[發(fā)明專利]一種基于分段線性權(quán)因子函數(shù)的抗差狀態(tài)估計方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310283520.3
• 申請日: 2013-07-08
• 公開（公告）號: CN103336904A
• 公開（公告）日: 2013-10-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉俊;石飛;姚建國;楊勝春;楊爭林;於益軍;馮樹海;王禮文;李峰;王勇;湯必強(qiáng);郭曉蕊;徐鵬;潘玲玲
• 申請（專利權(quán)）人: 國家電網(wǎng)公司;中國電力科學(xué)研究院
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 北京安博達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11271
• 代理人: 徐國文

1.一種基于分段線性權(quán)因子函數(shù)的抗差狀態(tài)估計方法，其特征在于，所述方法包括如下步驟：

（1）建立基于權(quán)因子函數(shù)的抗差狀態(tài)估計模型；

（2）選取量測權(quán)因子函數(shù)方程，確定量測等價權(quán)因子；

（3）對可變權(quán)因子抗差狀態(tài)估計模型求解，得到評估結(jié)果并輸出。

2.如權(quán)利要求1所述的抗差狀態(tài)估計方法，其特征在于，步驟（1）建立基于權(quán)因子函數(shù)的抗差狀態(tài)估計模型的步驟如下：

采用非二次準(zhǔn)則M狀態(tài)估計方法，其目標(biāo)函數(shù)為：

J(x)=Σi=1mρ(zi-hi(x))=Σi=1mρ(ri)---(1)]]>

式中，x為系統(tǒng)狀態(tài)變量，即計算節(jié)點電壓幅值和相角；h_i(x)為i量測的量測函數(shù)；z_i為i量測的量測值，r_i為i量測的殘差，ρ(z_i-h_i(x))、ρ(r_i)是量測殘差凸函數(shù)，J(x)為求解的目標(biāo)函數(shù)；

取令

式中，為單調(diào)、正半軸非降量測殘差函數(shù)，ρ'(r_i)為量測殘差凸函數(shù)ρ(r_i)的導(dǎo)函數(shù)，為量測權(quán)因子函數(shù)；

則式（1）式變?yōu)?/p>

J(x)=Σi=1mwi*(zi-hi(x))2=Σi=1mwi*ri2---(3)]]>

通過選擇量測權(quán)因子函數(shù)方程，非二次準(zhǔn)則M狀態(tài)估計目標(biāo)函數(shù)轉(zhuǎn)化為加權(quán)最小二乘狀態(tài)估計目標(biāo)函數(shù)；

因此，由式（3）得到基于權(quán)因子函數(shù)的抗差狀態(tài)估計優(yōu)化模型為：

目標(biāo)函數(shù)：

minΣxJ(x)=Σi=1mwi*ri2c(x)=0---(4)]]>

式中，c(x)＝0為零注入等式約束方程。