[發明專利]測試RFID電子標簽性能的方法及其裝置

有效

• 申請號: 201310285080.5
• 申請日: 2013-07-08
• 公開（公告）號: CN103487676A
• 公開（公告）日: 2014-01-01
• 發明（設計）人: 趙明
• 申請（專利權）人: 重慶市城投金卡信息產業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京海虹嘉誠知識產權代理有限公司 11129
• 代理人: 謝殿武

1.一種測試RFID電子標簽性能的方法，其特征在于：所述檢測方法包括如下步驟：

a.在測試距離S向電子標簽發射激活信號，并接收電子標簽反饋的應答信號并獲取電子標簽性能的判別數據；

b.將判別數據與預置的用于確定電子標簽性能的參考數據進行比較；

c.根據判別數據與預置數據的比較結果確定電子標簽的性能。

2.根據權利要求1所述測試RFID電子標簽性能的方法，其特征在于：步驟a中，所述判別數據包括在不同距離的應答信號的接收成功率以及應答信號的能量值。

3.根據權利要求2所述測試RFID電子標簽性能的方法，其特征在于：步驟b中，所述參考數據包括在不同距離的應答信號的接收成功率基準參數和應答信號的能量值基準參數。

4.根據權利要求3所述測試RFID電子標簽性能的方法，其特征在于：步驟c中，確定電子標簽的性能包括：

C1.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率高于成功率基準參數，應答信號的能量值高于能量值基準參數，則確定RFID電子標簽的性能為正常；

C2.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率高于成功率基準參數，應答信號的能量值低于能量值基準參數，則確定RFID電子標簽的性能為正常，但應答信號受外界干擾。

C3.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率低于成功率基準參數，應答信號的能量值高于能量值基準參數，則確定RFID電子標簽的性能為正常，但激活信號受外界干擾。

C4.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率低于成功率基準參數，應答信號的能量值低于能量值基準參數，則調整測試點與被測試射頻卡的距離，返回步驟a繼續測試。

5.根據權利要求4所述測試RFID電子標簽性能的方法，其特征在于：步驟C4中進一步包括：當步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率低于成功率基準參數，應答信號的能量值低于能量值基準參數，在調整測試點與被測試電子標簽的距離，返回步驟a繼續測試時對返回步驟a的次數進行累加，當返回步驟a的次數累加到預置值N時，則確定RFID電子標簽的性能為異常或損壞。

6.一種測試RFID電子標簽性能的裝置，其特征在于：包括：

射頻信號收發單元，用于向被測試RFID電子標簽發送激活信號并對RFID電子標簽的應答信號進行接收；

中央處理模塊，用于接收射頻信號收發單元輸出的應答信號并進行接收應答信號的接收成功率及能量值進行計算，并根據計算結果與預置的應答信號的成功率基準參數和能量值基準參數進行比較并輸出比較結果。

7.根據權利要求6所述測試RFID電子標簽性能的裝置，其特征在于：所述中央處理模塊包括：

成功率計算單元，與所述射頻信號收發單元電連接，用于計算接收應答信號的成功率并輸出；

應答信號能量值測量單元，與所述射頻信號收發電源電連接，用于計算應答信號的能量值并輸出；

中央處理器，與所述成功率計算單元和應答信號能量值測試單元電連接并預置有應答信號的成功率基準參數和能量值基準參數，用于接收應答信號的接收成功率和應答信號的能量值并與預置的成功率基準參數和能量值基準參數進行比較，并輸出比較結果。

8.根據權利要求7所述測試RFID電子標簽性能的裝置，其特征在于：所述中央處理模塊還包括與所述中央處理器的電連接的用于對返回步驟a的次數進行計數的計數器，當計數器累加到大于等于預置值N時，累加器清零并向中央處理單元輸出清零信號。

9.根據權利要求8所述測試RFID電子標簽性能的裝置，其特征在于：還包括用于測量當前測試距離S的距離傳感器，所述距離傳感器與所述中央處理器的電連接并向中央處理器輸出距離信號。

10.根據權利要求9所述測試RFID電子標簽性能的裝置，其特征在于：還包括與所述中央處理器電連接的顯示單元，用于對測試RFID電子標簽性能的參數進行顯示。