[發(fā)明專利]點陣式熱傳導(dǎo)測溫?zé)o損裂紋檢測法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310293494.2 | 申請日: | 2013-07-12 |
| 公開(公告)號: | CN103383358A | 公開(公告)日: | 2013-11-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 孔令超;張威;田艷紅;王春青;李海龍 | 申請(專利權(quán))人: | 哈爾濱工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
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| 地址: | 150000 黑龍*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 陣式 熱傳導(dǎo) 測溫 無損 裂紋 檢測 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種裂紋檢測方法,尤其涉及一種無損裂紋檢測方法。
背景技術(shù)
機(jī)器零部件中最嚴(yán)重的缺陷是出現(xiàn)裂紋。裂紋產(chǎn)生的原因是多種多樣的,主要有以下幾種:
第一,在制造階段由原材料產(chǎn)生的裂紋;
第二,加工制造階段產(chǎn)生的裂紋;
第三,設(shè)備在使用中發(fā)生的裂紋。
檢查這些裂紋通常使用無損檢測法,可是,要想判斷這些裂紋是有害還是無害都相當(dāng)困難。一旦產(chǎn)生漏判,運行的機(jī)件上產(chǎn)生裂紋的擴(kuò)展就會對生產(chǎn)安全運行造成很大威脅和嚴(yán)重后果。
現(xiàn)有表面檢測裂紋技術(shù)主要有如下幾種方法:?
1、滲透法:
滲透探傷是在金屬表面涂上具有浸透性的某種有色液體,擦拭以后,由于在裂紋中殘留有液體,故能顯示出裂紋。
2、磁粉法:
此法是利用磁粉的細(xì)粒,在進(jìn)入由于裂紋而引起的漏磁場時,就會被吸住留下,由于漏磁場比裂紋寬,故積聚的磁粉用肉眼容易看出。
3、渦流檢測法:
此法是利用渦流裂紋探測器進(jìn)行的。其原理是探測器接觸裂紋時,使探測器線圈的阻抗減弱而取得電壓上的變化,即在儀器刻度盤上顯示出相應(yīng)數(shù)值或發(fā)出報警聲。同樣還能利用渦流法來測量裂紋的深度值。
4、射線探測法:?
在設(shè)備監(jiān)測中,常用易于穿透物質(zhì)的χ、γ射線。當(dāng)射線在穿透物體過程中,由于受到吸收和散射,使強(qiáng)度減弱,其衰減的程度與物體厚度、材料的性質(zhì)及射線的種類有關(guān),因此當(dāng)物體有氣孔等體積缺陷時,射線就容易通過。反之,若混有吸收射線的異物夾雜時,射線就難以通過。用強(qiáng)度均勻的射線照射所檢測的物體,使透過的射線在照像底片上感光,通過對底片的觀察來確定缺陷種類、大小和分布狀況,按照相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)來評價缺陷的危害程度。但此法費用較高。
5、超聲波探傷法:
此法是利用發(fā)射的高頻超聲波(1~10MHz)射入到被檢測物的內(nèi)部,如遇到內(nèi)部缺陷則一部分入射的超聲波在缺陷處被反射或衰減,然后經(jīng)探頭接收后再放大,由顯示的波形來確定缺陷的部位及其大小,再根據(jù)相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)來評定缺陷的危害程度。
上述幾種方法各有優(yōu)缺點,其主要缺點是對淺表微裂紋難以準(zhǔn)確檢測。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有表面檢測裂紋技術(shù)存在對淺表微裂紋難以準(zhǔn)確檢測的缺陷,本發(fā)明提供一種點陣式熱傳導(dǎo)測溫?zé)o損裂紋檢測法。
本發(fā)明的點陣式熱傳導(dǎo)測溫?zé)o損裂紋檢測法步驟如下:
在待測工件上方設(shè)置激光器和紅外熱像儀,將激光束設(shè)定功率照射在待測工件表面0.1-2秒,令工件照射點溫度快速升高,同時用紅外熱像儀實時檢測距離激光光點1-10mm位置處待測工件表面的溫升曲線,檢測其最高值,根據(jù)溫升最高值判斷在激光光點與檢測區(qū)之間是否存在裂紋。
????工作原理如下:
當(dāng)以一定功率的激光光點照射在工件表面時,其光點照射處吸收能量溫度會急劇上升并向四周和下方傳導(dǎo),由于在均勻材質(zhì)中其熱導(dǎo)率是一致的,當(dāng)激光加熱時間也一致時,在激光照射點附近其溫升必然也一個定量,其檢測原理參見圖1。
當(dāng)在激光光點照射處有一裂紋時,熱傳導(dǎo)路徑被部分或全部截斷,處于裂紋的另一側(cè)其溫升必然低于無裂紋處,其溫升大小與裂紋深淺也有一對應(yīng)關(guān)系,其檢測原理參見圖2。
本方法具有以下優(yōu)點:
1、x光一般檢測氣孔、夾渣等,裂紋難檢測,非金屬不適用;超聲需借助介質(zhì),即將工件浸入水或油中,給檢測帶來不便,且檢測結(jié)果不直觀,非專業(yè)人員無法操作;渦流法首先對非金屬不適用,其次對非鐵磁性材料也無能為力。而本方法應(yīng)用面廣闊,金屬、非金屬、復(fù)合材料等皆適用,只需調(diào)整相應(yīng)的激光和測量參數(shù)。
2、現(xiàn)有檢測法皆對微裂紋檢測困難,定性已難,定量更難。而本檢測方法不僅對工件上的淺表微裂紋有較高的檢出率,更可描繪出其位置、形狀、深淺等三維信息。
3、本檢測方法簡便直觀,無損,檢測過程無需中間介質(zhì),對工件無不良影響,檢測結(jié)果直觀準(zhǔn)確。
附圖說明
圖1為無缺陷位置檢測原理示意圖;
圖2為有裂紋位置檢測原理示意圖;
圖3為溫升曲線圖,其中:T0為室溫,T1為正常溫升曲線,T2為有裂紋溫升曲線;
圖4為工件裂紋檢測過程示意圖;
圖5為實際有裂紋工件圖;
圖6為根據(jù)檢測結(jié)果繪制的工件圖。
具體實施方式
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





