[發(fā)明專利]一種快速測(cè)試切換裝置及相應(yīng)的TFT-LCD陣列基板有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310288811.1 | 申請(qǐng)日: | 2013-07-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103345080A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-10-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 呂啟標(biāo) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G02F1/13 | 分類號(hào): | G02F1/13;G02F1/1362;G02F1/1368;G09G3/00;G09G3/36 |
| 代理公司: | 深圳匯智容達(dá)專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44238 | 代理人: | 潘中毅;熊賢卿 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 快速 測(cè)試 切換 裝置 相應(yīng) tft lcd 陣列 | ||
1.一種TFT-LCD陣列基板,包括顯示區(qū)和位于所述顯示區(qū)外圍的外圍區(qū)域,所述顯示區(qū)內(nèi)設(shè)置有連接其內(nèi)部的各TFT單元的柵線和數(shù)據(jù)線,其特征在于,所述外圍區(qū)域內(nèi)設(shè)置有:
多條數(shù)據(jù)測(cè)試線,分別用于向顯示區(qū)中各數(shù)據(jù)線發(fā)送數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào);
多條柵線測(cè)試線,分別用于向顯示區(qū)中各柵線發(fā)送柵線測(cè)試信號(hào);
公共電極線,用于向顯示區(qū)中各TFT單元提供公共電極;
其中,在每一數(shù)據(jù)測(cè)試線及每一柵線測(cè)試線上均設(shè)置有快速測(cè)試切換裝置,所述快速測(cè)試切換裝置用于在外部的切換控制信號(hào)的控制下,控制所述數(shù)據(jù)測(cè)試線及柵線測(cè)試線與所述顯示區(qū)的導(dǎo)通或切斷。
2.如權(quán)利要求1所述的TFT-LCD陣列基板,其特征在于,進(jìn)一步包括:
控制芯片,其與所述快速測(cè)試切換裝置相連,用于向所述快速測(cè)試切換裝置發(fā)送一關(guān)閉控制信號(hào),以使所述快速測(cè)試切換裝置處于關(guān)閉狀態(tài)。
3.如權(quán)利要求2所述的TFT-LCD陣列基板,其特征在于,所述控制芯片述所發(fā)送的關(guān)閉控制信號(hào)為一低電平信號(hào)或地。
4.如權(quán)利要求2所述的TFT-LCD陣列基板,其特征在于,所述快速測(cè)試切換裝置包括:
第一切換TFT,其柵極連接所述控制芯片及一測(cè)試塊,用于接收來(lái)自所述測(cè)試塊切的切換控制信號(hào)或來(lái)自所述控制芯片的關(guān)閉控制信號(hào),其源極連接一數(shù)據(jù)測(cè)試線或柵極測(cè)試線,其漏極連接所述顯示區(qū)的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線或柵線。
5.如權(quán)利要求2所述的TFT-LCD陣列基板,其特征在于,所述快速測(cè)試切換裝置包括:
第一切換TFT,其柵極連接所述控制芯片及一測(cè)試塊,用于接收來(lái)自所述測(cè)試塊的切換控制信號(hào)或來(lái)自所述控制芯片的關(guān)閉控制信號(hào),其源極連接一數(shù)據(jù)測(cè)試線或柵極測(cè)試線;
第二切換TFT,其柵極連接所述第一切換TFT的柵極,其源極連接所述第一切換TFT的漏極,其漏極連接所述顯示區(qū)的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線或柵線。
6.如權(quán)利要求2所述的TFT-LCD陣列基板,其特征在于,所述快速測(cè)試切換裝置包括:
第一切換TFT,其柵極連接所述控制芯片及一測(cè)試塊,用于接收來(lái)自所述測(cè)試塊的切換控制信號(hào)或來(lái)自所述控制芯片的關(guān)閉控制信號(hào),其源極連接一數(shù)據(jù)測(cè)試線或柵極測(cè)試線;
第二切換TFT,其柵極連接所述第一切換TFT的柵極,其源極連接所述第一切換TFT的漏極,
第三切換TFT,其柵極連接所述第二切換TFT的柵極,其源極連接所述第一切換TFT的漏極,其漏極連接所述顯示區(qū)的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線或柵線。
7.如權(quán)利要求4至6任一項(xiàng)所述的TFT-LCD陣列基板,其特征在于,當(dāng)所述第一切換TFT接收到來(lái)自測(cè)試塊的切換控制信號(hào)為第一電平信號(hào)時(shí),則各切換TFT的柵極和漏極導(dǎo)通,向所述顯示區(qū)發(fā)送數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)或/及柵極測(cè)試信號(hào);當(dāng)所述第一切換TFT接收到來(lái)自測(cè)試塊的切換控制信號(hào)為第二電平信號(hào)時(shí),則所述各切換TFT的柵極和漏極截止,停止向所述顯示區(qū)發(fā)送數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)或/及柵極測(cè)試信號(hào);當(dāng)所述第一切換TFT接收到來(lái)自所述控制芯片的關(guān)閉控制信號(hào),則所述各切換TFT的柵極和漏極截止。
8.一種快速測(cè)試切換裝置,設(shè)置于一TFT-LCD陣列基板上,用于切換對(duì)所述TFT-LCD陣列基板的顯示區(qū)進(jìn)行測(cè)試的信號(hào),其特征在于,至少包括:
第一切換TFT,其柵極連接一控制芯片及一測(cè)試塊,用于接收來(lái)自所述測(cè)試塊的切換控制信號(hào)或來(lái)自所述控制芯片的關(guān)閉控制信號(hào),其源極連接一數(shù)據(jù)測(cè)試線或柵極測(cè)試線,其漏極連接所述顯示區(qū)的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線或柵線。
9.如權(quán)利要求8所述的快速測(cè)試切換裝置,其特征在于,進(jìn)一步包括:
設(shè)置于所述第一切換TFT與所述顯示區(qū)之間的第二切換TFT,其柵極連接所述第一切換TFT的柵極,其源極連接所述第一切換TFT的漏極,其漏極連接所述顯示區(qū)的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線或柵線。
10.如權(quán)利要求9所述的快速測(cè)試切換裝置,其特征在于進(jìn)一步包括:
設(shè)置于所述第二切換TFT與所述顯示區(qū)之間的第三切換TFT,其柵極連接所述第二切換TFT的柵極,其源極連接所述第二切換TFT的漏極,其漏極連接所述顯示區(qū)的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線或柵線。
11.如權(quán)利要求8至10任一項(xiàng)所述的快速測(cè)試切換裝置,其特征在于,當(dāng)所述第一切換TFT接收到來(lái)自測(cè)試塊的切換控制信號(hào)為第一電平信號(hào)時(shí),則各切換TFT的柵極和漏極導(dǎo)通,向所述顯示區(qū)發(fā)送數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)或/及柵極測(cè)試信號(hào);當(dāng)所述第一切換TFT接收到來(lái)自測(cè)試塊的切換控制信號(hào)為第二電平信號(hào)時(shí),則所述各切換TFT的柵極和漏極截止,停止向所述顯示區(qū)發(fā)送數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)或/及柵極測(cè)試信號(hào);當(dāng)所述第一切換TFT接收到來(lái)自所述控制芯片的關(guān)閉控制信號(hào),則所述各切換TFT的柵極和漏極截止。
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G02F 用于控制光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過(guò)改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來(lái)修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來(lái)自獨(dú)立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對(duì)強(qiáng)度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的
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