[發明專利]X光定位檢測裝置及定位檢測方法

有效

• 申請號: 201310283111.3
• 申請日: 2013-07-05
• 公開（公告）號: CN103424415A
• 公開（公告）日: 2013-12-04
• 發明（設計）人: 溫亞珍;丁志平;沈天明;陳嘉敏;李維姣;常青青
• 申請（專利權）人: 公安部第三研究所
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04;A61B6/08;A61B6/00
• 代理公司: 上海天翔知識產權代理有限公司 31224
• 代理人: 劉粉寶

技術領域

本發明涉及X光成像技術，具體X光成像系統中X光定位檢測技術。?

背景技術

X射線成像技術不僅在醫學領域而且在其它工業領域也得到了廣泛的應用，如安檢領域、禁毒領域等等。X成像過程是X光束照射在需要成像的物體上，透過的X光或散射的X光被探測器接收，探測器將這些光信號轉換成可見的熒光信號，再經放大處理后轉成圖像信號，輸出在顯示屏上。?

由于X光為不可見光，光束發射方向或發射成像過程中，不能直觀的判斷具體的光斑位置，形狀等。在光斑發射出去到探測器接收的過程中，如果出現了發光點位置不正，光源安裝支架存在加工偏差等情況都可能會導致探測器不能接收到X光信號，或信號較弱等情況因此需要重新查找原因；嚴重時要拆機或調整光源的位置，大大增加了工作量。?

因此需在光源安裝好后，需要及時的對其進行快速檢測，判斷其出光位置是否在探測器能探測到的范圍內，避免因光斑位置不正確引起的圖像質量太差，從而保證整機組裝過程的順利進行，減少不必要的返工。?

由此可見如何對X射線成像系統中X光的精確定位是本領域亟需解決問題。?

發明內容

本發明針對現有X射線成像系統在安裝X光源時，無法對安裝好的X光源進行精確的定位檢測的問題，而提供一種X光定位檢測裝置。該檢測裝置能夠對X光源進行快速精確的檢測，判斷其出光位置是否在探測器能探測到的范圍內。?

作為本發明的第二目的，本發明還提供一種X光定位檢測方法，該方法基于上述X光定位檢測裝置實施，能夠實現對X光快速精確的定位檢測。?

為了達到上述目的，本發明采用如下的技術方案：?

X光定位檢測裝置，所述檢測裝置包括：?

支架，所述支架上設置有與X射線成像系統中探測器上若干探測點相對應的檢測點；?

若干相同的比對片，所述比對片對應設置在支架上的若干檢測點上，并在待檢測X光的照射下分別形成對應的X光圖像；?

探測成像單元，所述探測成像單元將若干比對片所成的X光圖像進行對比顯示。?

在檢測裝置的優選實例中，所述比對片為三個，分別對應探測器中心位置上最高和兩側最低探測點，所述探測成像單元基于空間上三點成面的原理，通過判斷三個比對片所形成的圖像的相對位置，來判斷三個比對片所對應的三個探測點相對于X光源是否在同一平面上，如果在同一平面上說明X光源位置正確不需調整，否則，根據偏移情況調整X光源位置。?

進一步的，所述比對片上刻畫有圖案，并由X、Y兩根坐標軸劃分為四個圖像區域，每個圖像區域內設置有標尺，利用X光照射標尺所形成的不同圖案來判斷X斑的位置是否偏移。?

再進一步的，所述比對片為厚度1mm的不銹鋼片，在鋼片上每個區域刻畫出特殊的長度標尺，五條長短不同的線條，在L1象限內，沿Y軸方向上，每條刻線的長度隨著X值的增加而遞減，刻線起點的位置則隨著X值的增加而遞增；L2象限內的每條刻線的起點位置相同，長度隨著X值的增加在Y軸的負方向逐級變短；在L3象限內，每條刻線的起點位置隨著X值沿負方向上的增加而不同，刻線的長度也逐級變短；在L4象限內，每條刻線的起點位置相同，但刻線的長度隨著X值沿負方向上的增加而逐級變短。?

進一步的，所述探測成像單元由若干影像增強器及顯示屏組成，所述若干影像增強器設置在支架上，并與其上的比對片對應配合，若干影像增強器的輸出端與顯示屏數據相接。?

作為本發明的第二目的，一種X光定位檢測方法，所述檢測方法利用空間上三點成面的原理，完成X光定位檢測。?

在檢測方法的優選實例中，所述檢測方法具體如下：?

首先，利用X光打在探測器中心位置對應的三個檢測點上，并由相同比對片在若干檢測點上形成對應的X圖像；?

接著，通過判斷三個檢測點處由相同比對片所成圖像是否位置相同以及圖像是否對稱來判斷若干檢測點的光是否在同一平面上；?

最后，根據空間上三點成面的原理，判斷X光源位置是否需要調整。?

進一步的，所述三個檢測點分別為探測器中心位置上最高和兩側最低探測點。?

利用本發明提供的方案能夠在X射線成像系統組裝過程中安裝X光源時，及時的發現X光源安裝所存在的問題，并能夠清晰實現X光源安裝所存在的問題，便于及時精確的調整，避免后期的整體返工。?

附圖說明

以下結合附圖和具體實施方式來進一步說明本發明。?

圖1為背散透視箱包檢查儀沿X光短軸方向示意圖；?

圖2為背散透視箱包檢查儀沿X光長軸方向示意圖；?