[發明專利]一種基于分段線性權因子函數的抗差狀態估計方法在審
| 申請號: | 201310283520.3 | 申請日: | 2013-07-08 |
| 公開(公告)號: | CN103336904A | 公開(公告)日: | 2013-10-02 |
| 發明(設計)人: | 劉俊;石飛;姚建國;楊勝春;楊爭林;於益軍;馮樹海;王禮文;李峰;王勇;湯必強;郭曉蕊;徐鵬;潘玲玲 | 申請(專利權)人: | 國家電網公司;中國電力科學研究院 |
| 主分類號: | G06F19/00 | 分類號: | G06F19/00 |
| 代理公司: | 北京安博達知識產權代理有限公司 11271 | 代理人: | 徐國文 |
| 地址: | 100031 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 分段 線性 因子 函數 狀態 估計 方法 | ||
1.一種基于分段線性權因子函數的抗差狀態估計方法,其特征在于,所述方法包括如下步驟:
(1)建立基于權因子函數的抗差狀態估計模型;
(2)選取量測權因子函數方程,確定量測等價權因子;
(3)對可變權因子抗差狀態估計模型求解,得到評估結果并輸出。
2.如權利要求1所述的抗差狀態估計方法,其特征在于,步驟(1)建立基于權因子函數的抗差狀態估計模型的步驟如下:
采用非二次準則M狀態估計方法,其目標函數為:
式中,x為系統狀態變量,即計算節點電壓幅值和相角;hi(x)為i量測的量測函數;zi為i量測的量測值,ri為i量測的殘差,ρ(zi-hi(x))、ρ(ri)是量測殘差凸函數,J(x)為求解的目標函數;
取令
式中,為單調、正半軸非降量測殘差函數,ρ'(ri)為量測殘差凸函數ρ(ri)的導函數,為量測權因子函數;
則式(1)式變為
通過選擇量測權因子函數方程,非二次準則M狀態估計目標函數轉化為加權最小二乘狀態估計目標函數;
因此,由式(3)得到基于權因子函數的抗差狀態估計優化模型為:
目標函數:
式中,c(x)=0為零注入等式約束方程。
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