[發明專利]基于氧化釩/氧化鋁疊層結構的阻變存儲器及其制備方法有效
| 申請號: | 201310271571.4 | 申請日: | 2013-07-01 |
| 公開(公告)號: | CN103311435A | 公開(公告)日: | 2013-09-18 |
| 發明(設計)人: | 張楷亮;孫闊;王芳;陸濤;孫文翔;王寶林;趙金石;胡曦文;王雨晨 | 申請(專利權)人: | 天津理工大學 |
| 主分類號: | H01L45/00 | 分類號: | H01L45/00;G11C11/56 |
| 代理公司: | 天津佳盟知識產權代理有限公司 12002 | 代理人: | 侯力 |
| 地址: | 300384 天津市西青*** | 國省代碼: | 天津;12 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 氧化 氧化鋁 結構 存儲器 及其 制備 方法 | ||
1.一種基于氧化釩/氧化鋁疊層結構的阻變存儲器,其特征在于:由下電極、阻變層和上電極組成并構成疊層結構,其中阻變層為氧化釩薄膜和氧化鋁薄膜疊層結構,各層的厚度分別為:下電極50-200?nm、氧化釩5-200nm、氧化鋁1-50nm、上電極50-200nm。
2.根據權利要求1所述基于氧化釩/氧化鋁疊層結構的阻變存儲器,其特征在于:所述上下電極材料為導電金屬、金屬合金和導電金屬化合物,其中導電金屬為Al、Ti、Ni、Cu、Ag、W、Au或Pt;金屬合金為Pt/Ti、、Cu/Ti、Cu/Au或Cu/Al且比例任意;導電金屬化合物為TiN、TaN、ITO或AZO。
3.一種如權利要求1所述基于氧化釩/氧化鋁疊層結構的阻變存儲器的制備方法,其特征在于:以硅片為襯底,利用熱氧化的方法首先制備二氧化硅絕緣層,再在二氧化硅絕緣層上利用離子束濺射的方法制備Ti粘附層,然后在Ti粘附層上制備低功耗阻變存儲器,步驟如下:
1)在Ti粘附層上采用磁控濺射工藝或電子束蒸發工藝制備下電極;
2)在下電極上采用直流濺射或射頻濺射法沉積氧化釩薄膜,濺射工藝條件為:本底真空小于10-4?Pa、襯底溫度為18-400℃、工作壓強0.1-2Pa、氧分壓為5-30%、濺射功率為50-250W;
3)在氧化釩薄膜上采用反應磁控濺射或熱氧化金屬鋁薄膜的方法制備氧化鋁薄膜,磁控濺射工藝條件為:以金屬鋁靶為靶材,本底真空小于10-4?Pa、襯底溫度為18-300℃、工作壓強0.1-2Pa、氧分壓為3-10%、濺射功率為50-250W;熱氧化的工藝條件為:采用電子束蒸發1-50nm后的金屬鋁薄膜,然后通過在氧氣氣氛下進行熱氧化獲得氧化鋁,電子束蒸發金屬鋁薄膜,本底真空小于10-4?Pa,采用金屬鋁作為蒸發源,加熱方式為干鍋加熱或電子束加熱,熱氧化的溫度為200-500℃;
4)在氧化鋁薄膜上采用直流磁控濺射工藝或電子束蒸發工藝制備上電極。
4.根據權利要求3所述基于氧化釩/氧化鋁疊層結構的阻變存儲器的制備方法,其特征在于:所述制備下電極、上電極的磁控濺射工藝條件為:以金屬靶為靶材,本底真空小于10-4?Pa、襯底溫度為18-800℃、工作壓強0.1-2Pa、濺射功率為50-250W;電子束蒸發工藝條件為:本底真空小于10-4?Pa,采用低熔點的金屬作為蒸發源,加熱方式為干鍋加熱或電子束加熱。
5.根據權利要求3所述基于氧化釩/氧化鋁疊層結構的阻變存儲器的制備方法,其特征在于:所述制備好上電極的器件通過PECVD的方法生長一層二氧化硅作為保護層,工藝參數為:本底真空小于10-5Pa、工作壓強為0.1-5Pa、射頻功率為50-300W、反應氣體為SiH4?和N2O,SiH4?流量為50-600sccm、N2O流量為20-50sccm。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于天津理工大學,未經天津理工大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310271571.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





