[發(fā)明專利]內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)、老化測試裝置及相應(yīng)的耐力測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310270669.8 | 申請日： | 2013-06-28 |
| 公開（公告）號： | CN103336237B | 公開（公告）日： | 2016-10-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 錢亮 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海華虹宏力半導(dǎo)體制造有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 鄭瑋 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 耐力 測試 系統(tǒng) 老化 裝置 相應(yīng) 方法 | ||
1.一種內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：
一供電端，以接收供電電源；
一接地端，以接收地電壓；
一時鐘端，以接收時鐘信號；以及
一輸出端；
所述內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)通過所述供電端、接地端和時鐘端啟動，并對一芯片進(jìn)行耐力測試，并通過所述輸出端輸出耐力測試結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)，其特征在于，所述耐力測試為：
芯片功能耐力測試，所述芯片功能耐力測試通過一芯片功能耐力測試模塊實(shí)現(xiàn)，并通過所述芯片功能耐力測試的輸出端輸出的芯片功能耐力測試結(jié)果判斷所述芯片是否正常；
擦除耐力測試，所述擦除耐力測試通過一擦除模塊實(shí)現(xiàn)，并通過所述芯片功能耐力測試的輸出端輸出的擦除耐力測試結(jié)果判斷所述芯片是否擦除功能失效；
讀1耐力測試，所述讀1耐力測試通過一讀1模塊實(shí)現(xiàn)，并通過所述芯片功能耐力測試的輸出端輸出的讀1耐力測試結(jié)果判斷所述芯片是否讀1功能失效；
寫0耐力測試，所述寫0耐力測試通過一寫0模塊實(shí)現(xiàn)，并通過所述芯片功能耐力測試的輸出端輸出的寫0耐力測試結(jié)果判斷所述芯片是否寫0功能失效；
讀0耐力測試，所述讀0耐力測試通過一讀0模塊實(shí)現(xiàn)，并通過所述芯片功能耐力測試的輸出端輸出的讀0耐力測試結(jié)果判斷所述芯片是否讀0功能失效。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)所述芯片功能耐力測試結(jié)果表示芯片正常時，所述擦除耐力測試、讀1耐力測試、寫0耐力測試和讀0耐力測試依次循環(huán)進(jìn)行。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括一記錄耐力測試次數(shù)的計(jì)數(shù)器，所述時鐘信號作為所述計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)輸入信號。
5.一種老化測試裝置，其特征在于，包括：
整機(jī)測試板；
至少一組芯片，每組芯片中的每一芯片分別安置在所述整機(jī)測試板上；
內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)，所述內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)分別集成到所述每一芯片中，每一所述內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)包括一供電端、一接地端、一時鐘端以及一輸出端，各所述內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)中的供電端、接地端和時鐘端分別相連接在一起，每一所述內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)通過所述供電端、接地端和時鐘端啟動后對與其對應(yīng)的芯片進(jìn)行耐力測試，并通過所述輸出端輸出耐力測試結(jié)果；
解碼器，每一所述解碼器分別對應(yīng)接收一組所述芯片中的各內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)輸出端輸出的耐力測試結(jié)果，并根據(jù)接收到的耐力測試結(jié)果輸出一組解碼結(jié)果；
終端測試設(shè)備，所述終端測試設(shè)備根據(jù)各所述解碼器輸出的每組解碼結(jié)果，以確定不能實(shí)現(xiàn)耐力測試的芯片。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的老化測試裝置，其特征在于，
當(dāng)在所述整機(jī)測試板上安置一組芯片時，所述一組芯片的數(shù)目為32個，所述解碼器為32線-5線解碼器。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的老化測試裝置，其特征在于，
當(dāng)在所述整機(jī)測試板上安置九組芯片時，所述每組芯片的數(shù)目為32個，所述解碼器為32線-5線解碼器。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的老化測試裝置，其特征在于，
當(dāng)在所述整機(jī)測試板上安置一組芯片時，所述一組芯片的數(shù)目為64個，所述解碼器為64線-6線解碼器。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的老化測試裝置，其特征在于，
當(dāng)在所述整機(jī)測試板上安置八組芯片時，所述每組芯片的數(shù)目為64個，所述解碼器為64線-6線解碼器。
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