[發明專利]測試裝置及其控制方法和測試系統

在審

• 申請號: 201310291085.9
• 申請日: 2013-07-11
• 公開（公告）號: CN103543104A
• 公開（公告）日: 2014-01-29
• 發明（設計）人: 裵秀奉
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17;G01N21/77
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 張波

1.一種測試裝置，用于檢測微流體裝置的檢測對象，所述測試裝置包括：

旋轉驅動單元，配置為旋轉所述微流體裝置；

光發射元件，配置為發射光到所述微流體裝置上；

檢測模塊，設置在面對所述光發射元件的位置，并具有光接收元件，所述光接收元件配置為在所述微流體裝置位于所述檢測模塊與所述光發射元件之間時接收從所述光發射元件發射并透射穿過所述微流體裝置的光；

檢測模塊驅動單元，配置為相對于所述微流體裝置在徑向方向上移動所述檢測模塊；以及

控制器，配置為控制所述旋轉驅動單元和所述檢測模塊驅動單元，使得所述微流體裝置內的檢測對象與所述光接收元件對準。

2.根據權利要求1所述的測試裝置，其中所述光發射元件包括背光單元作為面光源，所述光接收元件包括電荷耦合器件（CCD）圖像傳感器或互補金屬氧化物半導體（CMOS）圖像傳感器。

3.根據權利要求1所述的測試裝置，其中所述控制器配置為控制所述檢測模塊驅動單元以相對于所述微流體裝置在徑向方向上移動所述檢測模塊，以及控制所述旋轉驅動單元以旋轉所述微流體裝置，使得所述光接收元件位于與所述檢測對象對準的位置。

4.根據權利要求1所述的測試裝置，其中所述檢測模塊包括溫度傳感器以測量所述檢測對象的溫度，所述溫度傳感器選自由紅外溫度傳感器、熱敏電阻、電阻溫度檢測器和熱電偶組成的組。

5.根據權利要求1所述的測試裝置，其中所述檢測模塊驅動單元包括進給馬達或步進馬達。

6.根據權利要求1所述的測試裝置，其中所述微流體裝置包括磁體，所述磁體設置在所述微流體裝置的預定半徑處并位于鄰近所述檢測對象的位置，

其中關于所述預定半徑的信息被存儲在所述控制器中。

7.根據權利要求6所述的測試裝置，其中所述檢測模塊包括磁鐵，所述磁鐵配置為施加吸引力到所述磁體，使得當所述檢測對象與所述光接收元件對準時所述微流體裝置停止旋轉。

8.根據權利要求7所述的測試裝置，其中所述控制器配置為控制所述檢測模塊驅動單元以相對于所述微流體裝置在徑向方向上移動所述檢測模塊，以及控制所述旋轉驅動單元以旋轉所述微流體裝置，使得所述檢測模塊的所述磁鐵位于與所述微流體裝置的所述磁體對準的位置。

9.一種測試裝置的控制方法，所述測試裝置包括：旋轉驅動單元，配置為旋轉微流體裝置；光發射元件，配置為發射光到所述微流體裝置；檢測模塊，布置在面對所述光發射元件的位置而使得所述微流體裝置位于所述檢測模塊與所述光發射元件之間，并提供有光接收元件，所述光接收元件配置為接收從所述光發射元件發射并透射穿過所述微流體裝置的光；以及檢測模塊驅動單元，配置為相對于所述微流體裝置在徑向方向上移動所述檢測模塊，所述控制方法包括：

通過控制所述檢測模塊驅動單元，相對于所述微流體裝置在徑向方向上移動所述檢測模塊，使得所述光接收元件位于所述微流體裝置的檢測對象所在的半徑處；

之后，通過控制所述旋轉驅動單元，旋轉所述微流體裝置，使得所述檢測對象位于與所述光接收元件對準的位置；以及

之后，通過控制所述光發射元件，發射光到所述檢測對象上，使得所述光接收元件檢測透射穿過所述檢測對象的光。

10.根據權利要求9所述的方法，其中：

所述微流體裝置包括磁體，所述磁體設置在所述微流體裝置的預定半徑處并且在鄰近所述檢測對象的位置，以及

所述檢測模塊包括磁鐵，所述磁鐵配置為施加吸引力到所述磁體，使得當所述檢測對象與所述光接收元件對準時所述微流體裝置停止旋轉。

11.根據權利要求10所述的方法，其中所述移動包括：控制所述檢測模塊驅動單元以相對于所述微流體裝置在徑向方向上移動所述檢測模塊，使得所述檢測模塊的所述磁鐵位于所述微流體裝置的所述磁體所在的半徑處。

12.根據權利要求10所述的方法，其中所述旋轉包括：控制所述旋轉驅動單元以旋轉所述微流體裝置，使得所述微流體裝置的所述磁體位于與所述檢測模塊的所述磁鐵對準的位置。