[發(fā)明專利]可調(diào)節(jié)激光氣體遙測儀及其焦平面調(diào)整方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310291027.6 | 申請日: | 2013-07-12 |
| 公開(公告)號: | CN103398945A | 公開(公告)日: | 2013-11-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王書潛;郭東歌;張小水;李志剛;陳海永;賈林濤 | 申請(專利權(quán))人: | 河南漢威電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01 |
| 代理公司: | 鄭州紅元帥專利代理事務(wù)所(普通合伙) 41117 | 代理人: | 黃軍委 |
| 地址: | 450001 河南省*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 調(diào)節(jié) 激光 氣體 遙測 及其 平面 調(diào)整 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及激光氣體測量裝置,具體的說,涉及了一種可調(diào)節(jié)激光氣體遙測儀及其焦平面調(diào)整方法。
背景技術(shù)
激光氣體遙測儀在天然氣站和燃?xì)夤芫W(wǎng)等需要檢測燃?xì)庑孤兜牡胤接兄鴱V泛的應(yīng)用需求,常見的激光遙測儀均采用收發(fā)一體的光學(xué)結(jié)構(gòu),遙測儀的激光光源發(fā)出激光束照射在測量目標(biāo)后面的背景反射物上,經(jīng)折射或反射后,遙測儀接收反射光并匯聚到光電探測器上,對接收的光信號進行分析就得到測量目標(biāo)的氣體信息,現(xiàn)有的激光氣體遙測儀從結(jié)構(gòu)大致分為透射式和反射式,主要包括背景反射物、濾波片、聚光鏡、光電探測器和控制處理系統(tǒng),光電探測器以及濾波片設(shè)置于光線匯聚焦點所在的光軸上,所述聚光鏡一般為菲涅爾透鏡、凹面反射鏡或凸透鏡。在遠(yuǎn)距離測量時,反射光以平行光的方式入射到聚光鏡上,經(jīng)聚光鏡匯聚于其焦點處。但在近距離測量時,反射光以發(fā)散形式入射到聚光鏡上,之后匯聚于其焦點后的一點。如果將光電探測器固定于聚光鏡的焦點處,遠(yuǎn)距離測量時,該光電探測器的光接受面可以接受到最大的光功率,保證遙測儀正常工作,而當(dāng)近距離測量時,該光電探測器的光接收面上只能收到較少部分的光線,使得激光氣體遙測儀的探測靈敏度下降,有時甚至無法進行測量。同理,如果將光電探測器固定在聚光鏡焦點后的一點,那么在近距離測量時,該光電探測器的光接受面可以接受到最大的光功率,保證遙測儀正常工作,而當(dāng)遠(yuǎn)距離測量時,該光電探測器的光接受面只能接收到較少部分的光線,使得激光氣體遙測儀的探測靈敏度下降,有時甚至無法進行測量?,F(xiàn)有技術(shù)一般將光電探測器位置固定于聚光鏡的焦點處。
為了解決以上存在的問題,人們一直在尋求一種理想的技術(shù)解決方案。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的提供一種可調(diào)節(jié)激光氣體遙測儀及其焦平面調(diào)整方法,?從而解決現(xiàn)有的激光氣體遙測儀將探測器位置固定,無法同時滿足遠(yuǎn)、近距離的高靈敏測量的技術(shù)問題。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:一種可調(diào)節(jié)激光氣體遙測儀,包括微處理器單元、電連接所述微處理器單元的信號接收與處理單元、電連接所述信號接收與處理單元的光電探測器、與所述光電探測器配套使用的濾光片、電連接所述微處理器單元的激光光源調(diào)制與發(fā)射單元、電連接所述激光光源調(diào)制與發(fā)射單元的準(zhǔn)直器、聚光鏡以及焦平面調(diào)整機構(gòu),所述焦平面調(diào)整機構(gòu)包括底座、安裝于所述底座上的步進電機、安裝在所述步進電機輸出轉(zhuǎn)軸上的絲杠和安裝架,所述安裝架上設(shè)置有絲杠絲孔,所述絲杠設(shè)置在所述絲杠絲孔內(nèi),所述光電探測器和所述濾波片安裝在所述安裝架上,所述微處理器單元電連接所述步進電機的啟停控制單元。
