[發明專利]一種絕對式光柵尺絕對位置信息的校正及讀取電路有效
| 申請號: | 201310269920.9 | 申請日: | 2013-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN103335671A | 公開(公告)日: | 2013-10-02 |
| 發明(設計)人: | 吳宏圣;喬棟;孫強;劉陽;張立華 | 申請(專利權)人: | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號: | G01D18/00 | 分類號: | G01D18/00 |
| 代理公司: | 長春菁華專利商標代理事務所 22210 | 代理人: | 張偉 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 絕對 光柵尺 位置 信息 校正 讀取 電路 | ||
1.一種絕對式光柵尺絕對位置信息的校正及讀取電路,該電路包括:光電探測器陣列、信號放大電路陣列和采樣保持電路陣列,其特征在于,該電路還包括:信號基準校正電路、信號增益校正電路和校正數據存儲器;光電探測器陣列將具有絕對位置信息的光信號發送到信號放大電路陣列,信號放大電路陣列將信號放大,并將放大的信號發送至采樣保持電路陣列;信號基準校正電路讀取校正數據存儲器中的基準校正數據產生一偏置電壓,同時信號增益校正電路讀取校正數據存儲器的中的增益校正數據,設定增益范圍;信號基準校正電路和信號增益校正電路對采樣保持電路陣列輸出的絕對位置信號進行信號基準校正以及信號增益校正,將信號進一步放大到一定的幅度,提供給后續的A/D使用。
2.如權利要求1所述的一種絕對式光柵尺絕對位置信息的校正及讀取電路,其特征在于,所述信號基準校正電路通過電荷轉移電路和數模轉換電路實現。
3.如權利要求1所述的一種絕對式光柵尺絕對位置信息的校正及讀取電路,其特征在于,所述信號增益校正電路通過電壓放大電路實現。
4.如權利要求1所述的一種絕對式光柵尺絕對位置信息的校正及讀取電路,其特征在于,在讀取絕對位置信息的觸發信號沒有被觸發之前,所述放大的信號不進入采樣保持電路陣列,采樣保持電路陣列處于清零階段;在讀取絕對位置信息的觸發信號被觸發后,采樣保持電路陣列同時對信號放大電路陣列輸出的信號進行采樣保持操作,在每次信號基準校正電路開始工作之前,都要對其內部的電路進行清零,消除殘留電荷對下個探測器單元所存儲的絕對位置信息的影響。
5.如權利要求1所述的一種絕對式光柵尺絕對位置信息的校正及讀取電路,其特征在于,所述信號放大電路陣列為電流鏡。
6.如權利要求1或4所述的一種絕對式光柵尺絕對位置信息的校正及讀取電路,其特征在于,光電探測器陣列、信號放大電路陣列和采樣保持電路陣列中的單元數目相同,且順次對應。
7.如權利要求1所述的一種絕對式光柵尺絕對位置信息的校正及讀取電路,其特征在于,該電路還包括:通訊接口;外部數據通過通訊接口儲存至校正數據存儲器中。
8.如權利要求7所述的一種絕對式光柵尺絕對位置信息的校正及讀取電路,其特征在于,所述通訊接口為I2C電路。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院長春光學精密機械與物理研究所,未經中國科學院長春光學精密機械與物理研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310269920.9/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:公共電極的電壓調節電路及顯示裝置
- 下一篇:提供數據搜索的方法及裝置
- 信息記錄介質、信息記錄方法、信息記錄設備、信息再現方法和信息再現設備
- 信息記錄裝置、信息記錄方法、信息記錄介質、信息復制裝置和信息復制方法
- 信息記錄裝置、信息再現裝置、信息記錄方法、信息再現方法、信息記錄程序、信息再現程序、以及信息記錄介質
- 信息記錄裝置、信息再現裝置、信息記錄方法、信息再現方法、信息記錄程序、信息再現程序、以及信息記錄介質
- 信息記錄設備、信息重放設備、信息記錄方法、信息重放方法、以及信息記錄介質
- 信息存儲介質、信息記錄方法、信息重放方法、信息記錄設備、以及信息重放設備
- 信息存儲介質、信息記錄方法、信息回放方法、信息記錄設備和信息回放設備
- 信息記錄介質、信息記錄方法、信息記錄裝置、信息再現方法和信息再現裝置
- 信息終端,信息終端的信息呈現方法和信息呈現程序
- 信息創建、信息發送方法及信息創建、信息發送裝置





