[發明專利]通用毀傷參數存儲測試系統

無效

• 申請號: 201310291648.4
• 申請日: 2013-07-11
• 公開（公告）號: CN103344669A
• 公開（公告）日: 2013-10-09
• 發明（設計）人: 尤文斌;丁永紅;馬鐵華;許其容;祖靜;裴東興;范錦彪;靳鴻;張晉業
• 申請（專利權）人: 中北大學
• 主分類號: G01N25/54
• 分類號: G01N25/54;G08C17/02
• 代理公司: 太原市科瑞達專利代理有限公司 14101
• 代理人: 李富元

技術領域

本發明公開的通用毀傷參數存儲測試系統屬于爆炸場毀傷參數測試技術領域，具體涉及的是一種通用的爆炸場毀傷參數存儲測試系統，按這種方法設計的存儲測試系統可廣泛應用于爆炸場多參數多點測試。

背景技術

現有廣泛應用的毀傷參數存儲測試系統有引線電測法和存儲測試法兩種。

引線電測法是將壓力傳感器置于爆炸測試現場，信號記錄儀及計算機等設備置于遠離現場的掩體內，爆炸沖擊波作用于壓力傳感器產生的電信號通過電纜傳輸到測試儀器上，經適配器轉換放大后由瞬態記錄儀進行數據采集和存儲記錄，最后由計算機對測試數據進行分析處理和再現。采用這種系統存在的不足是：①由于電纜會在爆炸過程產生中的強電磁場干擾信號干擾傳感器輸出信號，嚴重時電纜在爆炸過程中損壞以致不能記錄完整的爆炸過程數據。②現場布設不方便。沖擊波破壞性大，尤其是大當量航彈、云霧彈等靜爆沖擊波超高壓，且有碎片，傳輸電纜及其接插件常常遭到破壞，因此，現場固定和保護要求高，造成布設非常不方便。

存儲測試法是把傳感器、適配電路、模擬/數字轉換器、存儲器、控制電路、接口電路以及電源等集合在一起，組成一個微型化存儲測試系統。該方法存在不足是：①無法實時監測系統狀態。單存儲測試系統無外接電纜又存在無法準確掌握各個測點信號的強度，存儲電路觸發量程不易設置，多個裝置無法具有統一測試信號的作用時間零點信息。②不能第一時間獲取測試數據。在試驗結束后需要回收記錄裝置讀取數據。回收過程可能存在耗時長、回收困難等風險。??

因此，如何既保證獲取爆炸過程中爆炸參數的完整性和準確性信息，又能保證多個存儲測試裝置具有統一的時間信息，又能集中快速獲取多個存儲測試裝置的信息已經成為一項亟待解決的課題。本發明提供一種新理念的通用爆炸場毀傷參數存儲測試系統,該方法克服了現有傳感器拉線+采集卡模式以及單存儲測試裝置存在的上述種種不足和缺點。

發明內容

本發明通用毀傷參數存儲測試系統的發明目的是：向社會提供這種爆炸場通用毀傷參數存儲測試系統，該存儲測試系統具有統一時間基準和采集數據快速查看的優點，又具有存儲測試記錄信號抗電磁干擾、抗爆炸沖擊的優點，還兼具有引線測試的優點。這將為爆炸場毀傷參數存儲測試提供一種可靠、便捷的測試儀器。

本發明的技術方案是這樣的：這種通用毀傷參數存儲測試系統，包括主控單元和若干個測試探測頭，技術特點在于：所述的通用毀傷參數存儲測試系統的若干個測試探測頭均是集采集、編碼、存儲及數據傳輸于一體的測試裝置,該測試裝置均置于具有強電磁屏蔽功能的金屬殼體內，通過光纖接口與外部通信，其中所述的若干個選擇n個，n選擇為大于2的自然整數,n個測試探測頭可根據測試要求分布到爆炸場各測試位置上進行測試。所述的該存儲測試系統上電后主控單元可對各測試探測頭進行狀態檢測，參數配置，接收各測試探測頭發送的數據，并將其各測試探測頭發送的數據各自獨立存儲到該存儲測試系統對應的非易失存儲器即Flash存儲器中。所述的非易失存儲器即Flash存儲器可在線擦出和改寫，且再編程速度快，具有非易失性，可讀寫的性價比和可靠性高。

根據以上所述的通用毀傷參數存儲測試系統，技術特點還有：a.所述的該存儲測試系統的主控單元包括有控制模塊、非易失存儲器件即Flash存儲器組、無線通信模塊、光纖通信模塊，可根據測試要求分別與多個測試探測頭通過光纖接口或無線接口進行通信與數據傳輸。所述的控制模塊其功能有配置測試探測頭的參數；控制測試探測頭的狀態；選擇無線通信或光纖通信；控制采集數據的存儲等。各測試探測頭通過光纖連接主控單元時每路光纖傳輸的數據各自獨立存儲到對應的非易失存儲器件即Flash器件中。各測試探測頭通過無線接口與主控單元數據傳輸時采用點名模式將數據統一存儲到一個非易失存儲器件即Flash存儲器中。b.所述的多個測試探測頭通過光纖接口來控制各測試探測頭存儲測試電路的各種工作狀態。或測試環境適合無線通信，則各測試探測頭通過短光纖與無線模塊連接進行無線通信。或適合遠距離有線通信，則通過長光纖與主控單元連接。或者各測試探測頭通過預制工作狀態，獨立完成存儲測試，所述的預制工作狀態可通過其軟件編程預制實現。?