[發明專利]復式多量子阱發光層結構的生長方法及LED 外延結構有效
| 申請號: | 201310293483.4 | 申請日: | 2013-07-12 |
| 公開(公告)號: | CN103346219A | 公開(公告)日: | 2013-10-09 |
| 發明(設計)人: | 張宇 | 申請(專利權)人: | 湘能華磊光電股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00;H01L33/06 |
| 代理公司: | 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372 | 代理人: | 吳大建;鄭雋 |
| 地址: | 423038 湖*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 復式 多量 發光 結構 生長 方法 led 外延 | ||
1.一種復式多量子阱發光層結構的生長方法,其特征在于,包括以下幾個步驟:
A、將溫度控制在710-750℃,反應室壓力控制在300-400mbar,通入In的流量為1500-1700sccm,生長摻雜In的2.7-3.5nm的InxGa(1-x)N阱層,x=0.20-0.22;
B、保持溫度和壓力不變,通入In的流量為300-450sccm,生長摻雜In的0.5-1.0nm的InzGa(1-z)N阱層,z=0.04-0.08,
C、保持壓力不變,升溫至810-840℃,通入Al的流量為30-50sccm,通入In的流量為800-1000sccm,生長4-6nm的摻雜Al、In的Alx1Inx2Ga(1-x1-x2)N磊層,x1=0.04-0.05,x2=0.10-0.12;
D、重復步驟A、B;
E、保持壓力不變,升溫至810-840℃生長10-12nm的GaN磊層;
F、重復步驟A、B、C、D、E6-8次,直至阱發光層的總體厚度達到162-216nm。
2.根據權利要求1所述的一種復式多量子阱發光層結構的生長方法,其特征在于,所述步驟A之前包括步驟:
S1、1000-1100℃的氫氣氣氛下,反應室壓力為150-200mbar,處理藍寶石襯底4-5分鐘;
S2、降溫至540-570℃,反應室壓力控制在450-600mbar,在藍寶石襯底上生長厚度為30-50nm的低溫緩沖層GaN;
S3、升高溫度到950-1050℃,反應室壓力控制在450-600mbar,持續生長2.5-3.0um的不摻雜GaN;
S4、保持溫度不變,反應室壓力控制在200-400mbar,接著持續生長3.5-4.5μm摻雜Si的N型GaN,Si的摻雜濃度控制在8E+18-1E19atom/cm3。
3.根據權利要求1所述的一種復式多量子阱發光層結構的生長方法,其特征在于,所述步驟F之后包括步驟:
D1、升高溫度到900-950℃,反應室壓力控制在150-300mbar,持續生長30-40nm摻Al、In的P型InyAl(1-y)GaN層,y=0.08-0.12;
D2、升高溫度到1000-1100℃,反應室壓力控制在200-600mbar,持續生長60-90nm摻Mg的P型GaN層,Mg的摻雜濃度控制在3E+18-4E18atom/cm3;
D3、降溫至650-700℃,保溫20-30min后,爐內冷卻。
4.一種LED外延結構,其特征在于,所述LED外延結構的阱發光層包括6-8個單元層,每一單元層從下至上依次包括:
第一阱層,所述第一阱層為摻雜2.7-3.5nmIn的InxGa(1-x)N阱層,x=0.20-0.22;
第二阱層,所述第二阱層為摻雜0.5-1.0nmIn的InzGa(1-z)N阱層,z=0.04-0.08;
第一磊層,所述第一磊層為摻雜4-6nm的Al、In的Alx1Inx2Ga(1-x1-x2)N磊層,x1=0.04-0.05,x2=0.10-0.12;
第一阱層,所述第一阱層為摻雜2.7-3.5nmIn的InxGa(1-x)N阱層,x=0.20-0.22;
第二阱層,所述第二阱層為摻雜0.5-1.0nmIn的InzGa(1-z)N阱層,z=0.04-0.08;
第二磊層,所述第二磊層為10-12nm的GaN磊層。
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