[發明專利]一種試卷識別方法及裝置

有效

• 申請號: 201310276562.4
• 申請日: 2013-07-03
• 公開（公告）號: CN103400124A
• 公開（公告）日: 2013-11-20
• 發明（設計）人: 姚磊;萬科銳;汪順利
• 申請（專利權）人: 北京鴻合盛視數字媒體技術有限公司
• 主分類號: G06K9/20
• 分類號: G06K9/20;G06K9/54;G06T3/60
• 代理公司: 北京風雅頌專利代理有限公司 11403
• 代理人: 李翔;李弘

技術領域

本發明涉及信息識別技術領域，特別是指一種試卷識別方法及裝置。

背景技術

隨著信息技術的飛速發展，將試卷評閱與信息處理技術結合使得能夠簡便與快速地評閱試卷，將能為評卷人節約大量的時間且不用耗費太多精力，并且也能夠有效縮短評卷時間。但是，現有的試卷識別技術中，經常會出現試卷識別錯誤，如何準確有效地識別試卷從而得出正確的試卷分數，是目前所需解決的首要問題。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提出一種試卷識別方法及裝置，能夠準確有效地對試卷進行識別并得出正確的試卷分數。

基于上述目的本發明提供的試卷識別方法，包括：

獲取試卷圖像；

導入試卷模板；

將所述試卷圖像與試卷模板進行匹配；

提取所述試卷圖像中包含的試卷信息。

在一些實施方式中，所述試卷圖像為彩色試卷圖像，所述獲取試卷圖像的步驟之后還包括：將所述彩色試卷圖像轉換為黑白試卷圖像。

在一些實施方式中，所述試卷圖像為24位位圖格式的彩色試卷圖像，所述獲取試卷圖像的步驟之后還包括：將所述24位位圖格式的彩色試卷圖像壓縮為8位位圖格式。

在一些實施方式中，所述將所述24位位圖格式的彩色試卷圖像壓縮為8位位圖格式的步驟之后還包括：對所述8位位圖格式彩色試卷圖像進行二值化處理，得到黑白試卷圖像。

在一些實施方式中，所述試卷包括考生學號及考生答案兩個填涂區域；將所述黑白試卷圖像與試卷模板進行匹配的步驟之后還包括：根據所述試卷模板將所述黑白試卷圖像分割為考生學號及考生答案兩個區域。

在一些實施方式中，根據所述試卷模板將所述黑白試卷圖像分割為考生學號及考生答案兩個區域的步驟之后還包括：根據所述試卷模板中的考生學號位數對所述考生學號區域進行分割；根據試卷題數對所述考生答案區域進行分割。

在一些實施方式中，根據所述試卷模板中的考生學號位數對所述考生學號區域進行分割及根據試卷題數對所述考生答案區域進行分割的步驟之后還包括：根據所述試卷模板對分割完成的所述考生學號及考生答案兩個區域進行網格化處理，從而細分為每一個考生學號和考生答案的填涂框均分別一一對應一個網格。

在一些實施方式中，所述提取所述黑白試卷圖像中包含的試卷信息的步驟包括：在所述每一個填涂框的圖像上均勻設置若干個測試點，測試每個測試點的灰度值，將測得的所述灰度值取平均值；若所述平均值大于設定閾值，則判定該填涂框為已被填涂，若所述平均值小于設定閾值，則判定該填涂框為未被填涂；根據所述已被填涂的填涂框的所在位置得知考生學號和考生答案。

在一些實施方式中，所述試卷信息包括考生學號及考生答案；所述提取所述黑白試卷圖像中包含的試卷信息的步驟之后還包括：將考生答案與所述試卷模板中的標準答案進行對比并得出考生試卷分數。

在一些實施方式中，所述將所述試卷圖像與試卷模板進行匹配的步驟之后還包括：裁剪所述試卷圖像的邊框以去掉不包含試卷信息的試卷圖像。

在一些實施方式中，所述裁剪所述試卷圖像的邊框以去掉不包含試卷信息的試卷圖像的步驟之后還包括：放縮裁剪后的試卷圖像到預設大小。

在一些實施方式中，所述放縮裁剪后的試卷圖像到預設大小的步驟之后還包括：調節所述試卷圖像的亮度和對比度。

在一些實施方式中，所述獲取試卷圖像的步驟包括：通過攝像頭動態實時采集試卷圖像。

在一些實施方式中，所述將所述試卷圖像與試卷模板進行匹配的步驟包括：

從所述試卷圖像中獲取試卷特征線位置；

對比所述試卷模板試卷特征線和所述試卷圖像試卷特征線；

得到所述試卷圖像的偏轉角；

將所述試卷圖像按所述偏轉角偏轉。

在一些實施方式中，所述試卷特征線設置于試卷左右兩側，為兩列豎直等距排列的黑色矩形圖案；左右兩側黑色矩形圖案一一對齊。

在一些實施方式中，所述導入試卷模板的步驟之后還包括：對環境亮度進行調節。

在一些實施方式中，所述對環境亮度進行調節的步驟之后還包括：判斷環境亮度是否在預設范圍內；若是，則根據所述試卷模板將所述試卷圖像中的考生學號及考生答案兩個填涂區域分割開；若否，則結束試卷識別。

本發明還提供了一種試卷識別裝置，包括：

圖像獲取模塊，用于獲取試卷圖像；

模板導入模塊，用于導入試卷模板；

圖像匹配模塊，用于匹配所述試卷圖像與試卷模板；