[發明專利]高分辨率立體測繪偵察一體化相機光學系統

有效

• 申請號: 201310287532.3
• 申請日: 2013-07-10
• 公開（公告）號: CN103345062A
• 公開（公告）日: 2013-10-09
• 發明（設計）人: 湯天瑾
• 申請（專利權）人: 北京空間機電研究所
• 主分類號: G02B27/00
• 分類號: G02B27/00;G02B17/08;G02B5/10;G02B1/00;G01C11/02
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 安麗

1.高分辨率立體測繪偵察一體化相機光學系統，其特征在于：包括兩個或三個相同的相機光學系統；所述的相機光學系統包括高分辨率立體偵測之路和激光測距之路；所述的高分辨率立體偵測之路包括主鏡（1）、次鏡（2）、平面反射鏡（3）、三鏡（4）、四鏡（5）、高分辨率立體偵測焦面器件（6）；激光測距支路包括主鏡（1）、主鏡（2）、中繼透鏡組（7）和激光測距支路焦面接收器件（8）；其中主鏡（1）和次鏡（2）同軸，主鏡（1）和次鏡（2）的光軸作為相機光學系統的主光軸；高分辨率立體偵測之路和激光測距之路不共視場，且共用主鏡（1）、次鏡（2）；高分辨率立體偵測支路利用軸外光束，激光測距支路使用軸上光束；來自高分辨率立體偵測支路視場內的光線經過主鏡（1）、次鏡（2）反射之后，透過通光孔到達平面反射鏡（3）；平面反射鏡（3）法線位于相機光學系統子午面內，與主光軸夾角為沿順時針45°；由平面反射鏡（3）反射的高分辨率立體偵測支路光束經三鏡（4）和四鏡（5）到達高分辨率立體偵測支路焦面器件（6）處成像；來自激光測距支路視場內的光束經過主鏡（1）、次鏡（2）反射之后，透過激光測距支路中繼透鏡組（7），匯聚至激光測距支路接收器件（8）處成像；激光測距支路中繼透鏡組（7）的光軸與主光軸重合，三鏡（4）和四鏡（5）光軸在子午面內，與主光軸垂直。

2.根據權利要求1所述的高分辨率立體測繪偵察一體化相機光學系統，其特征在于：所述的相機光學系統入瞳位于主鏡（1）上，主鏡（1）、次鏡（2）的面形均為非球面反射鏡；三鏡（4）和四鏡（5）為非球面反射鏡。

3.根據權利要求1所述的高分辨率立體測繪偵察一體化相機光學系統，其特征在于：所述的主鏡（1）、次鏡（2）的通光口徑為圓對稱面或者非圓對稱面；高分辨率立體偵測支路光束三鏡（4）和四鏡（5）通光口徑為矩形。

4.根據權利要求1所述的高分辨率立體測繪偵察一體化相機光學系統，其特征在于：所述的主鏡（1）、次鏡（2）、平面反射鏡（3）的材料為碳化硅，或微晶玻璃，或熔石英。

5.根據權利要求1所述的高分辨率立體測繪偵察一體化相機光學系統，其特征在于：所述的激光測距支路中繼透鏡組（7）包括一片雙凸正透鏡、一片彎月負透鏡、一片彎月負透鏡、一片平凸正透鏡和一片濾光片；上述激光測距支路中繼透鏡組（7）中的所有透鏡與空氣接觸的表面鍍增透膜；上述激光測距支路中繼透鏡組（7）中的所有透鏡材料為無色光學玻璃，面型為球面，濾光片表面為平面。

6.根據權利要求1所述的高分辨率立體測繪偵察一體化相機光學系統，其特征在于：所述的主鏡（1）、次鏡（2）、平面反射鏡（3）、三鏡（4）和四鏡（5）的反射面鍍有金屬高反射率反射膜。

7.根據權利要求1所述的高分辨率立體測繪偵察一體化相機光學系統，其特征在于：所述的高分辨率立體偵測支路焦面接收器件（6）為線陣CCD或TDICCD探測器接收面。

8.根據權利要求1所述的高分辨率立體測繪偵察一體化相機光學系統，其特征在于：所述的激光測距支路焦面接收器件（8）為大像元尺寸的面陣CCD或TDICCD探測器接收面。