[發(fā)明專(zhuān)利]多通道窄波段波譜反照率測(cè)量裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310285581.3
• 申請(qǐng)日: 2013-07-09
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103344645A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-10-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周紅敏;王錦地;梁順林;屈永華;張開(kāi)
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 北京師范大學(xué)
• 主分類(lèi)號(hào): G01N21/84
• 分類(lèi)號(hào): G01N21/84
• 代理公司: 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11245
• 代理人: 關(guān)暢;王春霞

1.一種多通道窄波段設(shè)置的波譜反照率測(cè)量裝置，其特征在于：所述波譜反照率測(cè)量裝置包括一殼體和分別設(shè)置于所述殼體的頂部和底部上的向上觀測(cè)傳感器和向下觀測(cè)傳感器；

所述向上觀測(cè)傳感器和所述向下觀測(cè)傳感器均包括余弦矯正器、濾光片和探測(cè)器；

所述向上觀測(cè)傳感器中，所述余弦矯正器、所述濾光片和所述探測(cè)器由上至下依次設(shè)置；所述向下觀測(cè)傳感器中，所述余弦矯正器、所述濾光片和所述探測(cè)器由下至上依次設(shè)置。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的波譜反照率測(cè)量裝置，其特征在于：所述余弦矯正器上套設(shè)有外罩；

所述外罩通過(guò)螺絲固定在所述殼體上。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的波譜反照率測(cè)量裝置，其特征在于：所述殼體的上下表面均為圓弧形。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的波譜反照率測(cè)量裝置，其特征在于：所述探測(cè)器為硅敏探測(cè)器或熱電堆探測(cè)器。

5.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的波譜反照率測(cè)量裝置，其特征在于：所述殼體為圓柱體形。

6.根據(jù)權(quán)利要求1-5中任一項(xiàng)所述的波譜反照率測(cè)量裝置，其特征在于：所述殼體的側(cè)壁上設(shè)有水平儀；

所述水平儀為圓柱體形。

7.根據(jù)權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的波譜反照率測(cè)量裝置，其特征在于：所述殼體的側(cè)壁上設(shè)有安裝桿。

8.根據(jù)權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的波譜反照率測(cè)量裝置，其特征在于：所述殼體的側(cè)壁上設(shè)有信號(hào)輸出口。

9.根據(jù)權(quán)利要求1-8中任一項(xiàng)所述的波譜反照率測(cè)量裝置，其特征在于：所述探測(cè)器通過(guò)焊接針腳固定在一平板上；

所述平板固定在所述殼體上。

10.根據(jù)權(quán)利要求1-9中任一項(xiàng)所述的波譜反照率測(cè)量裝置，其特征在于：所述余弦矯正器的材質(zhì)為聚四氟乙烯。