[發(fā)明專利]金屬內(nèi)連線結(jié)構(gòu)及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310270035.2 | 申請(qǐng)日: | 2013-06-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104253052B | 公開(公告)日: | 2017-12-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王嘯剛;林詠祥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華邦電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/48 | 分類號(hào): | H01L21/48;H01L23/498 |
| 代理公司: | 隆天知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司72003 | 代理人: | 張然,李昕巍 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 金屬 連線 結(jié)構(gòu) 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是有關(guān)于一種金屬內(nèi)連線結(jié)構(gòu)及其制造方法。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體工藝中,常通過導(dǎo)電插塞來(lái)連接位元線與基底中的摻雜區(qū)。然而,由于用來(lái)形成導(dǎo)電插塞的接觸窗開口(或稱介層窗開口)的尺寸愈來(lái)愈小,而填入于接觸窗開口中的導(dǎo)電層的溝填能力不足,以致在所形成的導(dǎo)電插塞中產(chǎn)生孔隙。雖然,在位元線形成之后,通過氧電漿移除光阻圖案時(shí),會(huì)在作為位元線的鎢金屬層的表面上形成氧化鎢(WOx),而將孔隙覆蓋住。然而,隨著元件不斷地小型化,相鄰的位元線上的氧化鎢容易接觸在一起,而造成短路的現(xiàn)象,因此,在以氧電漿灰化光阻之后,還必須通過清除工藝將位元線上的氧化鎢移除。然而,氧化鎢一旦移除之后,孔隙會(huì)裸露出來(lái),導(dǎo)致留在孔隙中的殘酸慢慢揮發(fā)出來(lái),而與作為位元線的鎢金屬層反應(yīng),進(jìn)而造成剝離(peeling)或腐蝕(corrosion)的問題,此又稱為殘酸除氣(outgassing)現(xiàn)象。殘酸除氣現(xiàn)象造成元件可靠度的問題,影響工藝的良率。因此,亟待一種可以避免殘酸除氣問題的金屬內(nèi)連線結(jié)構(gòu)及其制造方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提出一種金屬內(nèi)連線結(jié)構(gòu)及其制造方法,其可以通過簡(jiǎn)單的步驟避免殘酸除氣現(xiàn)象,以提升元件的可靠度以及工藝的良率。
本發(fā)明提出一種金屬內(nèi)連線結(jié)構(gòu)的制造方法,包括在介電層中形成導(dǎo)電插塞,接著,在介電層與導(dǎo)電插塞上形成導(dǎo)電層,之后,在導(dǎo)電層上覆蓋頂蓋層,其后,圖案化頂蓋層與導(dǎo)電層,以形成圖案化的頂蓋層與圖案化的導(dǎo)電層。
依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所述,上述頂蓋層包括金屬氮化物層、絕緣層或其組合。
依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所述,上述金屬氮化物層包括氮化鎢層、氮化鈦層、氮化鉭層或前述至少二者組合。
依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所述,上述金屬氮化物層的形成方法可為原位沉積(in-situ)法或非原位沉積(ex-situ)法。
依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所述,上述絕緣層包括氮化硅層、氧化硅層或氮氧化硅層。
本發(fā)明還提出一種金屬內(nèi)連線結(jié)構(gòu),包括介電層、導(dǎo)電插塞、圖案化的導(dǎo)電層以及圖案化的頂蓋層。導(dǎo)電插塞位于介電層中。圖案化的導(dǎo)電層位于導(dǎo)電插塞上,并與導(dǎo)電插塞電性連接。圖案化的頂蓋層覆蓋于圖案化的導(dǎo)電層上。
依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所述,上述頂蓋層包括金屬氮化物層、絕緣層或前述至少二者組合。
依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所述,上述金屬氮化物層包括氮化鎢層、氮化鈦層、氮化鉭層或前述至少二者組合。
依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所述,上述絕緣層包括氮化硅層、氧化硅層或氮氧化硅層。
依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所述,上述圖案化的導(dǎo)電層中具有至少一細(xì)縫,上述圖案化的頂蓋層封閉前述至少一細(xì)縫的開口。
本發(fā)明的金屬內(nèi)連線結(jié)構(gòu)及其制造方法,其可以通過簡(jiǎn)單的步驟避免殘酸除氣現(xiàn)象,提升元件的可靠度以及工藝的良率。
為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂,下文特舉實(shí)施例,并配合所附圖式作詳細(xì)說(shuō)明如下。
附圖說(shuō)明
圖1至圖4是依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種金屬內(nèi)連線結(jié)構(gòu)的制造方法的流程剖面圖。
其中,附圖標(biāo)記說(shuō)明如下:
10:基底
12:介電層
14:導(dǎo)電插塞
16:導(dǎo)電層
18:粘著層
20:導(dǎo)電層
20a:圖案化的導(dǎo)電層
22:頂蓋層
22a:圖案化的頂蓋層
24:光阻圖案
30:孔隙
40:細(xì)縫
具體實(shí)施方式
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于華邦電子股份有限公司,未經(jīng)華邦電子股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310270035.2/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)平臺(tái)結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 單元結(jié)構(gòu)、結(jié)構(gòu)部件和夾層結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)扶梯結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)隔墻結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)連接結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)





