，該組探針為一支探針，該支探針接觸一電極，所述發光元件的另一電極透過該承載盤上的一電極共導接機制相互共同導接，使所接觸的該發光元件導通。