[發明專利]一種擺鏡平臺壽命試驗系統

有效

• 申請號: 201310287525.3
• 申請日: 2013-07-10
• 公開（公告）號: CN103454076A
• 公開（公告）日: 2013-12-18
• 發明（設計）人: 王景宇;姜愛民;戴妍峰
• 申請（專利權）人: 中國科學院國家天文臺
• 主分類號: G01M13/00
• 分類號: G01M13/00
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 陳鵬

1.一種擺鏡平臺壽命試驗系統，其特征在于包括：信號發生器、擺鏡驅動放大器、電容式位移測量儀和控制計算機，信號發生器在控制計算機的控制下產生并輸出與擺鏡平臺實際工作環境一致的周期性的擺鏡驅動信號并送至擺鏡驅動放大器，擺鏡驅動放大器對傳來的擺鏡驅動信號進行放大后輸入擺鏡平臺，驅動擺鏡平臺擺動；電容式位移測量儀周期性的測量擺鏡平臺的位移并送至控制計算機，控制計算機根據信號發生器產生的擺鏡驅動信號和電容式位移測量儀獲取的位移信號，判斷擺鏡平臺是否工作正常，并根據擺鏡平臺是否工作正常確定擺鏡平臺的壽命；控制計算機每次采集時間長度為T的位移數據，T為擺鏡驅動信號的周期，每采集一個完整周期為T的位移數據后，控制計算機即用最新采集的周期為T的位移數據和第一次采集的周期為T的位移數據進行互相關函數計算，互相關函數計算的點數為N，N=T/ΔT，ΔT為電容式位移測量儀的采樣間隔；控制計算機將互相關函數最大值的點所對應的位移差值作為偏移量，并用此偏移量對當前采集的周期為T的位移數據進行逐點循環移位，控制計算機將移位完成后的最新采集的周期為T的位移數據與第一次采集的周期為T的位移數據進行點對點的減法運算，然后求取N個減法結果的平均值，當所述平均值小于等于電容式位移測量儀的測量誤差時，控制計算機判定擺鏡平臺工作正常，當所述平均值大于電容式位移測量儀的測量誤差時，控制計算機判定擺鏡平臺工作異常，此時，控制計算機將已經完成的對擺鏡平臺工作是否正常的判定次數乘以控制計算機的數據采樣周期后作為擺鏡平臺的壽命輸出。