基上所述,所述安裝架包括導(dǎo)軌、設(shè)置在所述導(dǎo)軌一端的調(diào)節(jié)板和設(shè)置在所述導(dǎo)軌另一端的固定板,所述絲杠絲孔設(shè)置在所述調(diào)節(jié)板上,所述光電探測器和所述濾波片安裝在所述固定板上,所述底座上設(shè)置有導(dǎo)軌導(dǎo)向孔,所述導(dǎo)軌穿設(shè)在所述導(dǎo)軌導(dǎo)向孔內(nèi)。
基上所述,所述安裝架包括導(dǎo)軌、設(shè)置在所述導(dǎo)軌一端的調(diào)節(jié)板和設(shè)置在所述導(dǎo)軌另一端的固定板,所述絲杠絲孔設(shè)置在所述調(diào)節(jié)板上,所述光電探測器和所述濾波片安裝在所述固定板上,所述底座上固定有滑塊,所述滑塊上設(shè)置有導(dǎo)軌導(dǎo)向孔,所述導(dǎo)軌穿設(shè)在所述導(dǎo)軌導(dǎo)向孔內(nèi)。
基上所述,所述安裝架上固定有多頭螺母,所述多頭螺母的螺孔即為所述絲杠絲孔。
一種可調(diào)節(jié)激光氣體遙測儀的焦平面調(diào)整方法,該焦平面調(diào)整方法包括以下步驟:
步驟1、確定當(dāng)前探測距離下的標(biāo)定點:啟動可調(diào)節(jié)激光氣體遙測儀,微處理器單元通過信號接收與處理單元、光電探測器實時獲取透光率;
微處理器單元控制電機帶動光電探測器在可調(diào)范圍內(nèi)運動,將實時獲取的透光率進行判斷并得到最大透光率,確定最大透光率所對應(yīng)的光電探測器位置為標(biāo)定點,并將光電探測器穩(wěn)定在該標(biāo)定點;
所述可調(diào)范圍是指沿絲杠軸向上可供光電探測器行走的最大長度范圍;
步驟2、調(diào)整焦平面:根據(jù)可調(diào)節(jié)激光氣體遙測儀實時獲取的透光率,將n個連續(xù)獲取的透光率求和后平均,得到平均透光率Mi,然后,求差值a,即a=M(i+1)-Mi;
當(dāng)a大于預(yù)設(shè)的透光率最大差值a1時,微處理器單元控制電機帶動光電探測器在可調(diào)范圍內(nèi)運動,將實時獲取的透光率進行判斷并得到最大透光率,確定最大透光率所對應(yīng)的光電探測器位置為最佳位置點;
當(dāng)a小于預(yù)設(shè)的透光率最大差值a1并大于預(yù)設(shè)的透光率最小差值a2時,微處理器單元控制電機帶動光電探測器在微調(diào)范圍內(nèi)運動,將實時獲取的透光率進行判斷并得到最大透光率,確定最大透光率所對應(yīng)的光電探測器位置為最佳位置點;
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 調(diào)節(jié)板風(fēng)量調(diào)節(jié)裝置
- 調(diào)節(jié)腳及調(diào)節(jié)裝置
- 調(diào)節(jié)腳及調(diào)節(jié)裝置
- 配置文件的調(diào)節(jié)方法、調(diào)節(jié)裝置、調(diào)節(jié)系統(tǒng)以及記錄介質(zhì)
- 調(diào)節(jié)裝置、調(diào)節(jié)系統(tǒng)、調(diào)節(jié)方法和調(diào)節(jié)控制裝置
- 調(diào)節(jié)板及調(diào)節(jié)總成
- 調(diào)節(jié)機構(gòu)及調(diào)節(jié)系統(tǒng)
- 調(diào)節(jié)裝置和調(diào)節(jié)系統(tǒng)
- 調(diào)節(jié)裝置和調(diào)節(jié)系統(tǒng)
- 調(diào)節(jié)裝置及其調(diào)節(jié)方法





